학술논문 – 부산대학교 도서관

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Nanometer-scale electronic and microstructural properties of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se 2

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Article

Author

Sadewasser, S.; Abou-Ras, D.; Azulay, D.; Baier, R.; Balberg, I.; Cahen, D.; Cohen, S.; Gartsman, K.; Ganesan, K.; Kavalakkatt, J.; Li, W.; Millo, O.; Rissom, Th.; Rosenwaks, Y.; Schock, H.-W.; Schwarzman, A.; Unold, T.

Source

In Thin Solid Films 2011 519(21):7341-7346

Subject

Language

ISSN

0040-6090

Online Access

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