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Fabrication of AFM probe with CuO nanowire formed by stress-induced method
Document Type
Article
Author
Hosoi, A.; Koto, H.; Ju, Y.
Source
In: Microsystem Technologies. (Microsystem Technologies, 11 September 2014, 20(12):2221-2229)
Subject
Language
English
ISSN
09467076

Online Access

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