학술논문
α -event characterization and rejection in point-contact HPGe detectors
Document Type
Article
Author
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Edwins, D.W.; Tedeschi, D.; Bertrand, F.E.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castaño, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Edwards, T.R.; Oli, T.K.; Xu, W.; Blalock, E.; Bos, B.; Busch, M.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gilliss, T.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Hegedus, R.J.; Henning, R.; Aguilar, D.H.; Martin, E.L.; Othman, G.; Rager, J.; Reine, A.L.; Edzards, F.; Mertens, S.; Schönert, S.; Willers, M.; Christofferson, C.D.; Buuck, M.; Cuesta, C.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Chan, Y.-D.; Drobizhev, A.; Myslik, J.; Poon, A.W.P.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Saykı, B.; Stortini, M.J.; Zhu, B.X.; Lopez, A.M.; Giovanetti, G.K.; Martin, R.D.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
Source
In: European Physical Journal C . (European Physical Journal C, March 2022, 82(3))
Subject
Language
English
ISSN
14346052
14346044
14346044