부산대학교 도서관

Conference Paper

Sekimoto, Y.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Hazumi, M.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versille, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'Alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouve, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Ghigna, T.; Thorne, B.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; MacIaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O Sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.

In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)

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