학술논문
Benchmarking LHC background particle simulation with the CMS triple-GEM detector
Document Type
Article
Author
De Lentdecker, G.; Dorney, B.; Irshad, A.; Moureaux, L.; Petre, L.; Starling, E.; Yang, Y.; Roskas, C.; Tytgat, M.; Hadjiiska, R.; Iaydjiev, P.; Misheva, M.; Rashevski, G.; Rodozov, M.; Shopova, M.; Sultanov, G.; Agapitos, A.; Ban, Y.; Levin, A.; Li, Q.; Wang, D.; Wang, K.; You, Z.; Avila, C.; Jaramillo, J.; Ramirez, F.; Ruiz, J.; Vanegas, N.; Abdalla, H.; Abdelalim, A.; AbuZeid, S.; Hakkarainen, T.; Petrow, H.; Tuuva, T.; Hoepfner, K.; Ivone, F.; Keller, H.; Mocellin, G.; Zaleski, S.; Abbas, M.; Mallows, S.; Szillasi, Z.; Teyssier, D.; Babbar, J.; Bansal, S.; Bhatnagar, V.; Chauhan, S.; Kaur, A.; Kaur, H.; Kumar, S.; Luhach, M.; Sahota, A.; Sheokand, T.; Singh, J.; Virdi, A.; Ahmed, A.; Gola, M.; Kumar, A.; Naimuddin, M.; Shah, A.; Sharma, R.; Majumdar, N.; Mukhopadhyay, S.; Rout, P.; Jha, V.; Kumawat, H.; Mishra, D.; Netrakanti, P.; Pant, L.; Abbrescia, M.; Aruta, C.; Colaleo, A.; Dell Olio, D.; De Robertis, G.; Franco, M.; Lacalamita, N.; Licciulli, F.; Loddo, F.; Maggi, M.; Martiradonna, S.; Merlin, J.; Nuzzo, S.; Pellecchia, A.; Ranieri, A.; Simone, F.; Venditti, R.; Verwilligen, P.; Borgonovi, L.; Braibant, S.; Fontanesi, E.; Giacomelli, P.; Benussi, L.; Bianco, S.; Caponero, M.; Passamonti, L.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Raffone, G.; Russo, A.; Saviano, G.; Cassese, F.; Cavallo, N.; De Iorio, A.; Fabozzi, F.; Iorio, A.; Lista, L.; Paolucci, P.; Passeggio, G.; Rossi, B.; Aimè, C.; Braghieri, A.; Calzaferri, S.; Ferraro, A.; Fiorina, D.; Gigli, S.; Ressegotti, M.; Riccardi, C.; Romano, E.; Vitulo, P.; Vai, I.; Yongho, J.; Yu, I.; Kim, J.; Yang, U.; Yoon, I.; Jang, W.; Kang, Y.; Kim, S.; Ko, B.; Lee, J.; Park, I.; Watson, I.; Yang, S.; Maghrbi, Y.; Juodagalvis, A.; Castaneda, A.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Asghar, I.; Hoorani, H.; Muhammad, A.; Muhammad, S.; Wajid, A.; Azhgirey, I.; Kurochkin, I.; Riabchikova, A.; Kailasapathy, B.; Malagalage, K.; Sonnadara, U.; Wickramarathna, D.; Dharmaratna, W.; Liyanage, K.; Perera, N.; Wickramage, N.; Aspell, P.; Bianco, M.; Bozzato, D.; Conde Garcia, A.; Fallavollita, F.; Gancarcik, D.; Gruchala, M.; Oliveira, R.; Sharma, A.; Bouhali, O.; Dalchenko, M.; Dildick, S.; Gilmore, J.; Huang, T.; Juska, E.; Kamon, T.; Kim, H.; Malhotra, S.; Safonov, A.; Band, R.; Erbacher, R.; McLean, C.; Regnery, B.; Gutierrez, A.; Karchin, P.; Sturdy, J.; Hauser, J.; Mccoll, N.; Peck, A.; Saltzberg, D.; Stone, B.; Black, K.; Galloni, C.; Teague, D.; Vetens, W.; Butalla, S.; Hohlmann, M.; Rahmani, M.; Roy, D.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, December 2021, 16(12))
Subject
Language
English
ISSN
17480221