학술논문
Measurement of νμ charged-current inclusive π0 production in the NOvA near detector
Document Type
Article
Author
Dharmapalan, R.; Djurcic, Z.; Goodman, M.C.; Magill, S.; Rafique, A.; Talaga, R.L.; Yu, S.; Acero, M.A.; Singh, V.; Bays, K.; Mualem, L.; Patterson, R.B.; Pershey, D.; Raj, V.; Nosek, T.; Soustruznik, K.; Tas, P.; Aurisano, A.; Dueñas Tonguino, D.; Hewes, V.; Sousa, A.; Wallbank, M.; Edayath, S.; Keloth, R.; Thayyullathil, R.B.; Buchanan, N.; Calvez, S.; Doyle, D.; Johnson, C.; Judah, M.; Lin, S.; Rojas, P.; Bour, P.; Jediny, F.; Kubu, M.; Kus, V.; Smolik, J.; Vokac, P.; Vrba, T.; Flanagan, W.; Choudhary, B.C.; Singh, P.; Adamson, P.; Aliaga, L.; Bernstein, R.; Childress, S.; Derwent, P.F.; Ding, P.; Hatcher, R.; Himmel, A.; Hylen, J.; Kreymer, A.; Miao, T.; Niner, E.; Norman, A.; Norrick, A.; Paley, J.; Plunkett, R.K.; Rameika, R.A.; Rebel, B.; Shanahan, P.; Suter, L.; Tsaris, A.; Wickremasinghe, D.A.; Yonehara, K.; Zwaska, R.; Gomes, R.A.; Bhuyan, B.; Feldman, G.J.; Blair, J.; Koerner, L.W.; Bambah, B.A.; Mohanta, R.; Giri, A.; Baird, M.; Davies, G.S.; Groh, M.; Howard, B.; Lackey, T.; Messier, M.D.; Mufson, S.; Murphy, R.; Musser, J.; Psihas, F.; Smith, E.; Urheim, J.; Vasel, J.; Whittington, D.; Hakl, F.; Agam, G.; Kaplan, D.M.; Nikseresht, G.; Snopok, P.; Torun, Y.; Yu, Y.; Butkevich, A.; Luchuk, S.; Matveev, V.; Zadorozhnyy, S.; Filip, P.; Lokajicek, M.; Zalesak, J.; Back, A.; Catano-Mur, E.; Martinez-Casales, M.; Sanchez, M.C.; Sánchez Falero, S.; Tiras, E.; Warburton, T.K.; Wetstein, M.; Baldi, P.; Bian, J.; Li, L.; Nayak, N.; Seong, I.S.; Potukuchi, B.; Allakhverdian, V.; Anfimov, N.; Antoshkin, A.; Balashov, N.; Kakorin, I.; Klimov, O.; Kolupaeva, L.; Kullenberg, C.; Olshevskiy, A.; Petrova, O.; Samoylov, O.; Sheshukov, A.; Grichine, V.; Kotelnikov, S.; Ryabov, V.; Bromberg, C.; Gandrajula, R.; Habig, A.; Moren, A.; Arrieta-Diaz, E.; Heller, K.; Marshak, M.L.; Miller, W.H.; Mislivec, A.; Pawloski, G.; Strait, M.; Torbunov, D.; Bhatnagar, V.; Kalra, D.; Kumar, A.; Maan, K.; Tripathi, J.; Gao, F.; Naples, D.; Frank, M.J.; Chowdhury, B.; Duyang, H.; Guo, B.; Kuruppu, C.D.; Mishra, S.R.; Petti, R.; Corwin, L.; While, M.; Coan, T.E.; Wojcicki, S.G.; Alion, T.; Asquith, L.; Booth, A.C.; Hartnell, J.; Mayes, B.; Méndez, D.P.; Zhang, Y.; Yallappa Dombara, A.; Hatzikoutelis, A.; Carroll, T.J.; Dung, P.; Huang, J.; Lang, K.; Phan, D.D.; Tapia Oregui, B.; Bashar, S.; Dolce, M.; Gallagher, H.R.; Mann, W.A.; Olson, T.; Wolcott, J.; Bending, S.; Campbell, M.; Cremonesi, L.; Germani, S.; Holin, A.; Mulder, K.; Nichol, R.; Thomas, J.; Dukes, E.C.; Ehrlich, R.; Group, R.; Hall, A.; Principato, C.; Song, E.; Sutton, A.; Altakarli, S.; Meyer, H.; Muether, M.; Solomey, N.; Colo, M.; Nelson, J.K.; Radovic, A.; Vahle, P.; Lister, A.; Phan-Budd, S.
Source
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 June 2023, 107(11))
Subject
Language
English
ISSN
24700029
24700010
24700010