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Improved accuracy and robustness of electron density profiles from JET’s X-mode frequency-modulated continuous-wave reflectometers
Document Type
Article
Author
Morales, R.B.; Appel, L.; Carman, P.; Fessey, J.; Flanagan, J.; Fontana, M.; Giroud, C.; Szepesi, G.; Taylor, D.; Salmi, A.; Abreu, P.; Silva, A.; Amador, C.H.S.; Frassinetti, L.; Hacquin, S.; Sabot, R.; Heuraux, S.; Meneses, L.; Sirinelli, A.; Ronchi, G.; Terranova, D.
Source
In: Review of Scientific Instruments. (Review of Scientific Instruments, April 2024, 95(4))
Subject
Language
English
ISSN
10897623
00346748

Online Access

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