학술논문
Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon
Document Type
Article
Author
Agnes, P.; Franco, D.; Riffard, Q.; Tonazzo, A.; Albuquerque, I.F.M.; Alexander, T.; Asner, D.M.; Back, H.O.; Humble, P.; Loer, B.; Alton, A.K.; Baldin, B.; Biery, K.; Forster, G.; Guardincerri, Y.; Herner, K.; Kendziora, C.L.; Montanari, D.; Pordes, S.; Bocci, V.; Dionisi, C.; Giagu, S.; Rescigno, M.; Verducci, M.; Bonfini, G.; Bossa, M.; Canci, N.; Candela, A.; Carlini, M.; Cavalcante, P.; D'Incecco, M.; Davini, S.; Deo, M.D.; Pietro, G.D.; Gabriele, F.; Goretti, A.M.; Ianni, A.; Korga, G.; Mandarano, A.; Odrowski, S.; Orsini, M.; Razeto, A.; Rossi, N.; Sablone, D.; Savarese, C.; Suvorov, Y.; Tartaglia, R.; Bonivento, W.; Cadeddu, M.; Cadoni, M.; Caravati, M.; Cicalò, C.; Devoto, A.; Lissia, M.; Razeti, M.; Bottino, B.; Marini, L.; Pagani, L.; Pallavicini, M.; Cariello, M.; Musico, P.; Testera, G.; Brigatti, A.; D'Angelo, D.; Galbiati, C.; Lombardi, P.; Parmeggiano, S.; Ranucci, G.; Saggese, P.; Brodsky, J.; Calaprice, F.; Eusanio, F.D.; Giovanetti, G.K.; Hughes, D.; Koh, G.; Li, X.; Meyers, P.D.; Qian, H.; Randle, K.; Rossi, B.; Sands, W.; Shields, E.; Stanford, C.; Wada, M.; Westerdale, S.; Xiang, X.; Xu, J.; Zhu, C.; Budano, F.; Bussino, S.; Vincenzi, M.D.; James, I.; Mari, S.M.; Empl, A.; Hungerford, E.V.; Miller, J.D.; Renshaw, A.L.; Singh, P.N.; Catalanotti, S.; Covone, G.; Fiorillo, G.; Longo, G.; Trinchese, P.; Walker, S.; Cocco, A.G.; Rountree, D.; Vogelaar, B.; Chepurnov, A.; Gromov, M.; Cecco, S.D.; Giganti, C.; Agasson, A.N.; Derbin, A.; Muratova, V.N.; Semenov, D.A.; Unzhakov, E.V.; Edkins, E.; Hackett, B.R.; Maricic, J.; Milincic, R.; Reinhold, B.; Fan, A.; Wang, H.; Wang, Y.; Xiao, X.; Fomenko, K.; Korablev, D.; Smirnov, O.; Sotnikov, A.; Vishneva, A.; Monte, A.; Pocar, A.; Granato, F.; Martoff, C.J.; Napolitano, J.; Tatarowicz, J.; Watson, A.W.; Wilhelmi, J.; Guan, M.; Ma, Y.; Yang, C.; Zhong, W.; Johnson, T.N.; Pantic, E.; Schlitzer, B.; Jollet, C.; Meregaglia, A.; Keeter, K.; Mount, B.J.; Kubankin, A.; Oleinik, A.; Machulin, I.N.; Pugachev, D.A.; Skorokhvatov, M.D.; Ortica, F.; Pelliccia, N.; Romani, A.; Pelczar, K.; Wojcik, M.M.; Zuzel, G.; Segreto, E.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 24 January 2017, 12(1))
Subject
Language
English
ISSN
17480221