학술논문
AugerPrime surface detector electronics
Document Type
Article
Author
Allekotte, I.; Golup, G.; Gómez Berisso, M.; González, J.M.; Goos, I.; Harari, D.; Mollerach, S.; Roulet, E.; Dasso, S.; Sanchez, C.S.C.; Hansen, P.; Mariazzi, A.G.; Sciutto, S.J.; Tueros, M.; Quispe, I.D.V.; Rovero, A.C.; Binet, V.; Micheletti, M.I.; Cerutti, A.C.C.; García, B.; Almela, A.; Andrada, B.; Bismark, K.; Orchera, P.G.B.; Büsken, M.; de Jesús, J.; Deval, L.; Etchegoyen, A.; Figueira, J.M.; Fuster, A.; Gesualdi, F.; Gollan, F.; González, N.; Hampel, M.R.; Covilakam, V.V.K.; Martinelli, S.; Melo, D.; Martins, E.E.P.; Bertolli, C.P.; Platino, M.; Ravignani, D.; Rodriguez, E.; Roncoroni, M.J.; Sánchez, F.; Scornavacche, M.; Silli, G.; Supanitsky, A.D.; Wundheiler, B.; Bonifazi, C.; Nicora, G.; Pallotta, J.; Cerda, M.; Gobbi, F.; Squartini, R.; Travaini, A.; Avila, G.; Gómez Vitale, P.F.; Gongora, J.P.; Rojo, J.R.; Sato, R.; Halim, A.A.; Bellido, J.A.; Clay, R.W.; Dawson, B.R.; Grubb, T.D.; Harvey, V.M.; Manning, B.C.; Tairli, F.; Mariş, I.C.; Zapparrata, O.; Buitink, S.; Huege, T.; Scholten, O.; Lago, B.L.; de Oliveira, J.; Catalani, F.; Peixoto, C.J.T.; de Souza, V.; Oliveira, C.; Armand, J.P.; Santos, E.M.; Arbeletche, L.B.; Chinellato, J.A.; de Oliveira Franco, D.; Dobrigkeit, C.; Fauth, A.C.; Payeras, A.M.; Akim, J.V.R.; Guedes, G.P.; Pereira, L.A.S.; de Oliveira, M.A.L.; dos Anjos, R.C.; de Mello Neto, J.R.T.; de Souza de Errico, B.P.; Watanabe, C.; Ventura, C.; dos Santos, D.C.; de Almeida, R.M.; Tapia, A.; Núñez, L.A.; Gomez, J.D.S.; Vásquez-Ramírez, A.; Nosek, D.; Novotny, V.; Bakalova, A.; Blazek, J.; Boháčová, M.; Chudoba, J.; Denner, N.; Ebr, J.; Hamal, P.; Janecek, P.; Jurysek, J.; Majercakova, M.; Mandat, D.; Negi, S.; Palatka, M.; Panja, S.; Pech, M.; Prouza, M.; Ridky, J.; Santos, E.; Schovánek, P.; Stadelmaier, M.; Svozilikova, Z.; Tobiska, P.; Travnicek, P.; Vicha, J.; Vlastimil, J.; Yushkov, A.; Chytka, L.; Horvath, P.; Hrabovský, M.; Michal, S.; Nožka, L.; Vaclavek, L.; Vacula, M.; Deligny, O.; Ghia, P.L.; Lhenry-Yvon, I.; Marafico, S.; Schimassek, M.; Letessier-Selvon, A.; Berat, C.; Bleve, C.; Lagorio, E.; Montanet, F.; Stassi, P.; Torrès, Z.; Biteau, J.; Condorelli, A.; Trung, T.N.; Suomijärvi, T.; Becker, K.H.; Gaudu, C.; Kampert, K.H.; Mayotte, E.; Meinert, J.; Morejon, L.; Namasaka, W.M.; Paulsen, T.; Pawlowsky, J.; Querchfeld, S.; Rautenberg, J.; Schimp, M.; Sehgal, S.; Wittkowski, D.; Yue, B.; Engel, R.; Hahn, S.; Knapp, F.; Lenok, V.; Luce, Q.; Reininghaus, M.; Strähnz, S.; Feldbusch, F.; Gemmeke, H.; Kleifges, M.; Kunka, N.; Menshikov, A.; Simon, F.; Blümer, J.; Daumiller, K.; Ellwanger, F.; Fenu, F.; Fitoussi, T.; Haungs, A.; Keilhauer, B.; Klages, H.O.; Mathes, H.J.; Merx, C.; Pierog, T.; Roth, M.; Schäfer, C.M.; Schieler, H.; Schmidt, D.; Schröder, F.G.; Schulz, T.; Tkachenko, O.; Unger, M.; Veberič, D.; Weindl, A.; Ferreira, P.R.A.; Briechle, F.L.; Erdmann, M.; Glombitza, J.; Hebbeker, T.; Langner, N.; Schulte, J.; Straub, M.; Rossoni, S.; Sigl, G.; Cristinziani, M.; Guido, E.; Niechciol, M.; Risse, M.; Ruehl, P.; Aloisio, R.; Barbato, F.; Cermenati, A.; De Mitri, I.; Evoli, C.; Petrera, S.; Avocone, E.; Boncioli, D.; Convenga, F.; Petrucci, C.; Rizi, V.; Salamida, F.; Trimarelli, C.; Buscemi, M.; Caruso, R.; Del Popolo, A.; Insolia, A.; Marsella, G.; Shahvar, M.P.; Segreto, A.; Assiro, R.; Cataldi, G.; Coluccia, M.R.; Conte, M.; de Palma, F.; De Vito, E.; Epicoco, I.; Giaccari, U.; Martello, D.; Nucita, A.; Perrone, L.; Scherini, V.; Caccianiga, L.; Consolati, G.; Galelli, C.; Mariani, F.M.; Miramonti, L.; Aramo, C.; Colalillo, R.; Guarino, F.; Valore, L.; Matthiae, G.; Salina, G.; Verzi, V.; Aglietta, M.; Anastasi, G.A.; Arnone, E.; Bertaina, M.E.; Bianciotto, M.; Castellina, A.; di Matteo, A.; Gorgi, A.; Morello, C.; Mussa, R.; Taricco, C.; Bravo, O.M.; Salazar, H.; Varela, E.; Pelayo, R.; Caballero-Mora, K.S.; Velázquez, J.C.A.; D’Olivo, J.C.; Medina-Tanco, G.; Nellen, L.; Galicia, J.F.V.; Cheminant, K.A.; Bhatta, G.; Borodai, N.; Góra, D.; Pe¸kala, J.; Stasielak, J.; Wilczyński, H.; Szadkowski, Z.; Abreu, P.; Andringa, S.; Assis, P.; Conceição, R.; Costa, P.J.; Domingues Mendes, L.M.; Fernandes, A.; Lopes, L.; Pimenta, M.; Sarmento, R.; Tomé, B.; Dobre, M.; Gherghel-Lascu, A.; Saftoiu, A.; Sima, O.; Smau, R.; Isar, P.G.; Badescu, A.M.; Anukriti; Filipčič, A.; Lundquist, J.P.; Shivashankara, S.U.; Stanič, S.; Vorobiov, S.; Zavrtanik, D.; Zavrtanik, M.; Bueno, A.; Alvarez-Muñiz, J.; Yebra, J.A.; Cabana-Freire, S.; Cazon, L.; Gottowik, M.; Lema-Capeans, Y.; Martins, M.A.; Parente, G.; Riehn, F.; Zas, E.; Bister, T.; Bwembya, A.; de Jong, S.J.; Emam, M.; Falcke, H.; Fodran, T.; Galea, C.; Hörandel, J.R.; Khakurdikar, A.; Mulrey, K.; Pont, B.; Pothast, M.; de Carvalho, W.R.; Saharan, M.; Schoorlemmer, H.; Timmermans, C.; Vink, J.; Covault, C.E.; Mocellin, A.B.; Johnsen, J.A.; Mayotte, S.; Sarazin, F.; Wiencke, L.; Anchordoqui, L.; Soriano, J.F.; Fick, B.; Nguyen, K.; Nitz, D.; Puyleart, A.; Farrar, G.; Farmer, J.; Fujii, T.; Privitera, P.; Šmída, R.; Coleman, A.; Flaggs, B.; Lu, L.; Savina, P.; dos Anjos, J.C.; Matthews, J.; Watson, A.A.; Fazzini, N.; Hojvat, C.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Biermann, P.L.; Brack, J.; Sommers, P.; Allison, P.; Beatty, J.J.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 October 2023, 18(10))
Subject
Language
English
ISSN
17480221