학술논문
Cosmic ray spectrum from 250 TeV to 10 PeV using IceTop COSMIC RAY SPECTRUM from 250 TEV to 10 PEV USING ... AARTSEN M. G. et al.
Document Type
Article
Author
Auffenberg, J.; Böttcher, J.; Buscher, J.; Dharani, S.; Ganster, E.; Günder, M.; Haack, C.; Halve, L.; Hauser, S.; Heix, P.; Jonske, F.; Joppe, R.; Kellermann, M.; Mallik, P.; Merz, J.; Muth, P.; Philippen, S.; Popovych, Y.; Reimann, R.; Rongen, M.; Scharf, M.; Schaufel, M.; Schumacher, L.; Shefali, S.; Stettner, J.; Stürwald, T.; Wallraff, M.; Wiebusch, C.H.; Zöcklein, M.; Hill, G.C.; Kyriacou, A.; Wallace, A.; Whelan, B.J.; Rawlins, K.; Jones, B.J.P.; Parker, G.K.; Smithers, B.; Watson, T.B.; Japaridze, G.S.; Chen, C.; Dave, P.; Taboada, I.; Tung, C.F.; Fazely, A.R.; Ter-Antonyan, S.; Xu, X.W.; Bay, R.; Binder, G.; Filimonov, K.; Klein, S.R.; Lyu, Y.; Price, P.B.; Robertson, S.; Woschnagg, K.; Gerhardt, L.; Goldschmidt, A.; Nygren, D.R.; Przybylski, G.T.; Stezelberger, T.; Stokstad, R.G.; De With, M.; Hebecker, D.; Kolanoski, H.; Kowalski, M.; Becker Tjus, J.; Gündüz, M.; Tenholt, F.; Tomankova, L.; Wulff, J.; Aguilar, J.A.; Ansseau, I.; Baur, S.; Heereman, D.; Iovine, N.; Mariş, I.C.; Meures, T.; Mockler, D.; O'Murchadha, A.; Pinat, E.; Raab, C.; Renzi, G.; Toscano, S.; Coppin, P.; Correa, P.; De Clercq, C.; De Vries, K.D.; De Wasseige, G.; Lünemann, J.; Maggi, G.; Van Eijndhoven, N.; Argüelles, C.; Axani, S.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Moulai, M.; Vannerom, D.; Hill, C.; Ishihara, A.; Lu, L.; Mase, K.; Meier, M.; Nagai, R.; Yoshida, S.; Abbasi, R.; Aartsen, M.G.; Adams, J.; Bagherpour, H.; Raissi, A.; Berley, D.; Blaufuss, E.; Cheung, E.; Felde, J.; Friedman, E.; Hellauer, R.; Hoffman, K.D.; Larson, M.J.; Maunu, R.; Olivas, A.; Schmidt, T.; Song, M.; Sullivan, G.W.; Beatty, J.J.; Medina, A.; Stamatikos, M.; Ahlers, M.; Bourbeau, E.; Koskinen, D.J.; Medici, M.; Rameez, M.; Stuttard, T.; Hoinka, T.; Hünnefeld, M.; Pieloth, D.; Rhode, W.; Ruhe, T.; Sandrock, A.; Schlunder, P.; Soedingrekso, J.; Clark, B.A.; Deyoung, T.; Grant, D.; Halliday, R.; Kopper, C.; Mahn, K.B.M.; Micallef, J.; Neer, G.; Nguyá n, L.V.; Nisa, M.U.; Nowicki, S.C.; Rysewyk Cantu, D.; Sanchez Herrera, S.E.; Tollefson, K.; Hignight, J.; Kulacz, N.; Moore, R.W.; Sarkar, S.; Weaver, C.; Wood, T.R.; Yanez, J.P.; Anton, G.; Glüsenkamp, T.; Katz, U.; Kittler, T.; Schneider, J.; Tselengidou, M.; Wrede, G.; Eller, P.; Glauch, T.; Henningsen, F.; Huber, M.; Karl, M.; Krings, K.; Meighen-Berger, S.; Niederhausen, H.; Rea, I.C.; Resconi, E.; Turcati, A.; Wolf, M.; Alispach, C.; Barbano, A.; Bron, S.; Carver, T.; Lucarelli, F.; Montaruli, T.; De Ridder, S.; Porcelli, A.; Ryckbosch, D.; Van Driessche, W.; Verpoest, S.; Vraeghe, M.; Barwick, S.W.; Yodh, G.; Balagopal V., A.; Dujmovic, H.; Engel, R.; Haungs, A.; Huber, T.; Kang, D.; Koundal, P.; Leszczyńska, A.; Oehler, M.; Renschler, M.; Schieler, H.; Schröder, F.G.; Turcotte, R.; Weindl, A.; Besson, D.Z.; Clark, K.; Ludwig, A.; Whitehorn, N.; McNally, F.; Gallagher, J.; Bourbeau, J.; Braun, J.; Chirkin, D.; Desiati, P.; Diáz-Vélez, J.C.; Eberhardt, B.; Fahey, S.; Ghorbani, K.; Griffith, Z.; Halzen, F.; Hanson, K.; Hokanson-Fasig, B.; Hoshina, K.; Hussain, R.; Jero, K.; Karle, A.; Kauer, M.; Kelley, J.L.; Lazar, J.P.; Leonard, K.; Liu, Q.R.; Luszczak, W.; Mallot, K.; Mancina, S.; Meagher, K.; Merino, G.; Morse, R.; Park, N.; Pizzuto, A.; Safa, I.; Schneider, A.; Silva, M.; Snihur, R.; Tosi, D.; Ty, B.; Vandenbroucke, J.; Van Eijk, D.; Wandkowsky, N.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Wille, L.; Wood, J.; Xu, D.L.; Yuan, T.; Baum, V.; Böser, S.; Ehrhardt, T.; Fritz, A.; Kappesser, D.; Köpke, L.; Krückl, G.; Lohfink, E.; Momenté, G.; Peiffer, P.; Sandroos, J.; Steuer, A.; Weldert, J.; Wiebe, K.; Andeen, K.; Plum, M.; Busse, R.S.; Classen, L.; Kappes, A.; Lozano Mariscal, C.J.; Unland Elorrieta, M.A.; Amin, N.M.; Coleman, A.; Dembinski, H.; Evenson, P.A.; Gaisser, T.K.; Gonzalez, J.G.; Koirala, R.; Pandya, H.; Paudel, E.N.; Rehman, A.; Seckel, D.; Soldin, D.; Stanev, T.; Tilav, S.; Maruyama, R.; Kurahashi, N.; Relethford, B.; Richman, M.; Sclafani, S.; Wills, L.; Bai, X.; Dvorak, E.; Madsen, J.; Seunarine, S.; Spiczak, G.M.; Benzvi, S.; Cross, R.; Griswold, S.; Ahrens, M.; Bohm, C.; Deoskar, K.; Finley, C.; Hultqvist, K.; Jansson, M.; O'Sullivan, E.; Walck, C.; Kiryluk, J.; Xu, Y.; Zhang, Z.; Choi, S.; In, S.; Jeong, M.; Kang, W.; Kim, J.; Rott, C.; Tönnis, C.; Kopper, S.; Santander, M.; Williams, D.R.; Cowen, D.F.; Fox, D.; Anderson, T.; Delaunay, J.J.; Fienberg, A.T.; Grégoire, T.; Kheirandish, A.; Lanfranchi, J.L.; Li, Y.; Pankova, D.V.; Turley, C.F.; Botner, O.; Burgman, A.; Hallgren, A.; Pérez De Los Heros, C.; Unger, E.; Becker, K.-H.; Bindig, D.; Helbing, K.; Hickford, S.; Hoffmann, R.; Lauber, F.; Naumann, U.; Obertacke Pollmann, A.; Pieper, S.; Ackermann, M.; Bastian, B.; Bernardini, E.; Blot, S.; Bradascio, F.; Brostean-Kaiser, J.; Franckowiak, A.; Garrappa, S.; Karg, T.; Kintscher, T.; Ma, W.Y.; Rauch, L.; Satalecka, K.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stein, R.; Strotjohann, N.L.; Terliuk, A.; Trettin, A.; Usner, M.; Van Santen, J.
Source
In: Physical Review D . (Physical Review D, 2 December 2020, 102(12))
Subject
Language
English
ISSN
24700029
24700010
24700010