학술논문
Measurement of two-particle correlations with respect to second- and third-order event planes in Au + Au collisions at s NN =200 GeV
Document Type
Article
Author
Basye, A.T.; Isenhower, D.; Jumper, D.S.; Sparks, N.A.; Towell, R.S.; Wood, J.P.; Wright, R.M.; Grau, N.; Garg, P.; Mishra, M.; Singh, B.K.; Singh, C.P.; Singh, V.; Tarafdar, S.; Choudhury, R.K.; Dutta, D.; Mohanty, A.K.; Shukla, P.; Bathe, S.; Richford, D.; Rowan, Z.; Bai, M.; Drees, K.A.; Makdisi, Y.I.; Azmoun, B.; Bazilevsky, A.; Belikov, S.; Buesching, H.; Bunce, G.; Chiu, M.; David, G.; Desmond, E.J.; Franz, A.; Haggerty, J.S.; Huang, J.; Jia, J.; Johnson, B.M.; Kistenev, E.; Lynch, D.; Mannel, E.; Milov, A.; Mitchell, J.T.; Morrison, D.P.; Nouicer, R.; O'Brien, E.; Pak, R.; Pinkenburg, C.; Pisani, R.P.; Purschke, M.L.; Sakaguchi, T.; Sickles, A.; Sourikova, I.V.; Stoll, S.P.; Sukhanov, A.; Tannenbaum, M.J.; Vale, C.; White, S.N.; Woody, C.L.; Barish, K.N.; Bryslawskyj, J.; Chvala, O.; Hester, T.; Morreale, A.; Rolnick, S.D.; Sedgwick, K.; Seto, R.; Zou, L.; Finger, M.; Finger, M.; Mikeš, P.; Slunečka, M.; Kim, E.-J.; Li, X.; Zhou, S.; Aramaki, Y.; Gunji, T.; Hamagaki, H.; Hayano, R.; Isobe, T.; Kajihara, F.; Morino, Y.; Oda, S.X.; Ozawa, K.; Sano, S.; Yamaguchi, Y.L.; Adare, A.; Belmont, R.; Bickley, A.A.; Ellinghaus, F.; Glenn, A.; Hill, K.; Kinney, E.; Kiriluk, K.; Linden Levy, L.A.; McGlinchey, D.; Nagle, J.L.; Orjuela Koop, J.D.; Perepelitsa, D.V.; Rosen, C.A.; Seele, J.; Wysocki, M.; Campbell, S.; Chi, C.Y.; Cole, B.A.; Engelmore, T.; Hanks, J.; Holzmann, W.; Jin, J.; Kravitz, A.; Lai, Y.S.; Matathias, F.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Winter, D.; Zajc, W.A.; Gallus, P.; Král, A.; Liška, T.; Virius, M.; Vrba, V.; Pereira, H.; Silvestre, C.; Majoros, T.; Sun, Z.; Tarján, P.; Ujvari, B.; Vértesi, R.; Bagoly, A.; Csanád, M.; Kincses, D.; Kiss, A.; Kurgyis, B.; Lökös, S.; Nagy, M.I.; Csörgo, T.; Novák, T.; Hahn, K.I.; Lee, J.; Park, I.H.; Baksay, G.; Baksay, L.; Dehmelt, K.; Hohlmann, M.; Das, K.; Edwards, S.; Frawley, A.D.; Connors, M.; Haseler, T.O.S.; He, X.; Hodges, A.; Qu, H.; Sarsour, M.; Wong, C.P.; Ying, J.; Hachiya, T.; Homma, K.; Horaguchi, T.; Kijima, K.M.; Nagashima, K.; Nakamiya, Y.; Ouchida, M.; Shigaki, K.; Sugitate, T.; Torii, H.; Tsuchimoto, Y.; Ueda, Y.; Watanabe, D.; Yamaura, K.; Alfred, M.; Babintsev, V.; Bumazhnov, V.; Denisov, A.; Durum, A.; Shein, I.; Yanovich, A.; Choi, I.J.; Grosse Perdekamp, M.; Kim, Y.-J.; Koster, J.; Meredith, B.; Peng, J.-C.; Seidl, R.; Yang, R.; Pantuev, V.; RuŽička, P.; Tomášek, L.; Hill, J.C.; Hotvedt, N.; Kempel, T.; Lajoie, J.G.; Lebedev, A.; Lee, S.H.; Ogilvie, C.A.; Patel, M.; Pei, H.; Rinn, T.; Rosati, M.; Runchey, J.; Semenov, A.Y.; Shimomura, M.; Wei, F.; Hasegawa, S.; Imai, K.; Sako, H.; Sato, S.; Tanida, K.; Afanasiev, S.; Isupov, A.; Litvinenko, A.; Malakhov, A.; Peresedov, V.; Rukoyatkin, P.; Zolin, L.; Kim, D.J.; Rak, J.; Aoki, K.; Mitsuka, G.; Nagamiya, S.; Nakamura, T.; Saito, N.; Sawada, S.; Hong, B.; Kim, B.I.; Lee, K.B.; Lee, K.S.; Park, S.K.; Park, W.J.; Sim, K.S.; Yoo, J.H.; Fokin, S.L.; Kazantsev, A.V.; Manko, V.I.; Moukhanova, T.V.; Nyanin, A.S.; Peressounko, D.Y.; Vinogradov, A.A.; Yushmanov, I.E.; Dairaku, S.; Karatsu, K.; Shoji, K.; Togawa, M.; Atomssa, E.T.; Drapier, O.; Fleuret, F.; Gonin, M.; Granier De Cassagnac, R.; Rakotozafindrabe, A.; Younus, I.; Enokizono, A.; Garishvili, I.; Hartouni, E.P.; Heffner, M.; Newby, J.; Soltz, R.A.; Boer, M.; Brooks, M.L.; Butsyk, S.; Camacho, C.M.; Constantin, P.; Durham, J.M.; Kapustinsky, J.; Kunde, G.J.; Lee, D.M.; Leitch, M.J.; Li, X.; Lim, S.H.; Liu, H.; Liu, M.X.; McCumber, M.; McGaughey, P.L.; Purwar, A.K.; Silva, C.L.; Sondheim, W.E.; Van Hecke, H.W.; Roche, G.; Rosnet, P.; Christiansen, P.; Gustafsson, H.-A.; Haslum, E.; Oskarsson, A.; Rosendahl, S.S.E.; Silvermyr, D.; Stenlund, E.; Tieulent, R.; Mignerey, A.C.; Richardson, E.; Aidala, C.; Datta, A.; Kawall, D.; Lewis, N.A.; Osborn, J.D.; Skoby, M.J.; Baumann, C.; Luechtenborg, R.; Reygers, K.; Sahlmueller, B.; Wessels, J.; Fadem, B.; Ide, J.; Joo, K.S.; Kim, D.H.; Fusayasu, T.; Tanaka, Y.; Riabov, V.; Samsonov, V.; Taranenko, A.; Bassalleck, B.; Fields, D.E.; Kotchetkov, D.; Malik, M.D.; Thomas, T.L.; Al-Bataineh, H.; Bok, J.S.; Kyle, G.S.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Wang, X.R.; Xu, C.; Yu, H.; Danley, T.W.; Frantz, J.E.; Awes, T.C.; Cianciolo, V.; Efremenko, Y.V.; Read, K.F.; Stankus, P.W.; Young, G.R.; Zhang, C.; Jouan, D.; Han, R.; Mao, Y.; You, Z.; Baublis, V.; Ivanishchev, D.; Khanzadeev, A.; Kochenda, L.; Komkov, B.; Kotov, D.; Riabov, Y.; Vznuzdaev, E.; Akiba, Y.; En'Yo, H.; Fujiwara, K.; Fukao, Y.; Goto, Y.; Ichihara, T.; Ichimiya, R.; Ishihara, M.; Kametani, S.; Kawashima, M.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Miki, K.; Mizuno, S.; Murata, J.; Nakagawa, I.; Nakano, K.; Onuki, Y.; Park, S.; Sakashita, K.; Shibata, T.-A.; Taketani, A.; Todoroki, T.; Watanabe, Y.; Yokkaichi, S.; Boyle, K.; Chen, C.-H.; Deshpande, A.; Kamihara, N.; Liebing, P.; Okada, K.; Xie, W.; Berdnikov, A.; Berdnikov, Y.; Radzevich, P.V.; Zharko, S.; Dietzsch, O.; Donadelli, M.; Leite, M.A.L.; Lenzi, B.; Takagui, E.M.; Kim, E.; Kim, M.; Lee, K.; Park, J.; Ajitanand, N.N.; Alexander, J.; Chung, P.; Lacey, R.; Wei, R.; Averbeck, R.; Bennett, R.; Canoa Roman, V.; Citron, Z.; Dahms, T.; Dion, A.; Drees, A.; Fan, W.; Feege, N.; Ge, H.; Gong, H.; Hemmick, T.K.; Jacak, B.V.; Ji, Z.; Kamin, J.; Khachatryan, V.; Leung, Y.H.; Means, N.; Mihalik, D.E.; Nguyen, M.; Novitzky, N.; Perezlara, C.E.; Proissl, M.; Sharma, D.; Themann, H.; Toia, A.; Hamblen, J.; Hornback, D.; Nattrass, C.; Schmoll, B.K.; Sorensen, S.P.; Chujo, T.; Esumi, S.; Ikeda, Y.; Inaba, M.; Konno, M.; Masui, H.; Miake, Y.; Niida, T.; Oka, M.; Sato, T.; Tanabe, R.; Watanabe, K.; Danchev, I.; Greene, S.V.; Huang, S.; Issah, M.; Leitner, E.; Love, B.; Maguire, C.F.; Morrow, S.I.; Peng, W.; Roach, D.; Valle, H.; Velkovska, J.; Xu, Q.; Fraenkel, Z.; Kozlov, A.; Naglis, M.; Ravinovich, I.; Tserruya, I.; Sziklai, J.; Do, J.H.; Kang, J.H.; Kim, S.H.; Kwon, Y.; Moon, T.
Source
In: Physical Review C . (Physical Review C, 7 May 2019, 99(5))
Subject
Language
English
ISSN
24699993
24699985
24699985