학술논문
The MICE Muon Beam on ISIS and the beam-line instrumentation of the Muon Ionization Cooling Experiment
Document Type
Article
Author
Bogomilov, M.; Karadzhov, Y.; Kolev, D.; Russinov, I.; Tsenov, R.; Vankova-Kirilova, G.; Wang, L.; Xu, F.Y.; Zheng, S.X.; Bertoni, R.; Bonesini, M.; Ferri, F.; Lucchini, G.; Mazza, R.; Paleari, F.; Strati, F.; Palladino, V.; Cecchet, G.; De Bari, A.; Capponi, M.; Cirillo, A.; Iaciofano, A.; Manfredini, A.; Parisi, M.; Orestano, D.; Pastore, F.; Tonazzo, A.; Tortora, L.; Mori, Y.; Kuno, Y.; Sakamoto, H.; Sato, A.; Yano, T.; Yoshida, M.; Ishimoto, S.; Suzuki, S.; Yoshimura, K.; Filthaut, F.; Garoby, R.; Gilardoni, S.; Gruber, P.; Hanke, K.; Haseroth, H.; Janot, P.; Lombardi, A.; Ramberger, S.; Vretenar, M.; Bene, P.; Blondel, A.; Cadoux, F.; Graulich, J.-S.; Grichine, V.; Gschwendtner, E.; Masciocchi, F.; Sandstrom, R.; Verguilov, V.; Wisting, H.; Petitjean, C.; Seviour, R.; Alexander, J.; Charnley, G.; Collomb, N.; Griffiths, S.; Martlew, B.; Moss, A.; Mullacrane, I.; Oates, A.; Owens, P.; White, C.; York, S.; Adams, D.; Apsimon, R.; Barclay, P.; Baynham, D.E.; Bradshaw, T.W.; Courthold, M.; Drumm, P.; Edgecock, R.; Hayler, T.; Hills, M.; Ivaniouchenkov, Y.; Jones, A.; Lintern, A.; MacWaters, C.; Nelson, C.; Nichols, A.; Preece, R.; Ricciardi, S.; Rochford, J.H.; Rogers, C.; Spensley, W.; Tarrant, J.; Tilley, K.; Watson, S.; Wilson, A.; Forrest, D.; Soler, F.J.P.; Walaron, K.; Cooke, P.; Gamet, R.; Alekou, A.; Apollonio, M.; Barber, G.; Beuselinck, R.; Clark, D.; Clark, I.; Colling, D.; Dobbs, A.; Dornan, P.; Fayer, S.; Fish, A.; Hare, R.; Greenwood, S.; Jamdagni, A.; Kasey, V.; Khaleeq, M.; Leaver, J.; Long, K.; McKigney, E.; Matsushita, T.; Pasternak, J.; Sashalmi, T.; Savidge, T.; Takahashi, M.; Blackmore, V.; Carlisle, T.; Cobb, J.H.; Lau, W.; Rayner, M.; Tunnell, C.D.; Witte, H.; Yang, S.; Booth, C.N.; Hodgson, P.; Howlett, L.; Nicholson, R.; Overton, E.; Robinson, M.; Smith, P.; Adey, D.; Back, J.; Boyd, S.; Harrison, P.; Ellis, M.; Kyberd, P.; Littlefield, M.; Nebrensky, J.J.; Bross, A.D.; Geer, S.; Neuffer, D.; Moretti, A.; Popovic, M.; Cummings, M.A.C.; Roberts, T.J.; Demello, A.; Green, M.A.; Li, D.; Virostek, S.; Zisman, M.S.; Freemire, B.; Hanlet, P.; Huang, D.; Kafka, G.; Kaplan, D.M.; Snopok, P.; Torun, Y.; Blot, S.; Kim, Y.K.; Bravar, U.; Onel, Y.; Cline, D.; Fukui, Y.; Lee, K.; Yang, X.; Rimmer, R.A.; Cremaldi, L.M.; Gregoire, G.; Hart, T.L.; Sanders, D.A.; Summers, D.J.; Coney, L.; Fletcher, R.; Hanson, G.G.; Heidt, C.; Gallardo, J.; Kahn, S.; Kirk, H.; Palmer, R.B.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, May 2012, 7(5))
Subject
Language
English
ISSN
17480221