학술논문
Sensitivity Modeling for LiteBIRD
Document Type
Article
Author
Hasebe, T.; Azzoni, S.; Chinone, Y.; Coulton, W.; Ducout, A.; Ghigna, T.; Hazumi, M.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Takakura, S.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Noviello, F.; Tucker, C.; Adler, A.; Dachlythra, K.; Gudmundsson, J.E.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Alonso, D.; Jones, M.; Taylor, A.; Thorne, B.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Douillet, D.; Henrot-Versillé, S.; Laquaniello, G.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Bautista, L.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Vacher, L.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.K.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Krachmalnicoff, N.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; de la Hoz, E.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; Martínez-González, E.; Vielva, P.; Bartolo, N.; Matarrese, S.; Basak, S.; Battistelli, E.; Columbro, F.; D’Alessandro, G.; de Bernardis, P.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Hornsby, A.L.; Keskitalo, R.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Benabed, K.; Bouchet, F.; Galli, S.; Hivon, E.; Wandelt, B.; Bermejo-Ballesteros, J.; Cubas, J.; Bersanelli, M.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Elleflot, T.; Kisner, T.; Suzuki, A.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Pagano, L.; Brown, M.L.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Grandsire, L.; Hamilton, J.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Piat, M.; Stompor, R.; Thermeau, J.; Wang, W.; Calvo, M.; Monfardini, A.; Vermeulen, G.; Campeti, P.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Catalano, A.; Macias-Perez, J.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Curtis, D.; Linder, E.; Puglisi, G.; Cliche, J.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Smecher, G.; de Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Nagasaki, T.; Nishino, H.; Sekimoto, Y.; Suzuki, J.; Torre, S.D.; Gervasi, M.; Nati, F.; Passerini, A.; Poletti, D.; Zannoni, M.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Matsuda, F.T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Nakano, R.; Odagiri, K.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Takaku, R.; Takakura, H.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Watanuki, K.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouvé, T.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Tavagnacco, D.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.T.; Rubino-Martin, J.; Gerbino, M.; Lattanzi, M.; Natoli, P.; Giardiello, S.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; O’Sullivan, C.; Trappe, N.; Grupp, F.; Weller, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hergt, L.T.; Scott, D.; Sullivan, R.; Hoang, T.D.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kaga, T.; Nishibori, T.; Okada, N.; Shinozaki, K.; Takeda, Y.; Kawasaki, T.; Kobayashi, Y.; Ohsaki, H.; Sakurai, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Konishi, K.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Luzzi, G.; Polenta, G.; Maciaszek, T.; Maris, M.; Zacchei, A.; Massa, M.; Moggi, A.; Signorelli, G.; Spinella, F.; Tartari, A.; Minami, Y.; Nakamura, S.; Ohta, I.S.; Pelgrim, V.; Savini, G.; Winter, B.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Zonca, A.
Source
In: Journal of Low Temperature Physics . (Journal of Low Temperature Physics, June 2023, 211(5-6):384-397)
Subject
Language
English
ISSN
15737357
00222291
00222291