학술논문
Quality control and beam test of GEM detectors for future upgrades of the CMS muon high rate region at the LHC
Document Type
Article
Author
Armaingaud, C.; Hoepfner, K.; Philipps, B.; Abbrescia, M.; Altieri, P.; Calabria, C.; Caputo, C.; Colaleo, A.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Pugliese, G.; Radogna, R.; Ranieri, A.; Tamma, C.; Venditi, R.; Verwilligen, P.; Asawatangtrakuldee, C.; Ban, Y.; Wang, D.; Wang, M.; Braibant, S.; Cavallo, F.R.; Giacomelli, P.; Guiducci, L.; Barria, P.; Cai, J.; De Lentdecker, G.; Lenzi, T.; Maerschalk, T.; Teng, H.; Verhagen, E.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zenoni, F.; Mal, P.K.; Mandal, K.; Swain, S.K.; Abdelalim, A.A.; Ahmed, W.; Aly, R.; Elmetenawee, W.; Hassan, A.; Assran, Y.; Radi, A.; Celik, A.; Dildick, S.; Kamon, T.; Krutelyov, S.; Safonov, A.; Tatarinov, A.; Flanagan, W.; Gilmore, J.; Khotilovich, V.; Sakharov, A.; Kumar, A.; Mohammed, N.; Naimuddin, M.; Ramkrishna, S.; Gutierrez, A.; Karchin, P.E.; Abi Akl, M.; Bouhali, O.; Castaneda, A.; Maghrbi, Y.; Benussi, L.; Bianco, S.; Caponero, M.; Ferrini, M.; Piccolo, D.; Raffone, G.; Saviano, G.; Abbaneo, D.; Abbas, M.; Aspell, P.; Bally, S.; Bos, J.; Christiansen, J.; Colafranceschi, S.; Conde Garcia, A.; Dabrowski, M.M.; De Oliveira, R.; Dorney, B.; Ferry, S.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Merlin, J.A.; Oliveri, E.; Postema, H.; Puig Baranac, A.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Sharma, A.; Talvitie, J.P.; Van Stenis, M.; Cauwenbergh, S.; Cimmino, A.; Dildick, S.; Salva, S.; Tytgat, M.; Zaganidis, N.; Ahmed, W.; Ashfaq, A.; Awan, I.; Hoorani, H.; Muhammad, S.; Jeng, Y.G.; Kim, H.S.; Ryu, M.S.; Banerjee, S.; Majumdar, N.; Mukhopadhyay, S.; Roy Chowdhury, S.; Talvitie, J.P.; Tuuva, T.; Hauser, J.; Bhopatkar, V.; Hohlmann, M.; Mohapatra, A.; Phipps, M.; Twigger, J.; Zhang, A.; Mohanty, A.K.; Pant, L.M.; Buontempo, S.; Cassese, F.; Paolucci, P.; Passeggio, G.; Magnani, A.; Riccardi, C.; Vai, I.; Vitulo, P.; Magazzu, G.; Turini, N.; Fabrice, G.; Hadjiiska, R.M.; Litov, L.; Pavlov, B.; Choi, S.; Yang, U.; Choi, M.; Choi, K.; Lee, J.; Park, I.; Ryu, G.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 24 March 2015, 10(3))
Subject
Language
English
ISSN
17480221