학술논문
Reflectivity of VUV-sensitive silicon photomultipliers in liquid Xenon
Document Type
Article
Author
Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Schneider, J.; Michel, T.; Anton, G.; Fieguth, A.; Murra, M.; Schulte, D.; Althueser, L.; Huhmann, C.; Weinheimer, C.; Adhikari, G.; Yang, L.; Al kharusi, S.; Brunner, T.; Chambers, C.; Darroch, L.; Gingras, C.; Lan, Y.; Mcelroy, T.; Medina peregrina, M.; Murray, K.; Rasiwala, H.; Totev, T.; Angelico, E.; Gratta, G.; Hardy, C.A.; Jewell, M.; Li, G.; Wu, S.X.; Arnquist, I.J.; Di vacri, M.L.; Ferrara, S.; Gorham, A.; Harouaka, K.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Spadoni, F.; Badhrees, I.; Chana, B.; Elbeltagi, M.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Bane, J.; Feyzbakhsh, S.; Kumar, K.S.; Pocar, A.; Beck, D.; Brodsky, J.P.; Echevers, J.; Li, S.; Tarka, M.; Thibado, S.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Bhatta, T.; Maclellan, R.; Bolotnikov, A.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Worcester, M.; Breur, P.A.; Devoe, R.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Brown, E.; Odgers, K.; Tidball, A.; Caden, E.; Cleveland, B.; Der mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Walent, M.; Wichoski, U.; Cao, G.F.; Yan, W.; Charlebois, S.A.; Deslandes, K.; Martel-Dion, P.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Richard, C.; Rossignol, T.; Roy, N.; Vachon, F.; Chernyak, D.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Tsang, R.; Veeraraghavan, V.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Daniels, T.; De st. croix, A.; Gallina, G.; Krücken, R.; Massacret, N.; Reti re, F.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Richman, M.; Soma, A.K.; Fabris, L.; Nattress, J.; Newby, R.J.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Larson, A.; Leach, K.G.; Natzke, C.R.; Ringuette, J.; Leonard, D.S.; Lindsay, R.; Nzobadila ondze, J.C.; Ramonnye, G.J.; Triambak, S.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, August 2021, 16(8))
Subject
Language
English
ISSN
17480221