학술논문
Systematic study of nuclear effects in p+Al, p+Au, d+Au, and He 3 + Au collisions at sNN =200 GeV using π0 production
Document Type
Article
Author
Basye, A.T.; Daugherity, M.S.; Hamilton, H.F.; Isenhower, D.; Jones, T.; Jumper, D.S.; Pinson, R.; Thomas, D.; Towell, C.L.; Towell, R.; Towell, R.S.; Wright, R.M.; Grau, N.; Garg, P.; Singh, B.K.; Singh, C.P.; Singh, V.; Tarafdar, S.; Choudhury, R.K.; Dutta, D.; Mishra, D.K.; Mohanty, A.K.; Netrakanti, P.K.; Sett, P.; Shukla, P.; Bathe, S.; Bryslawskyj, J.; Richford, D.; Rowan, Z.; Bai, M.; Drees, K.A.; Makdisi, Y.I.; Zelenski, A.; Azmoun, B.; Baumann, C.; Bazilevsky, A.; Belikov, S.; Buesching, H.; Bunce, G.; Chiu, M.; David, G.; Desmond, E.J.; Franz, A.; Haggerty, J.S.; Huang, J.; Johnson, B.M.; Kistenev, E.; Lynch, D.; Mannel, E.; Milov, A.; Mitchell, J.T.; Morrison, D.P.; Nouicer, R.; O'Brien, E.; Pak, R.; Perepelitsa, D.V.; Petti, R.; Phipps, M.; Pinkenburg, C.; Pisani, R.P.; Potekhin, M.; Purschke, M.L.; Sakaguchi, T.; Sickles, A.; Sourikova, I.V.; Stoll, S.P.; Sukhanov, A.; Tannenbaum, M.J.; Vale, C.; White, S.N.; Woody, C.L.; Barish, K.N.; Beaumier, M.; Chvala, O.; Hester, T.; Hollis, R.S.; Iordanova, A.; Kapukchyan, D.; Kim, C.; Kleinjan, D.; Mendoza, M.; Morreale, A.; Rolnick, S.D.; Sedgwick, K.; Seto, R.; Zou, L.; Finger, M.; Finger, M.; Slunečka, M.; Li, X.; Zhou, S.; Aramaki, Y.; Gunji, T.; Hamagaki, H.; Hayano, R.; Kajihara, F.; Kanda, S.; Kitamura, R.; Morino, Y.; Nishimura, S.; Oda, S.X.; Ozawa, K.; Sano, S.; Watanabe, Y.S.; Yamaguchi, Y.L.; Adare, A.; Beckman, S.; Belmont, R.; Ellinghaus, F.; Hill, K.; Kinney, E.; Koblesky, T.; Linden Levy, L.A.; McGlinchey, D.; Nagle, J.L.; Orjuela Koop, J.D.; Rosen, C.A.; Seele, J.; Wysocki, M.; Angerami, A.; Campbell, S.; Chi, C.Y.; Cole, B.A.; Engelmore, T.; Hanks, J.; Holzmann, W.; Jin, J.; Kravitz, A.; Lai, Y.S.; Matathias, F.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Winter, D.; Zajc, W.A.; Gallus, P.; Král, A.; Liška, T.; Tomášek, M.; Virius, M.; Vrba, V.; Pereira, H.; Silvestre, C.; Lovasz, K.; Majoros, T.; Sun, Z.; Tarnai, G.; Ujvari, B.; Csanád, M.; Kincses, D.; Kiss, Á.; Lökös, S.; Nagy, M.I.; Csörgo, T.; Novák, T.; Hahn, K.I.; Han, S.Y.; Kim, A.; Kim, G.W.; Kim, T.; Lee, J.; Nam, S.; Park, I.H.; Nelson, S.; Baksay, G.; Baksay, L.; Hohlmann, M.; Rembeczki, S.; Das, K.; Edwards, S.; Frawley, A.D.; Klatsky, J.; Smith, K.L.; Acharya, U.A.; Connors, M.; Dayananda, M.K.; Guragain, H.; Haseler, T.O.S.; He, X.; Hodges, A.; Jezghani, M.; Oakley, C.; Qu, H.; Sarsour, M.; Tieulent, R.; Wong, C.P.; Xue, L.; Ying, J.; Homma, K.; Horaguchi, T.; Hoshino, T.; Iwanaga, Y.; Kijima, K.M.; Nagashima, K.; Nakamiya, Y.; Nihashi, M.; Ouchida, M.; Shigaki, K.; Sugitate, T.; Torii, H.; Tsuchimoto, Y.; Ueda, Y.; Watanabe, D.; Yamaura, K.; Alfred, M.; Babintsev, V.; Bumazhnov, V.; Denisov, A.; Durum, A.; Shein, I.; Yanovich, A.; Choi, I.J.; Giordano, F.; Grosse Perdekamp, M.; Kim, Y.-J.; Koster, J.; Loggins, V.-R.; McKinney, C.; Meredith, B.; Montuenga, P.; Peng, J.-C.; Rinn, T.; Seidl, R.; Yang, R.; Pantuev, V.; RuŽička, P.; Tomášek, L.; Apadula, N.; Dion, A.; Hill, J.C.; Hotvedt, N.; Kempel, T.; Lajoie, J.G.; Lebedev, A.; Lee, S.H.; Ogilvie, C.A.; Patel, M.; Pei, H.; Perry, J.; Rosati, M.; Runchey, J.; Sen, A.; Shimomura, M.; Silva, C.L.; Timilsina, A.; Wei, F.; Hasegawa, S.; Imai, K.; Sako, H.; Sato, S.; Tanida, K.; Choi, J.B.; Kim, E.-J.; Kim, D.J.; Novitzky, N.; Rak, J.; Aoki, K.; Mibe, T.; Mitsuka, G.; Nagamiya, S.; Saito, N.; Sawada, S.; Hong, B.; Kim, B.I.; Lee, K.B.; Lee, K.S.; Moon, T.; Mulilo, B.; Park, S.K.; Park, W.J.; Sim, K.S.; Yoo, J.H.; Blau, D.S.; Fokin, S.L.; Kazantsev, A.V.; Manko, V.I.; Moukhanova, T.V.; Nyanin, A.S.; Peressounko, D.Yu.; Yushmanov, I.E.; Asano, H.; Dairaku, S.; Karatsu, K.; Murakami, T.; Nakamura, K.R.; Shoji, K.; Atomssa, E.T.; Conesa Del Valle, Z.; Drapier, O.; Fleuret, F.; Gonin, M.; Granier De Cassagnac, R.; Younus, I.; Garishvili, I.; Glenn, A.; Heffner, M.; Newby, J.; Soltz, R.A.; Brooks, M.L.; Butsyk, S.; Corrales Morales, Y.; Dean, C.T.; Durham, J.M.; Grim, G.; Jiang, X.; Kapustinsky, J.; Khatiwada, A.; Kunde, G.J.; Lee, D.M.; Leitch, M.J.; Lim, S.H.; Liu, H.; Liu, M.X.; Li, X.; McCumber, M.; McGaughey, P.L.; Snowball, M.; Sondheim, W.E.; Van Hecke, H.W.; Roche, G.; Christiansen, P.; Gustafsson, H.-A.; Haslum, E.; Oskarsson, A.; Rosendahl, S.S.E.; Silvermyr, D.; Stenlund, E.; D'Orazio, L.; Diss, P.B.; Mignerey, A.C.; Richardson, E.; Sexton, A.; Aidala, C.; Bandara, N.S.; Datta, A.; Kawall, D.; Stepanov, M.; Andrieux, V.; Fitzgerald, D.; Lewis, N.A.; Loomis, D.A.; Osborn, J.D.; Ramson, B.J.; Rubin, J.G.; White, A.S.; Reygers, K.; Sahlmueller, B.; Wessels, J.; Caringi, A.; Cronin, N.; Fadem, B.; Kimelman, B.; Lichtenwalner, P.; Joo, K.S.; Moon, H.J.; Fusayasu, T.; Tanaka, Y.; Hachiya, T.; Shibata, M.; Takahama, R.; Riabov, V.; Samsonov, V.; Taranenko, A.; Bassalleck, B.; Deblasio, K.; Fields, D.E.; Key, J.A.; Malik, M.D.; Ottino, G.J.; Thomas, T.L.; Al-Bataineh, H.; Bok, J.S.; Dharmawardane, K.V.; Kyle, G.S.; Meles, A.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Perera, G.D.N.; Wang, X.R.; Xu, C.; Yu, H.; Danley, T.W.; Frantz, J.E.; Pun, A.; Xia, B.; Awes, T.C.; Cianciolo, V.; Efremenko, Y.V.; Enokizono, A.; Read, K.F.; Stankus, P.W.; Young, G.R.; Jouan, D.; Han, R.; Mao, Y.; You, Z.; Baublis, V.; Ivanishchev, D.; Khanzadeev, A.; Kochenda, L.; Komkov, B.; Kotov, D.; Riabov, Y.; Vznuzdaev, E.; Akiba, Y.; En'Yo, H.; Fujiwara, K.; Fukao, Y.; Goto, Y.; Hashimoto, K.; Ichihara, T.; Ichimiya, R.; Ishihara, M.; Kasai, M.; Kawashima, M.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Miki, K.; Miyasaka, S.; Mizuno, S.; Murata, J.; Nakagawa, I.; Nakagomi, H.; Nakamura, T.; Nakano, K.; Nukazuka, G.; Onuki, Y.; Park, S.; Sakashita, K.; Shibata, T.-A.; Sumita, T.; Taketani, A.; Todoroki, T.; Watanabe, Y.; Yokkaichi, S.; Boyle, K.; Chen, C.-H.; Deshpande, A.; Liebing, P.; Okada, K.; Togawa, M.; Nagashima, T.; Berdnikov, A.; Berdnikov, Y.; Borisov, V.; Larionova, D.; Mitrankova, M.; Mitrankov, I.; Radzevich, P.V.; Safonov, A.S.; Dietzsch, O.; Donadelli, M.; Leite, M.A.L.; Takagui, E.M.; Kim, M.; Park, J.S.; Yoon, I.; Ajitanand, N.N.; Alexander, J.; Chung, P.; Mwai, A.; Reynolds, D.; Wei, R.; Averbeck, R.; Bannier, B.; Bennett, R.; Canoa Roman, V.; Cervantes, R.; Citron, Z.; Corliss, R.; Dahms, T.; Dehmelt, K.; Dixit, D.; Doomra, V.; Drees, A.; Esha, R.; Fan, W.; Feege, N.; Gal, C.; Ge, H.; Giles, M.; Gong, H.; Hemmick, T.K.; Jacak, B.V.; Ji, Z.; Kamin, J.; Karthas, S.; Khachatryan, V.; Kingan, A.; Kline, P.; Leung, Y.H.; Manion, A.; Means, N.; Mondal, M.M.; Nguyen, M.; Perezlara, C.E.; Proissl, M.; Ramasubramanian, N.; Sharma, D.; Sun, J.; Taneja, S.; Themann, H.; Toia, A.; Yalcin, S.; Hamblen, J.; Hornback, D.; Nattrass, C.; Schmoll, B.K.; Sorensen, S.P.; Harvey, M.; Nagai, K.; Chujo, T.; Esumi, S.; Fukuda, Y.; Ikeda, Y.; Inaba, M.; Konno, M.; Kudo, S.; Masui, H.; Miake, Y.; Niida, T.; Oka, M.; Sato, T.; Shioya, T.; Tanabe, R.; Watanabe, K.; Yamamoto, H.; Bichon, L.; Blankenship, B.; Danchev, I.; Greene, S.V.; Issah, M.; Love, B.; Maguire, C.F.; Peng, W.; Roach, D.; Schaefer, B.; Valle, H.; Velkovska, J.; Xu, Q.; Kikuchi, J.; Fraenkel, Z.; Naglis, M.; Ravinovich, I.; Tserruya, I.; Sziklai, J.; Vértesi, R.; Bhom, J.H.; Do, J.H.; Kang, J.H.; Kwon, Y.; Lee, S.; Makek, M.; Vukman, N.
Source
In: Physical Review C . (Physical Review C, June 2022, 105(6))
Subject
Language
English
ISSN
24699993
24699985
24699985