학술논문
High-Resolution Photoemission Study of Neutron-Induced Defects in Amorphous Hydrogenated Silicon Devices
Document Type
Article
Author
Peverini, F.; Bizzarri, M.; Caprai, M.; Fanò, L.; Gianfelici, B.; Ionica, M.; Kanxheri, K.; Menichelli, M.; Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Papi, A.; Passeri, D.; Rossi, A.; Rossi, G.; Scorzoni, A.; Servoli, L.; Pedio, M.; Boscardin, M.; Verzellesi, G.; Crivellari, M.; Hammad, O.; Calcagnile, L.; Quarta, G.; Caricato, A.P.; Maruccio, G.; Monteduro, A.G.; Rizzato, S.; Cirrone, G.A.P.; Cuttone, G.; Petringa, G.; Dunand, S.; Wyrsch, N.; Large, M.; Petasecca, M.; Soncini, C.; Tacchi, S.; Pallotta, S.; Talamonti, C.; Pis, I.; Zema, N.
Source
In: Nanomaterials . (Nanomaterials, October 2022, 12(19))
Subject
Language
English
ISSN
20794991