학술논문
CCQM-K55.c key comparison on the characterization of organic substances for chemical purity
Document Type
Article
Author
Westwood, S.; Josephs, R.; Choteau, T.; Daireaux, A.; Wielgosz, R.; Davies, S.; Moawad, M.; Chan, B.; Muñoz, A.; Conneely, P.; Ricci, M.; do Rego, E.C.P.; Garrido, B.C.; Violante, F.G.M.; Windust, A.; Dai, X.; Huang, T.; Zhang, W.; Su, F.; Quan, C.; Wang, H.; Lo, M.; Wong, W.; Gantois, F.; Lalerle, B.; Dorgerloh, U.; Koch, M.; Klyk-Seitz, U.-A.; Pfeifer, D.; Philipp, R.; Piechotta, C.; Recknagel, S.; Rothe, R.; Yamazaki, T.; Bin Zakaria, O.; Castro, E.; Balderas, M.; González, N.; Salazar, C.; Regalado, L.; Valle, E.; Rodríguez, L.; Ángel Laguna, L.; Ramírez, P.; Avila, M.; Ibarra, J.; Valle, L.; Pérez, M.; Arce, M.; Mitani, Y.; Konopelko, L.; Krylov, A.; Lopushanskaya, E.; Lin, T.T.; Liu, Q.; Kooi, L.T.; Fernandes-Whaley, M.; Prevoo-Franzsen, D.; Nhlapo, N.; Visser, R.; Kim, B.; Lee, H.; Kankaew, P.; Pookrod, P.; Sudsiri, N.; Shearman, K.; Gören, A.C.; Bilsel, G.; Yilmaz, H.; Bilsel, M.; Çergel, M.; Çoşkun, F.G.; Uysal, E.; Gündüz, S.; Ün, İ.; Warren, J.; Bearden, D.W.; Bedner, M.; Duewer, D.L.; Lang, B.E.; Lippa, K.A.; Schantz, M.M.; Sieber, J.R.
Source
In: Metrologia . (Metrologia, 2014, 51(1A))
Subject
Language
English
ISSN
16817575
00261394
00261394