학술논문
Optimization of a 65 nm CMOS imaging process for monolithic CMOS sensors for high energy physics
Document Type
Conference Paper
Author
Rinella, G.A.; Ballabriga, R.; Bialas, W.; Borghello, G.; Braach, J.; Buschmann, E.; Campbell, M.; Carnesecchi, F.; Cecconi, L.; Dannheim, D.; Dort, K.; de Melo, J.; Deng, W.; Di Mauro, A.; Dorda Martin, A.; Dorosz, P.; Hasenbichler, J.; Hillemanns, H.; Junique, A.; Kremastiotis, I.; Kluge, A.; Kucharska, G.; Kugathasan, T.; Lautner, L.; Leitao, P.; Mager, M.; Martinengo, P.; Munker, M.; Musa, L.; Piro, F.; Rebane, K.; Reidt, F.; Sanna, I.; Snoeys, W.; Svihra, P.; Suljic, M.; Termo, G.; Van Beelen, J.B.; Nakamura, M.; Suzuki, M.; Takahashi, N.; Fenigstein, A.; Haim, A.; Toledano, E.; De Robertis, G.; Loddo, F.; La Rocca, P.; Triffiro, A.; Marras, D.; Sarritzu, V.; Usai, G.; Benotto, F.; Beole, S.; Ferrero, C.; Lim, B.-H.; Perciballi, S.; Prino, F.; Savino, U.; Turcato, A.; Antonelli, M.; Baccomi, R.; Buckland, M.; Camerini, P.; Contin, G.; Rachevski, S.; Villani, A.; Ricci, R.; Barbero, M.; Barrillon, P.; Fougeron, D.; Habib, A.; Pangaud, P.; Baudot, J.; Bertolone, G.; Besson, A.; Bugiel, S.; Colledani, C.; Dorokhov, A.; El Bitar, Z.; Fang, X.; Goffe, M.; Hu, C.; Jaaskelainen, K.; Morel, F.; Pham, H.; Senyukov, S.; Soudier, J.; Valin, I.; Gajanana, D.; Grelli, A.; Gromov, V.; Kluit, R.; Russo, R.; Sonneveld, J.; Vitkovskiy, A.; Yelkenci, A.; Becht, P.; Masciocchi, S.; Menzel, M.W.; Schledewitz, D.; Soltveit, H.K.; Stachel, J.; Yuncu, A.; Andronic, A.; Tiltmann, N.; Chauhan, A.; Hansen, K.; Mulyanto, B.; Reckleben, C.; Isakov, A.; Kotliarov, A.; Krizek, F.; Mathew, S.; Sedgwick, I.; Gonella, L.; Eberwein, G.; Charbon, E.; Hong, G.H.; Kwon, Y.; Vassilev, M.D.; Vernieri, C.; Wu, Y.
Source
In: Proceedings of Science , 10th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Pixel 2022. (Proceedings of Science, 8 May 2023, 420)
Subject
Language
English
ISSN
18248039