학술논문
Search for MeV electron recoils from dark matter in EXO-200
Document Type
Article
Author
Al Kharusi, S.; Brunner, T.; Chambers, C.; Darroch, L.; McElroy, T.; Murray, K.; Totev, T.I.; Anton, G.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Belov, V.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Skarpaas, K.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Fu, Y.S.; Li, G.S.; Li, Z.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Perna, A.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Fairbank, D.; Iverson, A.; Todd, M.; Yahne, D.R.; Daniels, T.; Ruddell, D.; Daugherty, S.J.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Wu, S.X.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Soma, A.K.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Kumar, K.S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Thibado, S.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Tsang, R.H.M.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Leonard, D.S.; Njoya, O.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.; Yang, L.
Source
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 January 2023, 107(1))
Subject
Language
English
ISSN
24700029
24700010
24700010