학술논문

Etude des décharges électriques dans les mélanges soufreazote-cuivre
Document Type
Conference
Source
2018 International Conference on Electrical Sciences and Technologies in Maghreb (CISTEM) Electrical Sciences and Technologies in Maghreb (CISTEM), 2018 International Conference on. :1-4 Oct, 2018
Subject
Computing and Processing
Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas
Fields, Waves and Electromagnetics
General Topics for Engineers
Power, Energy and Industry Applications
Robotics and Control Systems
Signal Processing and Analysis
Sulfur hexafluoride
Plasmas
Gold
Contamination
Ionization
Silicon
SF6-N2
cuivre
disjoncteur
plasma
Language
Abstract
Ce papier porte sur l'étude des décharges dans les mélanges gazeux SF6-N2 en présence d’impureté de cuivre afin d’améliorer les propriétés diélectriques du SF6-N2, utilisé dans les disjoncteurs de haute tension. Le coefficient d'ionisation est un important indicateur pour l'évaluation du claquage dans le SF6 et ses mélanges. La décharge sera décrite par le modèle de Townsend évoluant dans un mélange faiblement ionisé et à faible pression. Deux type de collisions élastiques ont été considéré: collision électron-électron et collision électron-ion. Les coefficients de transport électronique du mélange SF6-N2 sont obtenus par intégration de l’équation de Boltzmann dans le cas stationnaire et pour un champ uniforme. Les résultats montrent que le N2 réduit la proportion d'électrons à haute énergie dans mélanges SF6-N2 et que le cuivre favorise les électrons de faibles énergies.