학술논문
Measurement of the leptonic decay width of J/ψ using initial state radiation
Document Type
article
Author
M. Ablikim; M.N. Achasov; X.C. Ai; O. Albayrak; M. Albrecht; D.J. Ambrose; A. Amoroso; F.F. An; Q. An; J.Z. Bai; R. Baldini Ferroli; Y. Ban; D.W. Bennett; J.V. Bennett; M. Bertani; D. Bettoni; J.M. Bian; F. Bianchi; E. Boger; I. Boyko; R.A. Briere; H. Cai; X. Cai; O. Cakir; A. Calcaterra; G.F. Cao; S.A. Cetin; J.F. Chang; G. Chelkov; G. Chen; H.S. Chen; H.Y. Chen; J.C. Chen; M.L. Chen; S.J. Chen; X. Chen; X.R. Chen; Y.B. Chen; H.P. Cheng; X.K. Chu; G. Cibinetto; H.L. Dai; J.P. Dai; A. Dbeyssi; D. Dedovich; Z.Y. Deng; A. Denig; I. Denysenko; M. Destefanis; F. De Mori; Y. Ding; C. Dong; J. Dong; L.Y. Dong; M.Y. Dong; S.X. Du; P.F. Duan; E.E. Eren; J.Z. Fan; J. Fang; S.S. Fang; X. Fang; Y. Fang; L. Fava; F. Feldbauer; G. Felici; C.Q. Feng; E. Fioravanti; M. Fritsch; C.D. Fu; Q. Gao; X.Y. Gao; Y. Gao; Z. Gao; I. Garzia; C. Geng; K. Goetzen; W.X. Gong; W. Gradl; M. Greco; M.H. Gu; Y.T. Gu; Y.H. Guan; A.Q. Guo; L.B. Guo; Y. Guo; Y.P. Guo; Z. Haddadi; A. Hafner; S. Han; Y.L. Han; X.Q. Hao; F.A. Harris; K.L. He; Z.Y. He; T. Held; Y.K. Heng; Z.L. Hou; C. Hu; H.M. Hu; J.F. Hu; T. Hu; Y. Hu; G.M. Huang; G.S. Huang; H.P. Huang; J.S. Huang; X.T. Huang; Y. Huang; T. Hussain; Q. Ji; Q.P. Ji; X.B. Ji; X.L. Ji; L.L. Jiang; L.W. Jiang; X.S. Jiang; X.Y. Jiang; J.B. Jiao; Z. Jiao; D.P. Jin; S. Jin; T. Johansson; A. Julin; N. Kalantar-Nayestanaki; X.L. Kang; X.S. Kang; M. Kavatsyuk; B.C. Ke; P. Kiese; R. Kliemt; B. Kloss; O.B. Kolcu; B. Kopf; M. Kornicer; W. Kuehn; A. Kupsc; J.S. Lange; M. Lara; P. Larin; C. Leng; C. Li; C.H. Li; Cheng Li; D.M. Li; F. Li; G. Li; H.B. Li; J.C. Li; Jin Li; K. Li; Lei Li; P.R. Li; T. Li; W.D. Li; W.G. Li; X.L. Li; X.M. Li; X.N. Li; X.Q. Li; Z.B. Li; H. Liang; Y.F. Liang; Y.T. Liang; G.R. Liao; D.X. Lin; B.J. Liu; C.X. Liu; F.H. Liu; Fang Liu; Feng Liu; H.B. Liu; H.H. Liu; H.M. Liu; J. Liu; J.B. Liu; J.P. Liu; J.Y. Liu; K. Liu; K.Y. Liu; L.D. Liu; P.L. Liu; Q. Liu; S.B. Liu; X. Liu; X.X. Liu; Y.B. Liu; Z.A. Liu; Zhiqiang Liu; Zhiqing Liu; H. Loehner; X.C. Lou; H.J. Lu; J.G. Lu; R.Q. Lu; Y. Lu; Y.P. Lu; C.L. Luo; M.X. Luo; T. Luo; X.L. Luo; M. Lv; X.R. Lyu; F.C. Ma; H.L. Ma; L.L. Ma; Q.M. Ma; T. Ma; X.N. Ma; X.Y. Ma; F.E. Maas; M. Maggiora; Y.J. Mao; Z.P. Mao; S. Marcello; J.G. Messchendorp; J. Min; T.J. Min; R.E. Mitchell; X.H. Mo; Y.J. Mo; C. Morales Morales; K. Moriya; N.Yu. Muchnoi; H. Muramatsu; Y. Nefedov; F. Nerling; I.B. Nikolaev; Z. Ning; S. Nisar; S.L. Niu; X.Y. Niu; S.L. Olsen; Q. Ouyang; S. Pacetti; P. Patteri; M. Pelizaeus; H.P. Peng; K. Peters; J. Pettersson; J.L. Ping; R.G. Ping; R. Poling; V. Prasad; Y.N. Pu; M. Qi; S. Qian; C.F. Qiao; L.Q. Qin; N. Qin; X.S. Qin; Y. Qin; Z.H. Qin; J.F. Qiu; K.H. Rashid; C.F. Redmer; H.L. Ren; M. Ripka; G. Rong; Ch. Rosner; X.D. Ruan; V. Santoro; A. Sarantsev; M. Savrié; K. Schoenning; S. Schumann; W. Shan; M. Shao; C.P. Shen; P.X. Shen; X.Y. Shen; H.Y. Sheng; W.M. Song; X.Y. Song; S. Sosio; S. Spataro; G.X. Sun; J.F. Sun; S.S. Sun; Y.J. Sun; Y.Z. Sun; Z.J. Sun; Z.T. Sun; C.J. Tang; X. Tang; I. Tapan; E.H. Thorndike; M. Tiemens; M. Ullrich; I. Uman; G.S. Varner; B. Wang; B.L. Wang; D. Wang; D.Y. Wang; K. Wang; L.L. Wang; L.S. Wang; M. Wang; P. Wang; P.L. Wang; S.G. Wang; W. Wang; X.F. Wang; Y.D. Wang; Y.F. Wang; Y.Q. Wang; Z. Wang; Z.G. Wang; Z.H. Wang; Z.Y. Wang; T. Weber; D.H. Wei; J.B. Wei; P. Weidenkaff; S.P. Wen; U. Wiedner; M. Wolke; L.H. Wu; Z. Wu; L.G. Xia; Y. Xia; D. Xiao; H. Xiao; Z.J. Xiao; Y.G. Xie; Q.L. Xiu; G.F. Xu; L. Xu; Q.J. Xu; Q.N. Xu; X.P. Xu; L. Yan; W.B. Yan; W.C. Yan; Y.H. Yan; H.J. Yang; H.X. Yang; L. Yang; Y. Yang; Y.X. Yang; H. Ye; M. Ye; M.H. Ye; J.H. Yin; B.X. Yu; C.X. Yu; H.W. Yu; J.S. Yu; C.Z. Yuan; W.L. Yuan; Y. Yuan; A. Yuncu; A.A. Zafar; A. Zallo; Y. Zeng; B.X. Zhang; B.Y. Zhang; C. Zhang; C.C. Zhang; D.H. Zhang; H.H. Zhang; H.Y. Zhang; J.J. Zhang; J.L. Zhang; J.Q. Zhang; J.W. Zhang; J.Y. Zhang; J.Z. Zhang; K. Zhang; L. Zhang; S.H. Zhang; X.Y. Zhang; Y. Zhang; Y.N. Zhang; Y.H. Zhang; Y.T. Zhang; Yu Zhang; Z.H. Zhang; Z.P. Zhang; Z.Y. Zhang; G. Zhao; J.W. Zhao; J.Y. Zhao; J.Z. Zhao; Lei Zhao; Ling Zhao; M.G. Zhao; Q. Zhao; Q.W. Zhao; S.J. Zhao; T.C. Zhao; Y.B. Zhao; Z.G. Zhao; A. Zhemchugov; B. Zheng; J.P. Zheng; W.J. Zheng; Y.H. Zheng; B. Zhong; L. Zhou; Li Zhou; X. Zhou; X.K. Zhou; X.R. Zhou; X.Y. Zhou; K. Zhu; K.J. Zhu; S. Zhu; X.L. Zhu; Y.C. Zhu; Y.S. Zhu; Z.A. Zhu; J. Zhuang; L. Zotti; B.S. Zou; J.H. Zou
Source
Physics Letters B, Vol 761, Iss C, Pp 98-103 (2016)
Subject
Language
English
ISSN
0370-2693
1873-2445
1873-2445
Abstract
Using a data set of 2.93 fb−1 taken at a center-of-mass energy of s=3.773 GeV with the BESIII detector at the BEPCII collider, we measure the process e+e−→J/ψγ→μ+μ−γ and determine the product of the branching fraction and the electronic width Bμμ⋅Γee=(333.4±2.5stat±4.4sys) eV. Using the earlier-published BESIII result for Bμμ=(5.973±0.007stat±0.037sys)%, we derive the J/ψ electronic width Γee=(5.58±0.05stat±0.08sys) keV.