학술논문
半导体器件用显微红外热成像技术原理及应用 / Principles and Applications of Infrared Micro-thermography Technique for Semiconductor Devices
Document Type
Academic Journal
Author
Source
计测技术 / Metrology & Measurement Technology. 38(6):53-60
Subject
Language
Chinese
ISSN
1674-5795
Abstract
对用于半导体器件温度测量的显微红外热成像技术的原理及应用情况进行了总结.显微红外热成像技术基于普朗克黑体辐射定律,依靠测量被测件表面发出的红外辐射确定温度.在中红外波段下,该技术具备最高1.9μm的空间分辨力,配合发射率修正技术,能够测量非黑体的微小半导体器件的真实温度.该技术具备稳态温度成像测量能力、连续毫秒级甚至微秒级的高时间分辨力成像测量能力和脉冲条件下器件温度测量能力.在各类半导体器件不同工作条件下的温度测量方面得到了广泛的应用.