학술논문
宽体探测器CT降低金属植入物所致颌面部伪影 / Wide-detector CT for reducing maxillofacial artifacts of metal implants
Document Type
Academic Journal
Author
Source
中国介入影像与治疗学 / Chinese Journal of Interventional Imaging and Therapy. 18(3):165-169
Subject
Language
Chinese
ISSN
1672-8475
Abstract
目的 探讨宽体探测器CT虚拟单能谱影像(VMI)联合多物质伪影降低(MARS)技术降低金属植入物致颌面部伪影的效果.方法 回顾性分析40例植入金属义齿后接受颌面部CT检查患者,分别重建120 kV-like、VMI(50、70、90、110、130 keV)及VMI(50、70、90、110、130 keV)+MMAR图像,测量口底及头长肌内CT值和噪声(SD),计算对比噪声比(CNR)和伪影指数(AI);对比图像间客观及主观质量评价指标.结果 120 kV-like图像的SD、CNR、AI均低于50 keV VMI(P均＜0.05),SD、AI均高于90、110、130 keV-VMI(P均＜0.001),CNR值均低于110、130 keV-VMI(P均＜0.05).各单能量水平VMI+MMAR 图像的SD、AI 均低于120 kV-like 图像(P 均＜0.001),50、70、90 keV-VMI+MMAR图像SD、AI均低于相应VMI(P均＜0.05),110、130 keV-VMI+MMAR图像SD、AI与对应VMI间差异均无统计学意义(P均＞0.05),各单能量水平VMI+MMAR图像CNR均高于对应VMI及120 kV-like图像(P均＜0.05).120 kV-like图像主观评分低于各单能量水平VMI+MMAR图像(P均＜0.05)而高于50 keV-VMI图像(P=0.002),与70 keV及以上能量水平VMI图像评分差异均无统计学意义(P均＞0.05).各单能量水平VMI+MMAR图像主观评分均高于对应VMI(P均＜0.001).50、70、90、110 keV VMI、VMI+MMAR图像主观评分均随keV增高而增高,110 keV时评分最高,130 keV时减低(P均＜0.05).结论 宽体探测器CT的VMI联合MMAR技术能有效降低金属植入物所致颌面部伪影.