학술논문
Measurement of the $e^+e^-\to\pi^+\pi^-\pi^0$ cross section from 0.7 GeV to 3.0 GeV via initial-state radiation
Document Type
Working Paper
Author
Ablikim, M.; Achasov, M. N.; Adlarson, P.; Ahmed, S.; Albrecht, M.; Alekseev, M.; Amoroso, A.; An, F. F.; An, Q.; Bai, Y.; Bakina, O.; Ferroli, R. Baldini; Balossino, I.; Ban, Y.; Begzsuren, K.; Bennett, J. V.; Berger, N.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bianchi, F.; Biernat, J; Bloms, J.; Boyko, I.; Briere, R. A.; Cai, H.; Cai, X.; Calcaterra, A.; Cao, G. F.; Cao, N.; Cetin, S. A.; Chai, J.; Chang, J. F.; Chang, W. L.; Chelkov, G.; Chen, D. Y.; Chen, G.; Chen, H. S.; Chen, J.; Chen, M. L.; Chen, S. J.; Chen, X. R.; Chen, Y. B.; Cheng, W.; Cibinetto, G.; Cossio, F.; Cui, X. F.; Dai, H. L.; Dai, J. P.; Dai, X. C.; Dbeyssi, A.; Dedovich, D.; Deng, Z. Y.; Denig, A.; Denysenko, I.; Destefanis, M.; De Mori, F.; Ding, Y.; Dong, C.; Dong, J.; Dong, L. Y.; Dong, M. Y.; Dou, Z. L.; Du, S. X.; Fan, J. Z.; Fang, J.; Fang, S. S.; Fang, Y.; Farinelli, R.; Fava, L.; Feldbauer, F.; Felici, G.; Feng, C. Q.; Fritsch, M.; Fu, C. D.; Fu, Y.; Gao, Q.; Gao, X. L.; Gao, Y.; Gao, Y. G.; Garillon, B.; Garzia, I.; Gersabeck, E. M.; Gilman, A.; Goetzen, K.; Gong, L.; Gong, W. X.; Gradl, W.; Greco, M.; Gu, L. M.; Gu, M. H.; Gu, S.; Gu, Y. T.; Guo, A. Q.; Guo, L. B.; Guo, R. P.; Guo, Y. P.; Guskov, A.; Han, S.; Hao, X. Q.; Harris, F. A.; He, K. L.; Heinsius, F. H.; Held, T.; Heng, Y. K.; Himmelreich, M.; Hou, Y. R.; Hou, Z. L.; Hu, H. M.; Hu, J. F.; Hu, T.; Hu, Y.; Huang, G. S.; Huang, J. S.; Huang, X. T.; Huang, X. Z.; Huesken, N.; Hussain, T.; Andersson, W. Ikegami; Imoehl, W.; Irshad, M.; Ji, Q.; Ji, Q. P.; Ji, X. B.; Ji, X. L.; Jiang, H. L.; Jiang, X. S.; Jiang, X. Y.; Jiao, J. B.; Jiao, Z.; Jin, D. P.; Jin, S.; Jin, Y.; Johansson, T.; Kalantar-Nayestanaki, N.; Kang, X. S.; Kappert, R.; Kavatsyuk, M.; Ke, B. C.; Keshk, I. K.; Khoukaz, A.; Kiese, P.; Kiuchi, R.; Kliemt, R.; Koch, L.; Kolcu, O. B.; Kopf, B.; Kuemmel, M.; Kuessner, M.; Kupsc, A.; Kurth, M.; Kurth, M. G.; K\ühn, W.; Lange, J. S.; Larin, P.; Lavezzi, L.; Leithoff, H.; Lenz, T.; Li, C.; Li, C. H.; Li, Cheng; Li, D. M.; Li, F.; Li, G.; Li, H. B.; Li, H. J.; Li, J. C.; Li, Ke; Li, L. K.; Li, Lei; Li, P. L.; Li, P. R.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. L.; Li, X. N.; Li, Z. B.; Li, Z. Y.; Liang, H.; Liang, Y. F.; Liang, Y. T.; Liao, G. R.; Liao, L. Z.; Libby, J.; Lin, C. X.; Lin, D. X.; Lin, Y. J.; Liu, B.; Liu, B. J.; Liu, C. X.; Liu, D.; Liu, D. Y.; Liu, F. H.; Liu, Fang; Liu, Feng; Liu, H. B.; Liu, H. M.; Liu, Huanhuan; Liu, Huihui; Liu, J. B.; Liu, J. Y.; Liu, K.; Liu, K. Y.; Liu, Ke; Liu, L. Y.; Liu, Q.; Liu, S. B.; Liu, T.; Liu, X.; Liu, X. Y.; Liu, Y. B.; Liu, Z. A.; Liu, Zhiqing; Long, Y. F.; Lou, X. C.; Lu, H. J.; Lu, J. D.; Lu, J. G.; Lu, Y.; Lu, Y. P.; Luo, C. L.; Luo, M. X.; Luo, P. W.; Luo, T.; Luo, X. L.; Lusso, S.; Lyu, X. R.; Ma, F. C.; Ma, H. L.; Ma, L. L.; Ma, M. M.; Ma, Q. M.; Ma, X. N.; Ma, X. X.; Ma, X. Y.; Ma, Y. M.; Maas, F. E.; Maggiora, M.; Maldaner, S.; Malde, S.; Malik, Q. A.; Mangoni, A.; Mao, Y. J.; Mao, Z. P.; Marcello, S.; Meng, Z. X.; Messchendorp, J. G.; Mezzadri, G.; Min, J.; Min, T. J.; Mitchell, R. E.; Mo, X. H.; Mo, Y. J.; Morales, C. Morales; Muchnoi, N. Yu.; Muramatsu, H.; Mustafa, A.; Nakhoul, S.; Nefedov, Y.; Nerling, F.; Nikolaev, I. B.; Ning, Z.; Nisar, S.; Niu, S. L.; Olsen, S. L.; Ouyang, Q.; Pacetti, S.; Pan, Y.; Papenbrock, M.; Patteri, P.; Pelizaeus, M.; Peng, H. P.; Peters, K.; Pettersson, J.; Ping, J. L.; Ping, R. G.; Pitka, A.; Poling, R.; Prasad, V.; Qi, M.; Qian, S.; Qiao, C. F.; Qin, X. P.; Qin, X. S.; Qin, Z. H.; Qiu, J. F.; Qu, S. Q.; Rashid, K. H.; Ravindran, K.; Redmer, C. F.; Richter, M.; Rivetti, A.; Rodin, V.; Rolo, M.; Rong, G.; Rosner, Ch.; Rump, M.; Sarantsev, A.; Savri\\é, M.; Schelhaas, Y.; Schoenning, K.; Shan, W.; Shan, X. Y.; Shao, M.; Shen, C. P.; Shen, P. X.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, X.; Shi, X. D; Song, J. J.; Song, Q. Q.; Song, X. Y.; Sosio, S.; Sowa, C.; Spataro, S.; Sui, F. F.; Sun, G. X.; Sun, J. F.; Sun, L.; Sun, S. S.; Sun, X. H.; Sun, Y. J.; Sun, Y. K; Sun, Y. Z.; Sun, Z. J.; Sun, Z. T.; Tan, Y. T; Tang, C. J.; Tang, G. Y.; Tang, X.; Thoren, V.; Tsednee, B.; Uman, I.; Wang, B.; Wang, B. L.; Wang, C. W.; Wang, D. Y.; Wang, K.; Wang, L. L.; Wang, L. S.; Wang, M.; Wang, M. Z.; Wang, Meng; Wang, P. L.; Wang, R. M.; Wang, W. P.; Wang, X.; Wang, X. F.; Wang, X. L.; Wang, Y.; Wang, Y. F.; Wang, Y. Q.; Wang, Yaqian; Wang, Z.; Wang, Z. G.; Wang, Z. Y.; Wang, Zongyuan; Weber, T.; Wei, D. H.; Weidenkaff, P.; Weidner, F.; Wen, H. W.; Wen, S. P.; Wiedner, U.; Wilkinson, G.; Wolke, M.; Wu, L. H.; Wu, L. J.; Wu, Z.; Xia, L.; Xia, Y.; Xiao, S. Y.; Xiao, Y. J.; Xiao, Z. J.; Xie, Y. G.; Xie, Y. H.; Xing, T. Y.; Xiong, X. A.; Xiu, Q. L.; Xu, G. F.; Xu, J. J.; Xu, L.; Xu, Q. J.; Xu, W.; Xu, X. P.; Yan, F.; Yan, L.; Yan, W. B.; Yan, W. C.; Yan, Y. H.; Yang, H. J.; Yang, H. X.; Yang, L.; Yang, R. X.; Yang, S. L.; Yang, Y. H.; Yang, Y. X.; Yang, Yifan; Yang, Z. Q.; Yang, Zhi; Ye, M.; Ye, M. H.; Yin, J. H.; You, Z. Y.; Yu, B. X.; Yu, C. X.; Yu, J. S.; Yu, T.; Yuan, C. Z.; Yuan, X. Q.; Yuan, Y.; Yue, C. X.; Yuncu, A.; Zafar, A. A.; Zeng, Y.; Zhang, B. X.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, H. H.; Zhang, H. Y.; Zhang, J.; Zhang, J. L.; Zhang, J. Q.; Zhang, J. W.; Zhang, J. Y.; Zhang, J. Z.; Zhang, K.; Zhang, L.; Zhang, Lei; Zhang, S. F.; Zhang, T. J.; Zhang, X. Y.; Zhang, Y.; Zhang, Y. H.; Zhang, Y. T.; Zhang, Yang; Zhang, Yao; Zhang, Yi; Zhang, Yu; Zhang, Z. H.; Zhang, Z. P.; Zhang, Z. Y.; Zhao, G.; Zhao, J.; Zhao, J. W.; Zhao, J. Y.; Zhao, J. Z.; Zhao, Lei; Zhao, Ling; Zhao, M. G.; Zhao, Q.; Zhao, S. J.; Zhao, T. C.; Zhao, Y. B.; Zhao, Z. G.; Zhemchugov, A.; Zheng, B.; Zheng, J. P.; Zheng, Y.; Zheng, Y. H.; Zhong, B.; Zhou, L.; Zhou, L. P.; Zhou, Q.; Zhou, X.; Zhou, X. K.; Zhou, X. R.; Zhou, Xiaoyu; Zhou, Xu; Zhu, A. N.; Zhu, J.; Zhu, K.; Zhu, K. J.; Zhu, S. H.; Zhu, W. J.; Zhu, X. L.; Zhu, Y. C.; Zhu, Y. S.; Zhu, Z. A.; Zhuang, J.; Zou, B. S.; Zou, J. H.
Source
Subject
Language
Abstract
The cross section of the process $e^+e^-\to\pi^+\pi^-\pi^0$ is measured with a precision of 1.6% to 25% in the energy range between $0.7$ and 3.0 GeV using the Initial State Radiation method. A data set with an integrated luminosity of $2.93$fb$^{-1}$ taken at the center-of-mass energy of $\sqrt{s}=3.773$GeV with the BESIII detector at the BEPCII collider is used. The product branching fractions for $\omega$, $\phi$, $\omega(1420)$, and $\omega(1650)$ are measured to be $\mathcal{B}(\omega\to e^+e^-) \times \mathcal{B}(\omega \to \pi^+\pi^-\pi^0)=(6.94\pm0.08\pm0.16) \times 10^{-5}$, $\mathcal{B}(\phi\to e^+e^-) \times \mathcal{B}(\phi\to\pi^+\pi^-\pi^0) = (4.20\pm0.08\pm0.19) \times 10^{-5}$, $\mathcal{B}(\omega(1420)\to e^+e^-) \times \mathcal{B}(\omega(1420) \to \pi^+\pi^-\pi^0) = (0.84\pm0.09\pm0.09) \times 10^{-6}$, and $\mathcal{B}(\omega(1650) \to e^+e^) \times \mathcal{B}(\omega(1650)\to \pi^+\pi^-\pi^0) = (1.14\pm0.15\pm0.15)\times10^{-6}$, respectively. The branching fraction $\mathcal{B}(J/\psi\to \pi^+\pi^-\pi^0)$ is measured to be $(2.188 \pm 0.024 \pm 0.024 \pm0.040 (\Gamma_{ee}^{J/\psi}))\%$, where $\Gamma_{ee}^{J/\psi}$ is the dileptonic width of $J/\psi$. The first errors are of statistical, the second and third ones of systematic nature.