학술논문
Measurement of the τ lifetime
Document Type
Article
Author
Acton, P. D.; Alexander, G.; Allison, J.; Allport, P. P.; Anderson, K. J.; Arcelli, S.; Astbury, A.; Axen, D.; Azuelos, G.; Bahan, G. A.; Baines, J. T. M.; Ball, A. H.; Banks, J.; Barlow, R. J.; Barnett, S.; Batley, J. R.; Beaudoin, G.; Beck, A.; Becker, J.; Behnke, T.; Bell, K. W.; Bella, G.; Bentkowski, P.; Berlich, P.; Bethke, S.; Biebel, O.; Binder, U.; Bloodworth, I. J.; Bock, P.; Boden, B.; Bosch, H. M.; Breuker, H.; Brieght-Thomas, P.; Brown, R. M.; Buijs, A.; Burckhart, H. J.; Burgard, C.; Capiluppi, P.; Carnegie, R. K.; Carter, A. A.; Carter, J. R.; Chang, C. Y.; Charlton, D. G.; Chu, S. L.; Clarke, P. E. L.; Cohen, I.; Clayton, J. C.; Collins, W. J.; Conboy, J. E.; Cooper, M.; Coupland, M.; Cuffiani, M.; Dado, S.; Dallavalle, G. M.; De Jong, S.; del Pozo, L. A.; Deng, H.; Dieckmann, A.; Dittmar, M.; Dixit, M. S.; do Couto e Silva, E.; Duboscq, J. E.; Duchovni, E.; Duckeck, G.; Duerdoth, I. P.; Dumas, D. J. P.; Elcombe, P. A.; Estabrooks, P. G.; Etzion, E.; Evans, H. G.; Fabbri, F.; Fierro, M.; Fincke-Keeler, M.; Fischer, H. M.; Fong, D. G.; Foucher, M.; Gaidot, A.; Ganel, O.; Gary, J. W.; Gascon, J.; McGowan, R. F.; Geddes, N. I.; Geich-Gimbel, C.; Gensler, S. W.; Gentit, F. X.; Giacomelli, G.; Giacomelli, R.; Gibson, V.; Gibson, W. R.; Gillies, J. D.; Goldberg, J.; Goodrick, M. J.; Gorn, W.; Grandi, C.; Grant, F. C.; Hagemann, J.; Hanson, G. G.; Hansroul, M.; Hargrove, C. K.; Harrison, P. F.; Hart, J.; Hattersley, P. M.; Hauschild, M.; Hawkes, C. M.; Heflin, E.; Hemingway, R. J.; Heuer, R. D.; Hill, J. C.; Hillier, S. J.; Hilse, T.; Hinshaw, D. A.; Hobbs, J. D.; Hobson, P. R.; Hochman, D.; Homer, R. J.; Honma, A. K.; Hughes-Jones, R. E.; Humbert, R.; Igo-Kemenes, P.; Ihssen, H.; Imrie, D. C.; Janissen, A. C.; Jawahery, A.; Jeffreys, P. W.; Jeremie, H.; Jimack, M.; Jobes, M.; Jones, R. W. L.; Jovanovic, P.; Jui, C.; Karlen, D.; Kawagoe, K.; Kawamoto, T.; Keeler, R. K.; Kellogg, R. G.; Kennedy, B. W.; Kluth, S.; Kobayashi, T.; Koetke, D. S.; Kokott, T. P.; Komamiya, S.; Köpke, L.; Kral, J. F.; Kowalewski, R.; von Krogh, J.; Kroll, J.; Kuwano, M.; Kyberd, P.; Lafferty, G. D.; Lahmann, R.; Lamarche, F.; Layter, J. G.; Leblanc, P.; Lee, A. M.; Lehto, M. H.; Lellouch, D.; Leroy, C.; Letts, J.; Levegrün, S.; Levinson, L.; Lloyd, S. L.; Loebinger, F. K.; Lorah, J. M.; Lorazo, B.; Losty, M. J.; Lou, X. C.; Ludwig, J.; Mannelli, M.; Marcellini, S.; Maringer, G.; Markus, C.; Martin, A. J.; Martin, J. P.; Mashimo, T.; Mättig, P.; Maur, U.; McKenna, J.; McMahon, T. J.; McNutt, J. R.; Meijers, F.; Menszner, D.; Merritt, F. S.; Mes, H.; Michelini, A.; Middleton, R. P.; Mikenberg, G.; Mildenberger, J.; Miller, D. J.; Mir, R.; Mohr, W.; Moisan, C.; Montanari, A.; Mori, T.; Morii, M.; Mouthuy, T.; Nellen, B.; Nguyen, H. H.; Nozaki, M.; O'Neale, S. W.; Oakham, F. G.; Odorici, F.; Ogren, H. O.; Oram, C. J.; Oreglia, M. J.; Orito, S.; Pansart, J. P.; Panzer-Steindel, B.; Paschievici, P.; Patrick, G. N.; Paz-Jaoshvili, N.; Pfister, P.; Pilcher, J. E.; Pinfold, J.; Pitman, D.; Plane, D. E.; Poffenberger, P.; Poli, B.; Pouladdej, A.; Pritchard, T. W.; Przysiezniak, H.; Quast, G.; Redmond, M. W.; Rees, D. L.; Richards, G. E.; Robinson, D.; Rollnik, A.; Roney, J. M.; Ros, E.; Rossberg, S.; Rossi, A. M.; Rosvick, M.; Routenburg, P.; Runge, K.; Runolfsson, O.; Rust, D. R.; Sasaki, M.; Sbarra, C.; Schaile, A. D.; Schaile, O.; Schappert, W.; Scharff-Hansen, P.; Schenk, P.; Schmitt, B.; von der Schmitt, H.; Schreiber, S.; Schwick, C.; Schwiening, J.; Scott, W. G.; Settles, M.; Shears, T. G.; Shen, B. C.; Shepherd-Themistocleous, C. H.; Sherwood, P.; Shypit, R.; Simon, A.; Singh, P.; Siroli, G. P.; Skuja, A.; Smith, A. M.; Smith, T. J.; Snow, G. A.; Sobie, R.; Springer, R. W.; Sproston, M.; Stephens, K.; Steuerer, J.; Ströhmer, R.; Strom, D.; Takeshita, T.; Taras, P.; Tarem, S.; Tecchio, M.; Teixeira-Dias, P.; Tesch, N.; Thackray, N. J.; Thomson, M. A.; Torrente-Lujan, E.; Transtromer, G.; Tresilian, N. J.; Tsukamoto, T.; Turner, M. F.; Tysarczyk-Niemeyer, G.; Van den plas, D.; Van Kooten, R.; Van Dalen, G. J.; Vasseur, G.; Virtue, C. J.; Wagner, A.; Wagner, D. L.; Wahl, C.; Walker, J. P.; Ward, C. P.; Ward, D. R.; Watkins, P. M.; Watson, A. T.; Watson, N. K.; Weber, M.; Weber, P.; Wells, P. S.; Wermes, N.; Whalley, M. A.; Wilson, G. W.; Wilson, J. A.; Winterer, V. -H.; Wlodek, T.; Wotton, S.; Wyatt, T. R.; Yaari, R.; Yeaman, A.; Yekutieli, G.; Yurko, M.; Zeuner, W.; Zorn, G. T.
Source
Zeitschrift für Physik C Particles and Fields; June 1993, Vol. 59 Issue: 2 p183-194, 12p
Subject
Language
ISSN
01709739; 14315858
Abstract
The t lifetime has been measured with the OPAL detector at LEP, from analyses using the impact parameters in decays to single charged tracks, and the decay lengths from t decays to three charged tracks. The 1991 sample of approximately 12300 t-pair events, of which 70% contain silicon microvertex detector information, has been combined with a re-analysis of the 5100 events recorded during 1990. The two statistically-independent determinations give: $$\begin{gathered} \tau (one - prong) = 296.4 \pm 7.1 (stat) \pm 3.8 (sys) fs, \hfill \\ \tau (three - prong) = 286.3 \pm 7.4 (stat) \pm 5.2 (sys) fs. \hfill \\ \end{gathered} $$ The weighted average of these results after combination of the uncorrelated systematic errors is: $$\tau _\tau = 291.9 \pm 5.1 (stat) \pm 3.1 (sys) fs.$$ .