학술논문
VERT-X: VERTical X-ray raster-scan facility for ATHENA calibration. The concept design.
Document Type
Article
Author
O'Dell, Stephen L.; Pareschi, Giovanni; Moretti, A.; Pareschi, G.; Uslenghi, M.; Tordi, M.; Bressan, R.; Valsecchi, G.; Zocchi, F.; Attina, P.; Amisano, F.; Sironi, G.; Salmaso, B.; Basso, S.; Tagliaferri, G.; Spiga, D.; La Palombara, N.; Fiorini, M.; Dury, F.; Marioni, F.; Parissenti, G.; Parodi, G.; Wille, E.; Corradi, P.; Bavdaz, M.; Ferreira, I.
Source
Proceedings of SPIE; September 2019, Vol. 11119 Issue: 1 p111190O-111190O-13, 11007824p
Subject
Language
ISSN
0277786X