소장자료

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ㅏ	あ a	ぁ	か ka	が ga	さ sa	ざ za	た ta	だ da		な na	は ha	ば ba	ぱ pa	ま ma	や ya	ゃ lya	ら ra	わ wa	ゎ lwa	ん n
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ㅏ	ア a	ァ	カ ka	ガ ga	サ sa	ザ za	タ ta	ダ da		ナ na	ハ ha	バ ba	パ pa	マ ma	ヤ ya	ャ lya	ラ ra	ワ wa	ヮ lwa		ン n
l	イ i	ィ	キ ki	ギ gi	シ si	ジ zi	チ ti	ヂ di		ニ ni	ヒ hi	ビ bi	ピ pi	ミ mi			リ ri
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ㅗ	オ o	ォ	コ ko	ゴ go	ソ so	ゾ zo	ト to	ド do		ノ no	ホ ho	ボ bo	ポ po	モ mo	ヨ yo	ョ lyo	ロ ro	ヲ wo		ーー

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'소장자료' 에서 검색결과 6건

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국외단행본

Automatic test equipment : hardware, software, and management

Liguori, Fred

New York : IEEE Press , c1974.

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Failure diagnosis and performance monitoring

Pau, L.-F

New York : M. Dekker , c1981.

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Neural models and algorithms for digital testing

Chakradhar, Srimat T

Boston : Kluwer Academic Publishers , c1991.

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Tutorial test generation for VLSI chips

Agrawal, Vishwani D

Washington, D.C. : Computer Society Press

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International Test Conference, 1991 : proceedings

International Test Conference

Altoona, PA : The Conference , c1991.

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국외단행본

Competent expert systems : a case study in fault diagnosis

Keravnou, E. T

New York : MacGraw-Hill , 1986.

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