소장자료
LDR | 00856pamua2200241 a 4500 | ||
001 | 0000359622▲ | ||
005 | 20180520024426▲ | ||
008 | 960816s1997 caua b 001 0 eng ▲ | ||
010 | ▼a 96042114▲ | ||
020 | ▼a 0124343309 (alk. paper)▲ | ||
040 | ▼a DLC ▼c DLC ▼d DLC▲ | ||
050 | 0 | 0 | ▼a TK7874.75 ▼b .L35 1997▲ |
082 | 0 | 0 | ▼a 621.39/5/0287 ▼2 20▲ |
090 | ▼a 621.3950287 ▼b L194d▲ | ||
100 | 1 | ▼a Lala, Parag K. , ▼d 1948-▲ | |
245 | 1 | 0 | ▼a Digital circuit testing and testability / ▼c Parag K. Lala.▲ |
260 | ▼a San Diego : ▼b Academic Press , ▼c c1997.▲ | ||
300 | ▼a xii, 199 p. : ▼b ill. ; ▼c 24 cm.▲ | ||
504 | ▼a Includes bibliographical references and index.▲ | ||
650 | 0 | ▼a Integrated circuits ▼x Very large scale integration ▼x Testing.▲ | |
650 | 0 | ▼a Digital integrated circuits ▼x Testing.▲ | |
650 | 0 | ▼a Integrated circuits ▼x Fault tolerance.▲ | |
950 | 0 | ▼b $67▲ |
Digital circuit testing and testability
자료유형
국외단행본
서명/책임사항
Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala.
개인저자
발행사항
San Diego : Academic Press , c1997.
형태사항
xii, 199 p. : ill. ; 24 cm.
서지주기
Includes bibliographical references and index.
주제
ISBN
0124343309 (alk. paper)
청구기호
621.3950287 L194d
소장정보
예도서예약
서서가에없는책 신고
보보존서고신청
캠캠퍼스대출
우우선정리신청
배자료배달신청
문문자발송
출청구기호출력
학소장학술지 원문서비스
등록번호 | 청구기호 | 소장처 | 도서상태 | 반납예정일 | 서비스 |
---|
북토크
자유롭게 책을 읽고
느낀점을 적어주세요
글쓰기
느낀점을 적어주세요
청구기호 브라우징
관련 인기대출 도서