소장자료
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Tutorial test generation for VLSI chips
자료유형
국외단행본
서명/책임사항
Tutorial test generation for VLSI chips / [edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth.
부출서명
Test generation for VLSI chips.
발행사항
Washington, D.C. : Computer Society Press ; Los Angeles, CA : Order from Computer Society , 1988.
형태사항
x, 401 p. : ill. ; 29 cm.
일반주기
"Computer Society order number 786."
"IEEE catalog number EH0278-2."
Includes index.
"IEEE catalog number EH0278-2."
Includes index.
서지주기
Bibliography: p. 333-394.
ISBN
081868786X 0818647868 (microfiche)
청구기호
621.395 A277t
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