학술논문
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1~20
Academic Journal
Naeim, M.; Biswas, D.; Dai, Y.; Zografos, O.; Oprins, H.; Van der Plas, G.; Kao, C.T.; Chen, P.; Milojevic, D.
IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems IEEE J. Emerg. Sel. Topics Circuits Syst. Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems, IEEE Journal on. 15(4):648-658 Dec, 2025
Conference
Milojevic, D.; Rocha, L.G.; Stephenson, J.; Stefanidis, L.; Stassar, M.; Naeim, M.; Verhelst, M.; Biswas, D.; Myers, J.
2025 IEEE European Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC) Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC), 2025 IEEE European. :37-40 Sep, 2025
Conference
Sharma, A.; Oh, H.; Verschueren, L.; Subhechha, S.; Rassoul, N.; Bardon, M. Garcia; Belmonte, A.; Kar, G. S.; Hellings, G.; Biswas, D.; Garcia-Redondo, F.
2025 IEEE European Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC) Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC), 2025 IEEE European. :45-48 Sep, 2025
Academic Journal
Bhattacharjee, I.; Biswas, D.; Chatterjee, S.; Parab, D.; Kumar Chakraborty, A.; Das, N.; Ghorai, S.; Ghatak, B.; Tudu, B.
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 25(21):39410-39417 Nov, 2025
Academic Journal
Edwards, A.J.; Usih, E.C.; Zhou, P.; Hill, B.A.; Martindell, S.; Qi, T.; Biswas, D.; Hu, X.; Panduranga, S.M.; Friedman, J.S.
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 33(11):3109-3117 Nov, 2025
Academic Journal
Bhattacharjee, I.; Firdoushi, S.; Dasgupta, S.; Ahmed, A.H.M.T.; Biswas, D.; Ghorai, S.; Tudu, B.; Chatterjee, A.; Bandyopadhyay, R.
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 25(12):21085-21092 Jun, 2025
Academic Journal
Levit, D.; Bessner, M.; Biswas, D.; Charlet, D.; Higuchi, T.; Itoh, R.; Jules, E.; Kapusta, P.; Kunigo, T.; Lai, Y.; Lau, T.S.; Nakao, M.; Nishimura, K.; Park, S.; Plaige, E.; Purwar, H.; Robbe, P.; Suzuki, S.Y.; Taurigna, M.; Varner, G.; Yamada, S.; Zhou, Q.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 72(3):287-294 Mar, 2025
Academic Journal
IEEE Microwave and Wireless Technology Letters IEEE Microw. Wireless Tech. Lett. Microwave and Wireless Technology Letters, IEEE. 35(3):310-313 Mar, 2025
Academic Journal
Das, S.; Riedel, S.; Naeim, M.; Brunion, M.; Bertuletti, M.; Benini, L.; Ryckaert, J.; Myers, J.; Biswas, D.; Milojevic, D.
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 33(2):346-357 Feb, 2025
Academic Journal
Bhattacharjee, I.; Dasgupta, S.; Firdoushi, S.; Biswas, D.; Toufique Ahmed, A.H.M.; Mukherjee, S.; Bandyopadhyay, R.; Tudu, B.
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(23):38613-38619 Dec, 2024
Academic Journal
Medina, R.; Ansaloni, G.; Zapater, M.; Levisse, A.; Alinezhad Chamazcoti, S.; Evenblij, T.; Biswas, D.; Catthoor, F.; Atienza, D.
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 43(11):4117-4129 Nov, 2024
Academic Journal
Giacomini Rocha, L.M.; Bilgic, R.; Naeim, M.; Das, S.; Oprins, H.; Yousefzadeh, A.; Konijnenburg, M.; Milojevic, D.; Myers, J.; Ryckaert, J.; Biswas, D.
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 32(11):2144-2148 Nov, 2024
Conference
Mishra, S.; Vermeersch, B.; Sankatali, V.; Kukner, H.; Sharma, A.; Mirabeli, G.; Bufler, F. M.; Brunion, M.; Abdi, D.; Oprins, H.; Biswas, D.; Zografos, O.; Catthoor, F.; Weckx, P.; Hellings, G.; Myers, J.; Ryckaert, J.
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-6 Apr, 2024
Academic Journal
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 32(6):1018-1031 Jun, 2024
Report
Belle II Collaboration; Abumusabh, M.; Adachi, I.; Aggarwal, L.; Ahmed, H.; Ahn, Y.; Aihara, H.; Akopov, N.; Alghamdi, S.; Alhakami, M.; Aloisio, A.; Althubiti, N.; Amos, K.; Ky, N. Anh; Antonioli, C.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Baghel, N. K.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Barrett, M.; Bartl, M.; Baudot, J.; Beaubien, A.; Becker, J.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Borah, J.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campagna, Q.; Campajola, M.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Chang, P.; Cheema, P.; Chen, L.; Cheon, B. G.; Cheshta, C.; Chetri, H.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Chutia, S.; Colorado-Caicedo, J. A.; Consigny, I.; Corona, L.; Cui, J. X.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; Di Canto, A.; Doležal, Z.; Jiménez, I. Domínguez; Dong, T. V.; Dong, X.; Dorigo, M.; Dujany, G.; Ecker, P.; Eppelt, J.; Farkas, R.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gautam, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giordano, R.; Giri, A.; Gironell, P. Gironella; Glazov, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gudkova, K.; Haide, I.; Han, Y.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hearty, C.; Hedges, M. T.; Heine, G.; de la Cruz, I. Heredia; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hoppe, R.; Horak, P.; Hou, X. T.; Hsu, C. -L.; Huang, A.; Humair, T.; Iijima, T.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobi, D.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Ji, Q. P.; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Kang, S.; Karyan, G.; Keil, F.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, J. -Y.; Kim, K. -H.; Kindo, H.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, D.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lam, T.; Lange, J. S.; Lau, T. S.; Laurenza, M.; Leboucher, R.; Diberder, F. R. Le; Lee, H.; Lee, M. J.; Lemettais, C.; Leo, P.; Lewis, P. M.; Li, C.; Li, H. -J.; Li, L. K.; Li, Q. M.; Li, S. X.; Li, W. Z.; Li, Y.; Li, Y. B.; Liao, Y. P.; Libby, J.; Lin, J.; Lisovskyi, V.; Liu, M. H.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lozar, A.; Lueck, T.; Lyu, C.; Ma, J. L.; Ma, Y.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marfoli, M.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martens, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Maushart, M.; McKenna, J. A.; Gruberová, Z. Mediankin; Mehta, R.; Meier, F.; Meleshko, D.; Merola, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Miyake, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moneta, S.; Moser, H. -G.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Naruki, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, M.; Nishida, S.; Nomaru, R.; Ogawa, S.; Ono, H.; Otani, F.; Pakhlova, G.; Panta, A.; Pardi, S.; Parham, K.; Park, J.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Praz, C.; Prell, S.; Prim, M. T.; Privalov, S.; Purwar, H.; Rados, P.; Raiz, S.; Ravindran, K.; Rehman, J. U.; Reif, M.; Reiter, S.; Reuter, L.; Herrmann, D. Ricalde; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Robertson, S. H.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Saha, S.; Salutari, L.; Sanders, D. A.; Santelj, L.; Santos, C.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schneider, S.; Schoenning, K.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Serrano, J.; Sfienti, C.; Shan, W.; Sharma, G.; Shen, C. P.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Špenko, K.; Spruck, B.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stroili, R.; Sumihama, M.; Tang, S. S.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Testa, F.; Thaller, A.; Manh, T. Tien; Tittel, O.; Tiwary, R.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Trantou, F. F.; Ueda, I.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; van Tonder, R.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, M. -Z.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Wessel, C.; Won, E.; Xu, X. P.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yelton, J.; Yi, K.; Yin, J. H.; Yoshihara, K.; Yuan, J.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zeyrek, M.; Zhou, J. S.; Zhou, Q. D.; Zhu, L.; Žlebčík, R.
Academic Journal
Dasgupta, S.; Ahmed, A.H.M.T.; Bhattacharjee, I.; Firdoushi, S.; Biswas, D.; Mukherjee, S.; Bandyopadhyay, R.; Tudu, B.
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(13):20750-20757 Jul, 2024
Academic Journal
IEEE Embedded Systems Letters IEEE Embedded Syst. Lett. Embedded Systems Letters, IEEE. 16(2):218-221 Jun, 2024
Academic Journal
Giacomini Rocha, L.M.; Naeim, M.; Paim, G.; Brunion, M.; Venugopal, P.; Milojevic, D.; Myers, J.; Badaroglu, M.; Verhelst, M.; Ryckaert, J.; Biswas, D.
IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits IEEE J. Explor. Solid-State Comput. Devices Circuits Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, IEEE Journal on. 10:125-134 2024
Academic Journal
Das, S.; Kumari, B.; Satyendra Sahoo, S.; Chen, Y.; Myers, J.; Milojevic, D.; Biswas, D.; Ryckaert, J.
IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits IEEE J. Explor. Solid-State Comput. Devices Circuits Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, IEEE Journal on. 10:67-74 2024
Conference
Mishra, S.; Sankatali, V.; Vermeersch, B.; Brunion, M.; Lofrano, M.; Abdi, D.; Oprins, H.; Biswas, D.; Zografos, O.; Hiblot, G.; Van Der Plas, G.; Weckx, P.; Hellings, G.; Myers, J.; Catthoor, F.; Ryckaert, J.
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-7 Mar, 2023
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