학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 55건 | 목록
1~10
Conference
Alzate, J.G.; Arslan, U.; Bai, P.; Brockman, J.; Chen, Y. J.; Das, N.; Fischer, K.; Ghani, T.; Heil, P.; Hentges, P.; Jahan, R.; Littlejohn, A.; Mainuddin, M.; Ouellette, D.; Pellegren, J.; Pramanik, T.; Puls, C.; Quintero, P.; Rahman, T.; Sekhar, M.; Sell, B.; Seth, M.; Smith, A. J.; Smith, A. K.; Wei, L.; Wiegand, C.; Golonzka, O.; Hamzaoglu, F.
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2019 IEEE International. :2.4.1-2.4.4 Dec, 2019
Conference
Golonzka, O.; Arslan, U.; Bai, P.; Bohr, M.; Baykan, O.; Chang, Y.; Chaudhari, A.; Chen, A.; Clarke, J.; Connor, C.; Das, N.; English, C.; Ghani, T.; Hamzaoglu, F.; Hentges, P.; Jain, P.; Jezewski, C.; Karpov, I.; Kothari, H.; Kotlyar, R.; Lin, B.; Metz, M.; Odonnell, J.; Ouellette, D.; Park, J.; Pirkle, A.; Quintero, P.; Seghete, D.; Sekhar, M.; Gupta, A.S.; Seth, M.; Strutt, N.; Wiegand, C.; Yoo, H.J.; Fischer, K.
2019 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2019 Symposium on. :T230-T231 Jun, 2019
Conference
Golonzka, O.; Alzate, J. -G.; Arslan, U.; Bohr, M.; Bai, P.; Brockman, J.; Buford, B.; Connor, C.; Das, N.; Doyle, B.; Ghani, T.; Hamzaoglu, F.; Heil, P.; Hentges, P.; Jahan, R.; Kencke, D.; Lin, B.; Lu, M.; Mainuddin, M.; Meterelliyoz, M.; Nguyen, P.; Nikonov, D.; O'brien, K.; Donnell, J.O; Oguz, K.; Ouellette, D.; Park, J.; Pellegren, J.; Puls, C.; Quintero, P.; Rahman, T.; Romang, A.; Sekhar, M.; Selarka, A.; Seth, M.; Smith, A. J.; Smith, A. K.; Wei, L.; Wiegand, C.; Zhang, Z.; Fischer, K.
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2018 IEEE International. :18.1.1-18.1.4 Dec, 2018
Conference
Tyagi, S.; Auth, C.; Bai, P.; Curello, G.; Deshpande, H.; Gannavaram, S.; Golonzka, O.; Heussner, R.; James, R.; Kenyon, C.; Lee, S.-H.; Lindert, N.; Liu, M.; Nagisetty, R.; Natarajan, S.; Parker, C.; Sebastian, J.; Sell, B.; Sivakumar, S.; St Amour, A.; Tone, K.
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :245-247 2005
Conference
Packan, P.; Akbar, S.; Armstrong, M.; Bergstrom, D.; Brazier, M.; Deshpande, H.; Dev, K.; Ding, G.; Ghani, T.; Golonzka, O.; Han, W.; He, J.; Heussner, R.; James, R.; Jopling, J.; Kenyon, C.; Lee, S-H.; Liu, M.; Lodha, S.; Mattis, B.; Murthy, A.; Neiberg, L.; Neirynck, J.; Pae, S.; Parker, C.; Pipes, L.; Sebastian, J.; Seiple, J.; Sell, B.; Sharma, A.; Sivakumar, S.; Song, B.; St. Amour, A.; Tone, K.; Troeger, T.; Weber, C.; Zhang, K.; Luo, Y.; Natarajan, S.
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2009 IEEE International. :1-4 Dec, 2009
Conference
Packan, P.; Cea, S.; Deshpande, H.; Ghani, T.; Giles, M.; Golonzka, O.; Hattendorf, M.; Kotlyar, R.; Kuhn, K.; Murthy, A.; Ranade, P.; Shifren, L.; Weber, C.; Zawadzki, K.
2008 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. :1-4 Dec, 2008
Conference
Natarajan, S.; Armstrong, M.; Bost, M.; Brain, R.; Brazier, M.; Chang, C.-H.; Chikarmane, V.; Childs, M.; Deshpande, H.; Dev, K.; Ding, G.; Ghani, T.; Golonzka, O.; Han, W.; He, J.; Heussner, R.; James, R.; Jin, I.; Kenyon, C.; Klopcic, S.; Lee, S.-H.; Liu, M.; Lodha, S.; McFadden, B.; Murthy, A.; Neiberg, L.; Neirynck, J.; Packan, P.; Pae, S.; Parker, C.; Pelto, C.; Pipes, L.; Sebastian, J.; Seiple, J.; Sell, B.; Sivakumar, S.; Song, B.; Tone, K.; Troeger, T.; Weber, C.; Yang, M.; Yeoh, A.; Zhang, K.
2008 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. :1-3 Dec, 2008
Academic Journal
Academic Journal
Conference
Chang, Y.-F.; Karpov, I.; Pramanik, T.; Chen, A.; Acosta, T.; Guler, A.; O'Donnell, J.A.; Quintero, P.A.; Strutt, N.; Golonzka, O.; Connor, C.; Hicks, J.; Hopkins, R.; Janosky, D.; Medeiros, J.; Sherrill, B.; Zhang, J.; Huang, Y.; Lee, J.C.
In: IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings , 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2021 - Proceedings. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, March 2021, 2021-March)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Golonzka, O.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어