학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 278건 | 목록
1~10
Academic Journal
In Surface & Coatings Technology 25 October 2017 327:185-191
Academic Journal
IEEE Access Access, IEEE. 9:19327-19344 2021
Indigenous facility of the unipolar pulsed power generation for gas flow sputtering of titania films
Academic Journal
In: Review of Scientific Instruments . (Review of Scientific Instruments, 1 July 2023, 94(7))
Academic Journal
Puźniak, M.; Mroczyński, R.; Gajewski, W.; Seweryn, A.; Klepka, M.T.; Witkowski, B.S.; Godlewski, M.
In: Materials . (Materials, March 2023, 16(6))
Conference
In: AIP Conference Proceedings . (AIP Conference Proceedings, 28 March 2024, 3130(1))
Conference
In: AIP Conference Proceedings . (AIP Conference Proceedings, 28 March 2024, 3130(1))
Academic Journal
Fukuda, S.; Fukuda, Y.; Hayakawa, T.; Ichihara, E.; Ishitsuka, M.; Itow, Y.; Kajita, T.; Kameda, J.; Kaneyuki, K.; Kasuga, S.; Kobayashi, K.; Kobayashi, Y.; Koshio, Y.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Namba, T.; Obayashi, Y.; Okada, A.; Oketa, M.; Okumura, K.; Oyabu, T.; Sakurai, N.; Shiozawa, M.; Suzuki, Y.; Takeuchi, Y.; Toshito, T.; Totsuka, Y.; Yamada, S.; Desai, S.; Earl, M.; Hong, J.T.; Kearns, E.; Masuzawa, M.; Messier, M.D.; Stone, J.L.; Sulak, L.R.; Walter, C.W.; Wang, W.; Scholberg, K.; Barszczak, T.; Casper, D.; Liu, D.W.; Gajewski, W.; Halverson, P.G.; Hsu, J.; Kropp, W.R.; Mine, S.; Price, L.R.; Reines, F.; Smy, M.; Sobel, H.W.; Vagins, M.R.; Ganezer, K.S.; Keig, W.E.; Ellsworth, R.W.; Tasaka, S.; Flanagan, J.W.; Kibayashi, A.; Learned, J.G.; Matsuno, S.; Stenger, V.J.; Hayato, Y.; Ishii, T.; Ichikawa, A.; Kanzaki, J.; Kobayashi, T.; Maruyama, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakai, A.; Sakuda, M.; Sasaki, O.; Echigo, S.; Iwashita, T.; Kohama, M.; Suzuki, A.T.; Hasegawa, M.; Inagaki, T.; Kato, I.; Maesaka, H.; Nakaya, T.; Nishikawa, K.; Yamamoto, S.; Haines, T.J.; Kim, B.K.; Sanford, R.; Svoboda, R.; Blaufuss, E.; Chen, M.L.; Conner, Z.; Goodman, J.A.; Guillian, E.; Sullivan, G.W.; Turcan, D.; Habig, A.; Ackerman, M.; Goebel, F.; Hill, J.; Jung, C.K.; Kato, T.; Kerr, D.; Malek, M.; Martens, K.; Mauger, C.; McGrew, C.; Sharkey, E.; Viren, B.; Yanagisawa, C. ; Doki, W.; Inaba, S.; Ito, K.; Kirisawa, M.; Kitaguchi, M.; Mitsuda, C.; Miyano, K.; Saji, C.; Takahata, M.; Takahashi, M.; Higuchi, K.; Kajiyama, Y.; Kusano, A.; Nagashima, Y.; Nitta, K.; Takita, M.; Yamaguchi, T.; Yoshida, M.; Kim, H.I.; Kim, S.B.; Yoo, J.; Okazawa, H.; Etoh, M.; Fujita, K.; Gando, Y.; Hasegawa, A.; Hasegawa, T.; Hatakeyama, S.; Inoue, K.; Ishihara, K.; Iwamoto, T.; Koga, M.; Nishiyama, I.; Ogawa, H.; Shirai, J.; Suzuki, A.; Takayama, T.; Tsushima, F.; Koshiba, M.; Ichikawa, Y.; Hashimoto, T.; Hatakeyama, Y.; Koike, M.; Horiuchi, T.; Nemoto, M.; Nishijima, K.; Takeda, H.; Fujiyasu, H.; Futagami, T.; Ishino, H.; Kanaya, Y.; Morii, M.; Nishihama, H.; Nishimura, H.; Suzuki, T.; Watanabe, Y.; Kielczewska, D.; Golebiewska, U.; Berns, H.G.; Boyd, S.B.; Doyle, R.A.; George, J.S.; Stachyra, A.L.; Wai, L.L.; Wilkes, R.J.; Young, K.K.; Kobayashi, H.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2003 501(2):418-462
Academic Journal
Fukuda, Y. ; Ishihara, K. ; Itow, Y. ; Kajita, T. ; Kameda, J. ; Kasuga, S. ; Kobayashi, K. ; Kobayashi, Y. ; Koshio, Y. ; Miura, M. ; Nakahata, M. ; Nakayama, S. ; Obayashi, Y. ; Okada, A. ; Okumura, K. ; Sakurai, N. ; Shiozawa, M. ; Suzuki, Y. ; Takeuchi, H. ; Takeuchi, Y. ; Totsuka, Y. ; Yamada, S. ; Earl, M. ; Habig, A. ; Kearns, E. ; Messier, M.D. ; Scholberg, K. ; Stone, J.L. ; Sulak, L.R. ; Walter, C.W. ; Goldhaber, M. ; Barszczak, T. ; Casper, D. ; Gajewski, W. ; Kropp, W.R. ; Mine, S. ; Price, L.R. ; Smy, M. ; Sobel, H.W. ; Vagins, M.R. ; Ganezer, K.S. ; Keig, W.E. ; Ellsworth, R.W. ; Tasaka, S. ; Kibayashi, A. ; Learned, J.G. ; Matsuno, S. ; Stenger, V.J. ; Takemori, D. ; Ishii, T. ; Ishino, H. ; Kobayashi, T. ; Nakamura, K. ; Oyama, Y. ; Sakai, A. ; Sakuda, M. ; Sasaki, O. ; Echigo, S. ; Kohama, M. ; Suzuki, A.T. ; Inagaki, T. ; Nishikawa, K. ; Haines, T.J. ; Blaufuss, E. ; Kim, B.K. ; Sanford, R. ; Svoboda, R. ; Chen, M.L. ; Goodman, J.A. ; Sullivan, G.W. ; Hill, J. ; Jung, C.K. ; Martens, K. ; Mauger, C. ; McGrew, C. ; Sharkey, E. ; Viren, B. ; Yanagisawa, C. ; Doki, W. ; Kirisawa, M. ; Inaba, S. ; Miyano, K. ; Okazawa, H. ; Saji, C. ; Takahashi, M. ; Takahata, M. ; Higuchi, K. ; Nagashima, Y. ; Takita, M. ; Yamaguchi, T. ; Yoshida, M. ; Kim, S.B. ; Etoh, M. ; Hasegawa, A. ; Hasegawa, T. ; Hatakeyama, S. ; Inoue, K. ; Iwamoto, T. ; Koga, M. ; Maruyama, T. ; Ogawa, H. ; Shirai, J. ; Suzuki, A. ; Tsushima, F. ; Koshiba, M. ; Hatakeyama, Y. ; Koike, M. ; Nemoto, M. ; Nishijima, K. ; Fujiyasu, H. ; Futagami, T. ; Hayato, Y. ; Kanaya, Y. ; Kaneyuki, K. ; Watanabe, Y. ; Kielczewska, D. ; George, J.S. ; Stachyra, A.L. ; Wilkes, R.J. ; Young, K.K.
In Physics Letters B 1999 467(3):185-193
Academic Journal
In: Microelectronic Engineering . (Microelectronic Engineering, 1 May 2020, 228)
Report
Collaboration, Super-Kamiokande; Desai, S.; Ashie, Y.; Fukuda, S.; Fukuda, Y.; Ishihara, K.; Itow, Y.; Koshio, Y.; Minamino, A.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Namba, T.; Nambu, R.; Obayashi, Y.; Sakurai, N.; Shiozawa, M.; Suzuki, Y.; Takeuchi, H.; Takeuchi, Y.; Yamada, S.; Ishitsuka, M.; Kajita, T.; Kaneyuki, K.; Nakayama, S.; Okada, A.; Ooyabu, T.; Saji, C.; Earl, M.; Kearns, E.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Walter, C. W.; Wang, W.; Goldhaber, M.; Barszczak, T.; Casper, D.; Cravens, J. P.; Gajewski, W.; Kropp, W. R.; Mine, S.; Liu, D. W.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Sterner, C. W.; Vagins, M. R.; Ganezer, K. S.; Hill, J.; Keig, W. E.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Ellsworth, R. W.; Tasaka, S.; Guillian, G.; Kibayashi, A.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Takemori, D.; Messier, M. D.; Hayato, Y.; Ichikawa, A. K.; Ishida, T.; Ishii, T.; Iwashita, T.; Kameda, J.; Kobayashi, T.; Maruyama, T.; Nakamura, K.; Nitta, K.; Oyama, Y.; Sakuda, M.; Totsuka, Y.; Suzuki, A. T.; Hasegawa, M.; Hayashi, K.; Inagaki, T.; Kato, I.; Maesaka, H.; Morita, T.; Nakaya, T.; Nishikawa, K.; Sasaki, T.; Ueda, S.; Yamamoto, S.; Haines, T. J.; Dazeley, S.; Hatakeyama, S.; Svoboda, R.; Blaufuss, E.; Goodman, J. A.; Sullivan, G. W.; Turcan, D.; Scholberg, K.; Habig, A.; Jung, C. K.; Kato, T.; Kobayashi, K.; Malek, M.; Mauger, C.; McGrew, C.; Sarrat, A.; Sharkey, E.; Yanagisawa, C.; Toshito, T.; Mitsuda, C.; Miyano, K.; Shibata, T.; Kajiyama, Y.; Nagashima, Y.; Takita, M.; Yoshida, M.; Kim, H. I.; Okazawa, H.; Ishizuka, T.; Choi, Y.; Seo, H. K.; Gando, Y.; Hasegawa, T.; Inoue, K.; Shirai, J.; Suzuki, A.; Koshiba, M.; Hashimoto, T.; Nakajima, Y.; Nishijima, K.; Harada, T.; Ishino, H.; Morii, M.; Nishimura, R.; Watanabe, Y.; Kielczewska, D.; Zalipska, J.; Gran, R.; Shiraishi, K. K.; Washburn, K.; Wilkes, R. J.
Phys.Rev.D70:083523,2004; Erratum-ibid.D70:109901,2004
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Gajewski, W.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어