학술논문
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Academic Journal
Amoroso, A.; Baldini Ferroli, R.; Balossino, I.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bianchi, F.; Bortone, A.; Calcaterra, A.; Cerioni, S.; Cheng, W.; Cibinetto, G.; Cotta Ramusino, A.; Cotto, G.; Cossio, F.; Da Rocha Rolo, M.; De Mori, F.; Destefanis, M.; Dong, J.; Evangelisti, F.; Farinelli, R.; Fava, L.; Felici, G.; Garzia, I.; Gatta, M.; Giraudo, G.; Gramigna, S.; Greco, M.; Lavezzi, L.; Maggiora, M.; Malaguti, R.; Mangoni, A.; Marcello, S.; Melchiorri, M.; Mezzadri, G.; Pace, E.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Pellegrino, J.; Rivetti, A.; Scodeggio, M.; Sosio, S.; Spataro, S.
In Computer Physics Communications February 2024 295
Academic Journal
Guo, A.Q.; Wu, L.H.; Wang, L.L.; Mitchell, R.E.; Amoroso, A.; Ferroli, R. Baldini; Balossino, I.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bianchi, F.; Bortone, A.; Cibinetto, G.; Ramusino, A. Cotta; Cossio, F.; Cotto, G.; Dong, M.Y.; Rolo, M. Da Rocha; Mori, F. De; Destefanis, M.; Dong, J.; Evangelisti, F.; Farinelli, R.; Fava, L.; Felici, G.; Garzia, I.; Gatta, M.; Giraudo, G.; Gramigna, S.; Garbolino, S.; Greco, M.; Huang, Z.; Hou, Y.R.; Imoehl, W.; Lavezzi, L.; Lu, X.L.; Maggiora, M.; Melendi, F.M.; Malaguti, R.; Mangoni, A.; Marcello, S.; Melchiorri, M.; Mezzadri, G.; Ouyang, Q.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Rivetti, A.; Shi, R.S.; Scodeggio, M.; Sosio, S.; Spataro, S.; Wang, B.L.; Wang, H.P.; Zhang, Y.; Zhao, J.Y.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A May 2023 1050
Academic Journal
Farinelli, R.; Amoroso, A.; Balossino, I.; Bencivenni, G.; Bertani, M.; Cafaro, V.; Cibinetto, G.; De Lucia, E.; Dominici, D.; Evangelisti, F.; Felici, G.; Gatta, M.; Garzia, I.; Giacomelli, P.; Giovannetti, M.; Gramigna, S.; Lavezzi, L.; Melchiorri, M.; Mezzadri, G.; Morello, G.; Papalino, G.; Lener, M. Poli; Scodeggio, M.; Sosio, S.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A March 2023 1048
Academic Journal
Cardarelli, P.; Paternò, G.; Di Domenico, G.; Consoli, E.; Marziani, M.; Andreotti, M.; Evangelisti, F.; Squerzanti, S.; Gambaccini, M.; Albergo, S.; Cappello, G.; Tricomi, A.; Veltri, M.; Adriani, O.; Borgheresi, R.; Graziani, G.; Passaleva, G.; Serban, A.; Starodubtsev, O.; Variola, A.; Palumbo, L.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 11 June 2018 893:109-116
Academic Journal
Cancellieri, C.; Evangelisti, F.; Geldmacher, T.; Araullo-Peters, V.; Ott, N.; Chiodi, M.; Döbeli, M.; Schmutz, P.
In Materials Science & Engineering B December 2017 226:120-131
Academic Journal
Pellegriti, M.G.; Adriani, O.; Albergo, S.; Andreotti, M.; Berto, D.; Borgheresi, R.; Cappello, G.; Cardarelli, P.; Consoli, E.; Di Domenico, G.; Evangelisti, F.; Gambaccini, M.; Graziani, G.; Lenzi, M.; Marziani, M.; Palumbo, L.; Passaleva, G.; Serban, A.; Spina, M.; Starodubtsev, O.; Statera, M.; Tricomi, A.; Variola, A.; Veltri, M.; Zerbo, B.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 September 2017 865:60-62
Academic Journal
Paternò, G.; Cardarelli, P.; Marziani, M.; Bagli, E.; Evangelisti, F.; Andreotti, M.; Gambaccini, M.; Petrillo, V.; Drebot, I.; Bacci, A.; Vaccarezza, C.; Palumbo, L.; Variola, A.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 1 July 2017 402:349-353
Report
Guo, A. Q.; Wu, L. H.; Wang, L. L.; Mitchell, R. E.; Amoroso, A.; Ferroli, R. Baldini; Balossino, I.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bianchi, F.; Bortone, A.; Cibinetto, G.; Ramusino, A. Cotta; Cossio, F.; Dong, M. Y.; Rolo, M. Da Rocha; De Mori, F.; Destefanis, M.; Dong, J.; Evangelisti, F.; Farinelli, R.; Fava, L.; Felici, G.; Garzia, I.; Gatta, M.; Giraudo, G.; Gramigna, S.; Garbolino, S.; Greco, M.; Huang, Z.; Hou, Y. R.; Imoehl, W.; Lavezzi, L.; Lu, X. L.; Maggiora, M.; Melendi, F. M.; Malaguti, R.; Mangoni, A.; Marcello, S.; Melchiorri, M.; Mezzadri, G.; Ouyang, Q.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Rivetti, A.; Shi, R. S.; Scodeggio, M.; Sosio, S.; Spataro, S.; Wang, B. L.; Wang, H. P.; Zhao, J. Y.
Academic Journal
Bagni, R.; Giovine, E.; Carta, S.; Di Gaspare, A.; Casini, R.; Ortolani, M.; Foglietti, V.; Evangelisti, F.; Notargiacomo, A.
In Microelectronic Engineering October 2013 110:470-473
Academic Journal
In Microelectronic Engineering October 2013 110:230-233
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