학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 7건 | 목록
1~10
Academic Journal
Abel, C.; Ayres, N.J.; Ban, G.; Bison, G.; Bodek, K.; Bondar, V.; Chanel, E.; Chiu, P.-J.; Crawford, C.; Daum, M.; Dinani, R.T.; Emmenegger, S.; Flaux, P.; Ferraris-Bouchez, L.; Griffith, W.C.; Grujić, Z.D.; Hild, N.; Kirch, K.; Koch, H.-C.; Koss, P.A.; Kozela, A.; Krempel, J.; Lauss, B.; Lefort, T.; Leredde, A.; Mohanmurthy, P.; Naviliat-Cuncic, O.; Pais, D.; Piegsa, F.M.; Pignol, G.; Rawlik, M.; Rebreyend, D.; Rienäcker, I.; Ries, D.; Roccia, S.; Rozpedzik, D.; Schmidt-Wellenburg, P.; Severijns, N.; Thorne, J.; Weis, A.; Wursten, E.; Zejma, J.; Zsigmond, G.
In Physics Letters B 10 January 2021 812
Academic Journal
Ayres, N.J.; Bondar, V.; Emmenegger, S.; Kirch, K.; Krempel, J.; Ban, G.; Lefort, T.; Naviliat-Cuncic, O.; Saenz-Arevalo, W.; Bison, G.; Chiu, P.-J.; Daum, M.; Doorenbos, C.B.; Lauss, B.; Pais, D.; Rienäcker, I.; Schmidt-Wellenburg, P.; Zsigmond, G.; Bodek, K.; Rozpedzik, D.; Zejma, J.; Bouillaud, T.; Clement, B.; Pignol, G.; Rebreyend, D.; Roccia, S.; Svirina, K.; Chanel, E.; Fratangelo, A.; Piegsa, F.M.; Thorne, J.; Crawford, C.B.; Fertl, M.; Griffith, W.C.; Harris, P.G.; Grujic, Z.D.; Rauscher, G.; Staab, M.; Ries, D.; Shen, B.; Yazdandoost, N.; Schnabel, A.; Severijns, N.; Dinani, R.T.
In: Review of Scientific Instruments . (Review of Scientific Instruments, 1 September 2022, 93(9))
Academic Journal
Ayres, N.J.; Bondar, V.; Emmenegger, S.; Kirch, K.; Kletzl, V.; Krempel, J.; Pais, D.; Rienäcker, I.; Ziehl, N.; Berezhiani, Z.; Biondi, R.; Rossi, N.; Bison, G.; Chiu, P.-J.; Daum, M.; Doorenbos, C.B.; Lauss, B.; Schmidt-Wellenburg, P.; Tanaka, K.S.; Zsigmond, G.; Bodek, K.; Rozpedzik, D.; Zejma, J.; Dinani, R.T.; Ries, D.
In: Symmetry . (Symmetry, March 2022, 14(3))
Academic Journal
In: Physical Review Applied . (Physical Review Applied, July 2021, 16(1))
Academic Journal
Abel, C.; Ayres, N.J.; Griffith, W.C.; Musgrave, M.; Thorne, J.; Afach, S.; Bison, G.; Bondar, V.; Chiu, P.-J.; Chowdhuri, Z.; Daum, M.; Fertl, M.; Franke, B.; Hélaine, V.; Hild, N.; Kasprzak, M.; Kirch, K.; Koch, H.-C.; Komposch, S.; Lauss, B.; Mtchedlishvili, A.; Mohanmurthy, P.; Pais, D.; Pierre, E.; Prashanth, P.N.; Schmidt-Wellenburg, P.; Zsigmond, G.; Emmenegger, S.; Krempel, J.; Rawlik, M.; Wyszynski, G.; Ban, G.; Lefort, T.; Lemière, Y.; Naviliat-Cuncic, O.; Quéméner, G.; Bodek, K.; Rozpedzik, D.; Zejma, J.; Hayen, L.; Koss, P.A.; Severijns, N.; Dinani, R.T.; Wursten, E.; Chanel, E.; Piegsa, F.M.; Crawford, C.B.; Ferraris-Bouchez, L.; Kermaidic, Y.; Leredde, A.; Pignol, G.; Rebreyend, D.; Grujić, Z.D.; Knowles, P.; Weis, A.; Kozela, A.; Pazgalev, A.; Ries, D.; Roccia, S.; Schnabel, A.
In: Physical Review A . (Physical Review A, May 2020, 101(5))
Academic Journal
Ahmed, M.W.; Busch, M.; Gao, H.; Kendellen, D.P.; Berkutov, I.; Golub, R.; Haase, D.G.; Huffman, P.R.; Korobkina, E.; Leung, K.K.H.; Reid, A.; Sosothikul, S.; White, C.R.; Alarcon, R.; Dipert, R.; Aleksandrova, A.; Behzadipour, M.; Broering, M.; Crawford, C.; Korsch, W.; Nouri, N.; Plaster, B.; Saftah, A.; Baeßler, S.; Broussard, L.J.; Cianciolo, V.; Efremenko, Y.; Greene, G.; Mueller, P.E.; Penttila, S.I.; Ramsey, J.C.; Yao, W.; Barron-Palos, L.; Wei, W.; Bartoszek, L.M.; Daurer, C.; Beck, D.H.; Erickson, C.B.; Peng, J.C.; Rao, T.M.; Williamson, S.E.; Yang, L.; Bessuille, J.; Dow, K.; Hasell, D.; Ihloff, E.; Kelsey, J.; Kim, Y.J.; Maxwell, J.D.; Milner, R.G.; Redwine, R.P.; Tsentalovich, E.; Vidal, C.; Blatnik, M.; Carr, R.; Filippone, B.W.; Holt, R.J.; Mendenhall, M.; Osthelder, C.; Slutsky, S.; Sun, X.; Swank, C.M.; Clayton, S.M.; Cooper, M.D.; Currie, S.A.; Ito, T.M.; MacDonald, S.W.T.; Makela, M.; Matlashov, A.; O'Shaughnessy, C.M.; Phan, N.S.; Smith, E.; Sondheim, W.; Tang, Z.; Dutta, D.; Leggett, E.; Fomin, N.; Imam, S.K.; Hawari, A.I.; Lipman, A.; Young, A.R.; Gould, C.R.; Hayden, M.E.; Dinani, R.T.; Holley, A.; Karcz, M.; Liu, C.Y.; Long, J.; Meyer, H.O.; Snow, W.M.; Lamoreaux, S.K.; Seidel, G.M.; Silvera, I.; Stanislaus, T.D.S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 2019, 14(11))
Academic Journal
Ayres, N.J.; Bondar, V.; Emmenegger, S.; Kirch, K.; Krempel, J.; Ban, G.; Lefort, T.; Naviliat-Cuncic, O.; Saenz-Arevalo, W.; Bison, G.; Chiu, P.-J.; Daum, M.; Doorenbos, C.B.; Lauss, B.; Pais, D.; Rienäcker, I.; Schmidt-Wellenburg, P.; Zsigmond, G.; Bodek, K.; Rozpedzik, D.; Zejma, J.; Bouillaud, T.; Clement, B.; Pignol, G.; Rebreyend, D.; Roccia, S.; Svirina, K.; Chanel, E.; Fratangelo, A.; Piegsa, F.M.; Thorne, J.; Crawford, C.B.; Fertl, M.; Griffith, W.C.; Harris, P.G.; Grujic, Z.D.; Rauscher, G.; Staab, M.; Ries, D.; Shen, B.; Yazdandoost, N.; Schnabel, A.; Severijns, N.; Dinani, R.T.
In: Review of Scientific Instruments . (Review of Scientific Instruments, 1 November 2022, 93(11))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Dinani, R.T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어