학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 1,552건 | 목록
10~20
Report
The XENON collaboration; Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Valerius, K.; Vargas, M.; Volta, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
JCAP11(2020)031
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.; Mougeot, X.
Phys. Rev. D 102, 072004 (2020)
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Di Stefano, A. Depoian P. Di Gangi A. Di Giovanni R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Qin, G. Plante J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Xu, M. Weiss; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
Eur. Phys. J. C 80, 785 (2020)
Search for Light Dark Matter Interactions Enhanced by the Migdal effect or Bremsstrahlung in XENON1T
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; de Perio, P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Greene, Z.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itay, R.; Joerg, F.; Kazama, S.; Kish, A.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Masbou, J.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miller, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Podviianiuk, R.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Riedel, B.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Upole, N.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
Phys. Rev. Lett. 123, 241803 (2019)
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; de Perio, P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Greene, Z.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itay, R.; Joerg, F.; Kazama, S.; Kish, A.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Masbou, J.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miller, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Podviianiuk, R.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Riedel, B.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Upole, N.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
Phys. Rev. Lett. 123, 251801 (2019)
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bütikofer, L.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; de Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Greene, Z.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itay, R.; Joerg, F.; Kazama, S.; Kish, A.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miller, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Pelssers, B.; Peres, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Podviianiuk, R.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Riedel, B.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C. D.; Upole, N.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.; Pieracci, M.; Tintori, C.
JINST 14 (2019) no.07, P07016
Conference
Santermans, S.; Barge, D.; Hellings, G.; Mori, C.B.; Migacz, K.J.; Rip, J.; Spampinato, V.; Vos, R.; Bois, B. Du; Chaudhuri, A.R.; Martino, J.A.; Heyns, M.; Severi, S.; Van Roy, W.; Martens, K.
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2020 IEEE International. :35.4.1-35.4.4 Dec, 2020
Academic Journal
Tavel, B.; Duriez, B.; Gwoziecki, R.; Basso, M.T.; Julien, C.; Ortolland, C.; Laplanche, Y.; Fox, R.; Sabouret, E.; Detcheverry, C.; Boeuf, F.; Morin, P.; Barge, D.; Bidaud, M.; Biénacel, J.; Garnier, P.; Cooper, K.; Chapon, J.D.; Trouiller, Y.; Belledent, J.; Broekaart, M.; Gouraud, P.; Denais, M.; Huard, V.; Rochereau, K.; Difrenza, R.; Planes, N.; Marin, M.; Boret, S.; Gloria, D.; Vanbergue, S.; Abramowitz, P.; Vishnubhotla, L.; Reber, D.; Stolk, P.; Woo, M.; Arnaud, F.
In Solid State Electronics 2006 50(4):573-578
Academic Journal
Martinez, F.; Leyris, C.; Neau, G.; Valenza, M.; Hoffmann, A.; Vildeuil, J.C.; Vincent, E.; Boeuf, F.; Skotnicki, T.; Bidaud, M.; Barge, D.; Tavel, B.
In Microelectronic Engineering 17 June 2005 80:54-57
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Barge, D.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어