학술논문
Robustness test of a system of MSGC+GEM detectors at the cyclotron facility of the Paul Scherrer institute
Document Type
Article
Author
Ageron, M.; Albert, A.; Barvich, T.; Beaumont, W.; Beckers, T.; Bernier, K.; Blüm, P.; Bouhali, O.; Boulogne, I.; Bouvet, D.; Brom, J.M.; Charles, F.; Coffin, J.; Contardo, D.; Daubie, E.; Didierjean, F.; Erdmann, M.; De Lentdecker, G.; Devroede, O.; De Troy, J.; Ernenwein, J.P.; Fahrer, M.; Flügge, G.; Fontaine, J.C.; Geist, W.; Goerlach, U.; Gottschalk, M.; Helleboid, J.M.; Huss, D.; Iacopi, F.; Kärcher, K.; Kühn, F.; Juillot, P. ; Lounis, A.; Maazouzi, C.; Macke, D.; Martin, C.; Mirabito, L.; Moreau, S.; Müller, T.; Neuberger, D.; Nowack, A.; Perries, S.; Ripp-Baudot, I.; Röderer, F.; Schulte, R.; Shekhtman, L.; Simonis, H.J.; Struczinski, W.; Tatarinov, A.; Thümmel, W.H.; Udo, F.; Van Doninck, W.; Van Dyck, C.; Vander Velde, C.; Vanlaer, P.; Van Lancker, L.; Weiler, T.; Zander, A.; Zghiche, A.; Zhukov, V.
Source
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2001 471(3):380-391
Subject
Language
ISSN
0168-9002