학술논문
The FASER detector
Document Type
Article
Author
Abreu, H.; Kajomovitz, E.; Mansour, E.A.; Antel, C.; Cadoux, F.; Débieux, S.; Favre, Y.; Ferrere, D.; Galantay, E.K.; Gonzalez-Sevilla, S.; Iacobucci, G.; Johnson, E.; Magliocca, C.; Martinelli, F.; Milanesio, M.; Moretti, T.; Munker, M.; Nessi, M.; Pandini, C.; Paolozzi, L.; Rizzi, C.; Sfyrla, A.; Tarannum, N.; Theiner, O.; Zambito, S.; Ariga, A.; Scampoli, P.; Hayakawa, D.; Miura, M.; Ariga, T.; Kawahara, H.; Otono, H.; Bernlochner, F.; Boeckh, T.; Prim, M.; Boyd, J.; Crespo-Lopez, O.; Dougherty, L.; Gamberini, E.; Jakobsen, S.; Kose, U.; Kotitsa, R.; Kuehn, S.; Meehan, S.; Mladenov, D.; Osborne, J.; Petersen, B.; Pietropaolo, F.; Resnati, F.; Salfeld-Nebgen, J.; Galan, F.S.; Sipos, R.; Thonet, P.; Tufanli, S.; Vendeuvre, C.; Vormwald, B.; Brenner, L.; Casper, D.W.; Feng, J.L.; Shively, S.; Cavanagh, C.; D'Onofrio, M.; Gwilliam, C.; Chen, X.; Hu, Z.; Inada, T.; Liu, J.; Pang, H.; Wang, D.; Coccaro, A.; Dmitrievsky, S.; Gornushkin, Y.; Vasina, S.; Dozen, C.; Ezzat, A.; Fellers, D.; Torrence, E.; Gall, J.; Gibson, S.; Lefebvre, H.; Nevay, L.; Hsu, S.-C.; Li, K.; Spencer, J.; Kling, F.; Krusse, J.; Levinson, L.; McFayden, J.; Nakamura, M.; Nakano, T.; Rokujo, H.; Sato, O.; Neuhaus, F.; Ruiz-Choliz, E.; Schmieden, K.; Schott, M.; Queitsch-Maitland, M.; Takubo, Y.; Zhang, G.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 May 2024, 19(5))
Subject
Language
English
ISSN
17480221