학술논문
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Analysis and Modeling for Reverse Body Bias Stress Impact on HCI Induced Degradation in n-Type EDMOS
Conference
Cai, Miao; Leang, Sern Ee; Wai Chew, Kok; Tan, Pee Ya; Herlambang, Aloysius P.; Zhu, Chunxiang; Guo, Yongxin
2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2022
Academic Journal
Gottschall M; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Afzal F; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Anisovich AV; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Petersburg Nuclear Physics Institute, Gatchina, Russia.; Bayadilov D; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Petersburg Nuclear Physics Institute, Gatchina, Russia.; Beck R; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Bichow M; Institut für Experimentalphysik I, Ruhr-Universität Bochum, Bochum, Germany.; Brinkmann KT; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Crede V; Department of Physics, Florida State University, Tallahassee, FL 32306 USA.; Dieterle M; Physikalisches Institut, Universität Basel, Basel, Switzerland.; Dietz F; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Dutz H; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Eberhardt H; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Elsner D; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Ewald R; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Fornet-Ponse K; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Friedrich S; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Frommberger F; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Gridnev A; Petersburg Nuclear Physics Institute, Gatchina, Russia.; Grüner M; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Gutz E; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Hammann C; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Hannappel J; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Hartmann J; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Hillert W; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Hoffmeister P; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Honisch C; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Jude T; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Kammer S; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Kalinowsky H; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Keshelashvili I; Physikalisches Institut, Universität Basel, Basel, Switzerland.; Klassen P; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Klein F; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Klempt E; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Koop K; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Krusche B; Physikalisches Institut, Universität Basel, Basel, Switzerland.; Kube M; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Lang M; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Lopatin I; Petersburg Nuclear Physics Institute, Gatchina, Russia.; Mahlberg P; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Makonyi K; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Metag V; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Meyer W; Institut für Experimentalphysik I, Ruhr-Universität Bochum, Bochum, Germany.; Müller J; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Müllers J; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Nanova M; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Nikonov V; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Petersburg Nuclear Physics Institute, Gatchina, Russia.; Novotny R; Physikalisches Institut, Universität Gießen, Gießen, Germany.; Piontek D; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Reicherz G; Institut für Experimentalphysik I, Ruhr-Universität Bochum, Bochum, Germany.; Rostomyan T; Physikalisches Institut, Universität Basel, Basel, Switzerland.; Sarantsev A; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Petersburg Nuclear Physics Institute, Gatchina, Russia.; Schmidt C; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Schmieden H; Physikalisches Institut, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Seifen T; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Sokhoyan V; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Spieker K; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Thiel A; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Thoma U; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Urban M; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Pee HV; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Walther D; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Wendel C; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Werthmüller D; Physikalisches Institut, Universität Basel, Basel, Switzerland.; Wiedner U; Institut für Experimentalphysik I, Ruhr-Universität Bochum, Bochum, Germany.; Wilson A; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Department of Physics, Florida State University, Tallahassee, FL 32306 USA.; Winnebeck A; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.; Witthauer L; Physikalisches Institut, Universität Basel, Basel, Switzerland.; Wunderlich Y; Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Bonn, Germany.
Publisher: EDP Sciences Country of Publication: France NLM ID: 101769254 Publication Model: Print-Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1434-601X (Electronic) Linking ISSN: 14346001 NLM ISO Abbreviation: Eur Phys J A Hadron Nucl Subsets: PubMed not MEDLINE
Academic Journal
정준기 (J. K. Chung); 김성진 (S. J. Kim); 온진호 (J. H. On); 문흥수 (H. S. Moon); 피재환 (J. H. Pee); 하태권 (T. K. Ha); 박상엽 (S. Y. Park)
소성·가공. 2015-08 24(4):287-292
Academic Journal
Pees, Anna; Beaino, Wissam; Kooijman, Esther J.M.; Schreurs, Maxime; Verlaan, Mariska; Schuit, Robert C.; Vosjan, Maria J.W.D.; Engelsman, Anton F.; Windhorst, Albert D.; Vugts, Danielle J.
In Nuclear Medicine and Biology November-December 2021 102-103:97-105
Academic Journal
Klein, F; Barth, J; Bockhorst, M; Braun, W; Burgwinkel, R; Glander, KH; Goers, S; Hannappel, J; Jopen, N; Kirch, U; Klein, FJ; Menze, D; Neuerburg, W; Paul, E; Schwille, WJ; Tran, MQ; Wedemeyer, R; Wehnes, F; Wiegers, B; Wieland, FW; Wisskirchen, J; Ernst, J; Jungst, HG; Kalinowsky, H; Klempt, E; Link, J; Pee, HV; Plotzke, R; Schumacher, M; Smend, F; Tran, HN; Bennhold, C; Kozela, A; Smyrski, J; SAPHIR Collaboration
Academic Journal
Academic Journal
Academic Journal
Cong Khan, Nguyen; West, Clive E; de Pee, Saskia; Bosch, Diane; Do Phuong, Ha; Hulshof, Paul JM; Huy Khoi, Ha; Verhoef, Hans; Hautvast, Joseph GAJ
The American Journal of Clinical Nutrition. Apr 01, 2007 85(4):1112-1120
Academic Journal
Pees, A.; Sewing, C.; Vosjan, M. J. W. D.; Tadino, V.; Herscheid, J. D. M.; Windhorst, A. D.; Vugts, D. J.
Academic Journal
Filp, Ulrike; Pees, Anna L.; Taddei, Carlotta; Pekošak, Aleksandra; Gee, Antony D.; Windhorst, Albert D.; Poot, Alex J.
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