학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 7,935건 | 목록
1~20
Academic Journal
J. P. Lees; V. Poireau; V. Tisserand; E. Grauges; A. Palano; G. Eigen; B. Stugu; D. N. Brown; L. T. Kerth; Y.u. G. Kolomensky; M. J. Lee; G. Lynch; H. Koch; T. Schroeder; C. Hearty; T. S. Mattison; J. A. McKenna; G. Y. So; A. Khan; V. E. Blinovac; A. R. Buzykaeva; V. P. Druzhinin; V. B. Golubev; E. A. Kravchenko; A. P. Onuchin; S. I. Serednyakov; Y.u. I. Skovpen; E. P. Solodov; K. Y.u. Todyshev; A. N. Yushkov; A. J. Lankford; M. Mandelkern; B. Dey; J. W. Gary; O. Long; C. Campagnari; M. Franco Sevilla; T. M. Hong; D. Kovalskyi; J. D. Richman; C. A. West; A. M. Eisner; W. S. Lockman; B. A. Schumm; A. Seiden; D. S. Chao; C. H. Cheng; B. Echenard; K. T. Flood; D. G. Hitlin; T. S. Miyashita; P. Ongmongkolkul; F. C. Porter; R. Andreassen; Z. Huard; B. T. Meadows; B. G. Pushpawela; M. D. Sokoloff; L. Sun; P. C. Bloom; W. T. Ford; A. Gaz U. Nauenberg; J. G. Smith; S. R. Wagner; R. Ayad; W. H. Toki; B. Spaan; R. Schwierz; D. Bernard; M. Verderi; S. Playfer; D. Bettonia; C. Bozzi; R. Calabrese; G. Cibinetto; E. Fioravanti; I. Garzia; E. Luppi; L. Piemontese; V. Santoro; A. Calcaterra; R. de Sangro; G. Finocchiaro; S. Martellotti; P. Patteri; I. M. Peruzzi; M. Piccolo; M. Rama; A. Zallo; R. Contri; E. Guido; M. Lo Vetere; M. R. Mong; S. Passaggio; C. Patrignani; E. Robutti; B. Bhuyan; V. Prasad; M. Morii; A. Adametz; U. Uwer; H. M. Lacker; P. D. Dauncey; U. Mallik; C. Chen; J. Cochran; W. T. Meyer; S. Prell; H. Ahmed; A. V. Gritsan; N. Arnaud; M. Davier; D. Derkach; G. Grosdidier; F. Le Diberder; A. M. Lutz; B. Malaescu; P. Roudeau; A. Stocchi; G. Wormser; D. J. Lange; D. M. Wright; J. P. Coleman; J. R. Fry; E. Gabathuler; D. E. Hutchcroft; D. J. Payne; C. Touramanis; A. J. Bevan; F. Di Lodovico; R. Sacco; G. Cowan; J. Bougher; C. L. Davis; A. G. Denig; M. Fritsch; W. Gradl; K. Griessinger; A. Hafner; E. Prencipe; K. R. Schubert; R. J. Barlow; G. D. Lafferty; R. Cenci; B. Hamilton; A. Jawahery; D. A. Roberts; R. Cowan; D. Dujmic; G. Sciolla; R. Cheaib; P. M. Patel; S. H. Robertson; P. Biassoni; N. Neri; F. Palombo; L. Cremaldi; R. Godang; P. Sonnek; D. J. Summers; M. Simard; P. Taras; G. De Nardo; D. Monorchio; G. Onorato; C. Sciacca; M. Martinelli; G. Raven; C. P. Jessop; J. M. Lo Secco; K. Honscheid; R. Kass; J. Brau; R. Frey; N. B. Sinev; D. Strom; E. Torrence; E. Feltresi; M. Margoni; M. Morandin; M. Posocco; M. Rotondo; G. Simi; F. Simonetto; R. Stroili; S. Akar; E. Ben Haim; M. Bomben; G. R. Bonneaud; H. Briand; G. Calderini; J. Chauveau; P.h. Leruste; G. Marchiori; J. Ocariz; S. Sitt; M. Biasini; E. Manonia; S. Pacetti; A. Rossi; C. Angelini; G. Batignani; S. Bettarini; M. Carpinelli; G. Casarosa; A. Cervelli; M. Chrzaszcz; F. Forti; M. A. Giorgi; A. Lusiani; B. Oberhof; E. Paoloni; A. Perez; G. Rizzo; J. J. Walsh; D. Lopes Pegna; J. Olsen; A. J. S. Smith; R. Faccini; F. Ferrarotto; F. Ferroni; M. Gaspero; L. Li Gioi; G. Piredda; C. Bunnge; O. Grunberg; T. Hartmann; T. Leddig; C. Vo√ü; R. Waldi; T. Adye; E. O. Olaiya; F. F. Wilson; S. Emery; G. Hamel de Monchenault; G. Vasseur; C.h. Yeche; F. Anulli; D. Aston; D. J. Bard; J. F. Benitez; C. Cartaro; M. R. Convery; J. Dorfan; G. P. Dubois Felsmann; W. Dunwoodie; M. Ebert; R. C. Field; B. G. Fulsom; A. M. Gabareen; M. T. Graham; C. Hast; W. R. Innes; P. Kim; M. L. Kocian; D. W. G. S. Leith; D. Lindemann; B. Lindquist; S. Luitz; V. Luth; H. L. Lynch; D. B. MacFarlane; D. R. Muller; H. Neal; S. Nelson; M. Perl; T. Pulliam; B. N. Ratcliff; A. Roodman; A. A. Salnikov; R. H. Schindler; A. Snyder; D. Su; M. K. Sullivan; J. Vaôvra; A. P. Wagner; W. F. Wang; W. J. Wisniewski; M. Wittgen; D. H. Wright; H. W. Wulsin; V. Ziegler; W. Park; M. V. Purohit; R. M. White; J. R. Wilson; A. Randle Conde; S. J. Sekula; M. Bellis; P. R. Burchat; E. M. T. Puccio; M. S. Alam; J. A. Ernst; R. Gorodeisky; N. Guttman; D. R. Peimer; A. Soffer; S. M. Spanier; J. L. Ritchie; A. M. Ruland; R. F. Schwitters; B. C. Wray; J. M. Izen; X. C. Lou; F. Bianchi; F. De Mori; A. Filippi; D. Gamba; S. Zambito; L. Lanceri; L. Vitale; F. Martinez Vidal; A. Oyanguren; P. Villanueva Perez; J. Albert; S.w. Banerjee; F. U. Bernlochner; H. H. F. Choi; G. J. King; R. Kowalewski; M. J. Lewczuk; T. Lueck; I. M. Nugent; J. M. Roney; R. J. Sobie; N. Tasneem; T. J. Gershon; P. F. Harrison; T. E. Latham; H. R. Band; S. Dasu; Y. Pan; R. Prepost; S. L. Wu
Academic Journal
In: Asian-Australasian Journal of Animal Sciences . (Asian-Australasian Journal of Animal Sciences, February 2008, 21(2):245-251)
Academic Journal
Environmental Monitoring and Assessment: An International Journal Devoted to Progress in the Use of Monitoring Data in Assessing Environmental Risks to Man and the Environment. September 2003 87(3):235-254
Academic Journal
In: Modern Preventive Medicine . (Modern Preventive Medicine, 15 November 2023, 50(21):4004-4008)
Academic Journal
Environmental Monitoring & Assessment. Sep 01, 2003 87(3):235-254
Academic Journal
In: Environmental Research . (Environmental Research, September 2004, 96(1):79-87)
Academic Journal
Gallina, G.; Giampa, P.; Retiere, F.; Kroeger, J.; Zhang, G.; Ward, M.; Margetak, P.; Lic, G.; Tsang, T.; Doria, L.; Kharusi, S. Al; Alfaris, M.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Blatchford, J.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Cao, G. F.; Cao, L.; Cen, W. R.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Croix, A. De St.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hoßl, J.; House, A.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lana, Y.; Larson, A.; Lenardo, B. G.; Leonarda, D. S.; Lik, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Linw, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepkez, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 940:371-379
Report
Njoya, O.; Tsang, T.; Tarka, M.; Fairbank, W.; Kumar, K. S.; Rao, T.; Wager, T.; Kharusi, S. Al; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Cen, W. R.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Croix, A. De St.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hossl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retiere, F.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Report
Albert, J. B.; Auty, D. J.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Breidenbach, M.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Chambers, C.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Daniels, T.; Danilov, M.; Daugherty, S. J.; Davis, C. G.; Davis, J.; Delaquis, S.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Didberidze, T.; Dolgolenko, A.; Dolinski, M. J.; Dunford, M.; Fairbank Jr., W.; Farine, J.; Feldmeier, W.; Fierlinger, P.; Fudenberg, D.; Gornea, R.; Graham, K.; Gratta, G.; Hall, C.; Hughes, M.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Johnson, A.; Johnson, T. N.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Killick, R.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Leonard, D. S.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Ling, J.; MacLellan, R.; Marino, M. G.; Mong, B.; Moore, D.; Nelson, R.; O'Sullivan, K.; Odian, A.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Pocar, A.; Prescott, C. Y.; Robinson, A.; Rowson, P. C.; Russell, J. J.; Schubert, A.; Sinclair, D.; Smith, E.; Stekhanov, V.; Tarka, M.; Tolba, T.; Tsang, R.; Twelker, K.; Vuilleumier, J. -L.; Waite, A.; Walton, J.; Walton, T.; Weber, M.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wright, J. D.; Wood, J.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O. Ya.
Phys. Rev. C 92, 045504 (2015)
Academic Journal
nEXO Collaboration; Kharusi, S. Al; Alamre, A.; Albert, J. B.; Alfaris, M.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Cao, L.; Cen, W. R.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Conley, R.; Coon, M.; Côté, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Danovitch, D.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Daughhetee, J.; DeVoe, R.; Delaquis, S.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fierlinger, P.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Gallina, G.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Haller, G.; Hansen, E. V.; Harris, D.; Hasi, J.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jessiman, C.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kenney, C.; Killick, R.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Lewis, C. M.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McFarlane, K.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Newby, R. J.; Nguyen, T.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Patel, M.; Peña-Perez, A.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retière, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Schubert, A.; Segal, J.; Skarpaas~VIII, K.; Soma, A. K.; Spitaels, K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veenstra, B.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vogel, P.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Xia, Q.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Academic Journal
nEXO Collaboration; Albert, J. B.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Cao, L.; Cen, W. R.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Côté, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Daugherty, S. J.; Daughhetee, J.; DeVoe, R.; Delaquis, S.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Didberidze, T.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Fabris, L.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Graham, K.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Harris, D.; Hasan, M.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Johnson, T. N.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Killick, R.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; MacLellan, R.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retière, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Schubert, A.; Sinclair, D.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vogel, P.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Wang, Q.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zettlemoyer, J.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Physical Review C. 97
Albert, J. B.; Auger, M.; Auty, D. J.; Barbeau, P. S.; Beauchamp, E.; Beck, D.; Belov, V.; Benitez-Medina, C.; Bonatt, J.; Breidenbach, M.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Chambers, C.; Chaves, J.; Cleveland, B.; Cook, S.; Daniels, T.; Danilov, M.; Daugherty, S. J.; Davis, C. G.; Davis, J.; Delaquis, S.; DeVoe, R.; Dobi, A.; Dolinski, M. J.; Dolgolenko, A.; Dunford, M.; Fairbank Jr., W.; Farine, J.; Feldmeier, W.; Fierlinger, P.; Franco, D.; Fudenberg, D.; Giroux, G.; Gornea, R.; Graham, K.; Gratta, G.; Hall, C.; Hall, K.; Hargrove, C.; Herrin, S.; Hughes, M.; Jiang, X. S.; Johnson, A.; Johnson, T. N.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Killick, R.; Kravitz, S.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Leonard, D. S.; Leonard, F.; Licciardi, C.; MacLellan, R.; Marino, M. G.; Mong, B.; Díez, M. Montero; Moore, D.; Nelson, R.; Odian, A.; Ostrovskiy, I.; O'Sullivan, K.; Ouellet, C.; Piepke, A.; Pocar, A.; Prescott, C. Y.; Rivas, A.; Rowson, P. C.; Rozo, M. P.; Russell, J. J.; Sabourov, A.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Slutsky, S.; Stekhanov, V.; Strickland, V.; Tarka, M.; Tolba, T.; Tosi, D.; Twelker, K.; Vogel, P.; Vuilleumier, J. -L.; Waite, A.; Walton, J.; Walton, T.; Weber, M.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wodin, J.; Wright, J. D.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O. Ya.; Zhao, Y. B.
Academic Journal
G Adhikari; S Al Kharusi; E Angelico; G Anton; I J Arnquist; I Badhrees; J Bane; V Belov; E P Bernard; T Bhatta; A Bolotnikov; P A Breur; J P Brodsky; E Brown; T Brunner; E Caden; G F Cao; L Cao; C Chambers; B Chana; S A Charlebois; D Chernyak; M Chiu; B Cleveland; R Collister; S A Czyz; J Dalmasson; T Daniels; L Darroch; R DeVoe; M L Di Vacri; J Dilling; Y Y Ding; A Dolgolenko; M J Dolinski; A Dragone; J Echevers; M Elbeltagi; L Fabris; D Fairbank; W Fairbank; J Farine; S Ferrara; S Feyzbakhsh; Y S Fu; G Gallina; P Gautam; G Giacomini; W Gillis; C Gingras; D Goeldi; R Gornea; G Gratta; C A Hardy; K Harouaka; M Heffner; E W Hoppe; A House; A Iverson; A Jamil; M Jewell; X S Jiang; A Karelin; L J Kaufman; I Kotov; R Krücken; A Kuchenkov; K S Kumar; Y Lan; A Larson; K G Leach; B G Lenardo; D S Leonard; G Li; S Li; Z Li; C Licciardi; R Lindsay; R MacLellan; M Mahtab; P Martel-Dion; J Masbou; N Massacret; T McElroy; K McMichael; M Medina Peregrina; T Michel; B Mong; D C Moore; K Murray; J Nattress; C R Natzke; R J Newby; K Ni; F Nolet; O Nusair; J C Nzobadila Ondze; K Odgers; A Odian; J L Orrell; G S Ortega; C T Overman; S Parent; A Perna; A Piepke; A Pocar; J-F Pratte; N Priel; V Radeka; E Raguzin; G J Ramonnye; T Rao; H Rasiwala; S Rescia; F Retière; J Ringuette; V Riot; T Rossignol; P C Rowson; N Roy; R Saldanha; S Sangiorgio; X Shang; A K Soma; F Spadoni; V Stekhanov; X L Sun; M Tarka; S Thibado; A Tidball; J Todd; T Totev; S Triambak; R H M Tsang; T Tsang; F Vachon; V Veeraraghavan; S Viel; C Vivo-Vilches; P Vogel; J-L Vuilleumier; M Wagenpfeil; T Wager; M Walent; K Wamba; Q Wang; W Wei; L J Wen; U Wichoski; S Wilde; M Worcester; S X Wu; W H Wu; X Wu; Q Xia; W Yan; H Yang; L Yang; O Zeldovich; J Zhao; T Ziegler
Journal of Physics G: Nuclear and Particle Physics. 49:015104
Academic Journal
nEXO Collaboration; Jewell, M.; Schubert, A.; Cen, W. R.; Dalmasson, J.; DeVoe, R.; Fabris, L.; Gratta, G.; Jamil, A.; Li, G.; Odian, A.; Patel, M.; Pocar, A.; Qiu, D.; Wang, Q.; Wen, L. J.; Albert, J. B.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.; Beck, D.; Belov, V.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Côté, M.; Daniels, T.; Daugherty, S. J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Didberidze, T.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Hansen, E. V.; Harris, D.; Hasan, M.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Hößl, J.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jiang, X. S.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Leonard, D. S.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; MacLellan, R.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.; Murray, K.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Ortega, G. S.; Parent, S.; Piepke, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retiere, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Xuan, Z.; Yang, L.; Yayun, D.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhe, N.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Journal of Instrumentation. 13:P01006-P01006
Academic Journal
Albert, J. B.; Auger, M.; Auty, D. J.; Barbeau, P. S.; Beauchamp, E.; Beck, D.; Belov, V.; Benitez-Medina, C.; Bonatt, J.; Breidenbach, M.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G. F.; Chambers, C.; Chaves, J.; Cleveland, B.; Cook, S.; Daniels, T.; Danilov, M.; Daugherty, S. J.; Davis, C. G.; Davis, J.; Delaquis, S.; DeVoe, R.; Dobi, A.; Dolinski, M. J.; Dolgolenko, A.; Dunford, M.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feldmeier, W.; Fierlinger, P.; Franco, D.; Fudenberg, D.; Giroux, G.; Gornea, R.; Graham, K.; Gratta, G.; Hall, C.; Hall, K.; Hargrove, C.; Herrin, S.; Hughes, M.; Jiang, X. S.; Johnson, A.; Johnson, T. N.; Johnston, S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Killick, R.; Kravitz, S.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Leonard, D. S.; Leonard, F.; Licciardi, C.; MacLellan, R.; Marino, M. G.; Mong, B.; D��ez, M. Montero; Moore, D.; Nelson, R.; Odian, A.; Ostrovskiy, I.; O'Sullivan, K.; Ouellet, C.; Piepke, A.; Pocar, A.; Prescott, C. Y.; Rivas, A.; Rowson, P. C.; Rozo, M. P.; Russell, J. J.; Sabourov, A.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Slutsky, S.; Stekhanov, V.; Strickland, V.; Tarka, M.; Tolba, T.; Tosi, D.; Twelker, K.; Vogel, P.; Vuilleumier, J. -L.; Waite, A.; Walton, J.; Walton, T.; Weber, M.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wodin, J.; Wright, J. D.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O. Ya.; Zhao, Y. B.
Academic Journal
Nakarmi, P.; Ostrovskiy, I.; Soma, A. K.; Retiere, F.; Kharusi, S. Al; Alfaris, M.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Blatchford, J.; Breur, P. A.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Mamahit, S. Byrne; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Croix, A. De St.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Doria, L.; Dragone, A.; Echevers, J.; Edaltafar, F.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößle, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lv, P.; MacLellan, R.; Massacret, N.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, l J. L.; Ortega, G. S.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; St-Hilaire, G.; Stekhanov, r V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Wager, T.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Journal of Instrumentation. 15:P01019-P01019
Academic Journal
A. Jamil; T. Ziegler; P. Hufschmidt; G. Li; L. Lupin-Jimenez; T. Michel; I. Ostrovskiy; F. Retiere; J. Schneider; M. Wagenpfeil; A. Alamre; J. B. Albert; G. Anton; I. J. Arnquist; I. Badhrees; P. S. Barbeau; D. Beck; V. Belov; T. Bhatta; F. Bourque; J. P. Brodsky; E. Brown; T. Brunner; A. Burenkov; G. F. Cao; L. Cao; W. R. Cen; C. Chambers; S. A. Charlebois; M. Chiu; B. Cleveland; M. Coon; M. Cote; A. Craycraft; W. Cree; J. Dalmasson; T. Daniels; L. Darroch; S. J. Daugherty; J. Daughhetee; S. Delaquis; A. Der Mesrobian-Kabakian; R. DeVoe; J. Dilling; Y. Y. Ding; M. J. Dolinski; A. Dragone; J. Echevers; L. Fabris; D. Fairbank; W. Fairbank; J. Farine; S. Feyzbakhsh; R. Fontaine; D. Fudenberg; G. Gallina; G. Giacomini; R. Gornea; G. Gratta; E. V. Hansen; D. Harris; M. Hasan; M. Heffner; J. HoBl; E. W. Hoppe; A. House; M. Hughes; Y. Ito; A. Iverson; C. Jessiman; M. J. Jewell; X. S. Jiang; A. Karelin; L. J. Kaufman; T. Koffas; S. Kravitz; R. Krucken; A. Kuchenkov; K. S. Kumar; Y. Lan; A. Larson; D. S. Leonard; S. Li; Z. Li; C. Licciardi; Y. H. Lin; P. Lv; R. MacLellan; B. Mong; D. C. Moore; K. Murray; R. J. Newby; Z. Ning; O. Njoya; F. Nolet; O. Nusair; K. Odgers; A. Odian; M. Oriunno; J. L. Orrell; G. S. Ortega; C. T. Overman; S. Parent; A. Piepke; A. Pocar; J.-F. Pratte; D. Qiu; V. Radeka; E. Raguzin; T. Rao; S. Rescia; A. Robinson; T. Rossignol; P. C. Rowson; N. Roy; R. Saldanha; S. Sangiorgio; S. Schmidt; A. Schubert; D. Sinclair; K. Skarpaas; A. K. Soma; G. St-Hilaire; V. Stekhanov; T. Stiegler; X. L. Sun; M. Tarka; J. Todd; T. Tolba; T. I. Totev; R. Tsang; T. Tsang; F. Vachon; B. Veenstra; V. Veeraraghavan; G. Visser; J.-L. Vuilleumier; Q. Wang; J. Watkins; M. Weber; W. Wei; L. J. Wen; U. Wichoski; G. Wrede; S. X. Wu; W. H. Wu; Q. Xia; L. Yang; Y.-R. Yen; O. Zeldovich; X. Zhang; J. Zhao; Y. Zhou
IEEE Transactions on Nuclear Science. 65:2823-2833
Academic Journal
Sun, X. L.; Tolba, T.; Cao, G. F.; Lv, P.; Wen, L. J.; Odian, A.; Vachon, F.; Alamre, A.; Albert, J. B.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, L.; Cen, W. R.; Chambers, C.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Côté, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fierlinger, P.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Gallina, G.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Harris, D.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jessiman, C.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; MacLellan, R.; Michel, T.; Moe, M.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retière, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Sinclair, D.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Tarka, M.; Todd, J.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Veenstra, B.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Wang, Q.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Xia, Q.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Journal of Instrumentation. 13:T09006-T09006
Academic Journal
G. Gallina; Y. Guan; F. Retiere; G. Cao; A. Bolotnikov; I. Kotov; S. Rescia; A. K. Soma; T. Tsang; L. Darroch; T. Brunner; J. Bolster; J. R. Cohen; T. Pinto Franco; W. C. Gillis; H. Peltz Smalley; S. Thibado; A. Pocar; A. Bhat; A. Jamil; D. C. Moore; G. Adhikari; S. Al Kharusi; E. Angelico; I. J. Arnquist; P. Arsenault; I. Badhrees; J. Bane; V. Belov; E. P. Bernard; T. Bhatta; P. A. Breur; J. P. Brodsky; E. Brown; E. Caden; L. Cao; C. Chambers; B. Chana; S. A. Charlebois; D. Chernyak; M. Chiu; B. Cleveland; R. Collister; M. Cvitan; J. Dalmasson; T. Daniels; K. Deslandes; R. DeVoe; M. L. di Vacri; Y. Ding; M. J. Dolinski; A. Dragone; J. Echevers; B. Eckert; M. Elbeltagi; L. Fabris; W. Fairbank; J. Farine; Y. S. Fu; D. Gallacher; P. Gautam; G. Giacomini; C. Gingras; D. Goeldi; R. Gornea; G. Gratta; C. A. Hardy; S. Hedges; M. Heffner; E. Hein; J. Holt; E. W. Hoppe; J. Hößl; A. House; W. Hunt; A. Iverson; X. S. Jiang; A. Karelin; L. J. Kaufman; R. Krücken; A. Kuchenkov; K. S. Kumar; A. Larson; K. G. Leach; B. G. Lenardo; D. S. Leonard; G. Lessard; G. Li; S. Li; Z. Li; C. Licciardi; R. Lindsay; R. MacLellan; M. Mahtab; S. Majidi; C. Malbrunot; P. Margetak; P. Martel-Dion; L. Martin; J. Masbou; N. Massacret; K. McMichael; B. Mong; K. Murray; J. Nattress; C. R. Natzke; X. E. Ngwadla; J. C. Nzobadila Ondze; A. Odian; J. L. Orrell; G. S. Ortega; C. T. Overman; S. Parent; A. Perna; A. Piepke; N. Pletskova; J. F. Pratte; V. Radeka; E. Raguzin; G. J. Ramonnye; T. Rao; H. Rasiwala; K. Raymond; B. M. Rebeiro; G. Richardson; J. Ringuette; V. Riot; T. Rossignol; P. C. Rowson; L. Rudolph; R. Saldanha; S. Sangiorgio; X. Shang; F. Spadoni; V. Stekhanov; X. L. Sun; A. Tidball; T. Totev; S. Triambak; R. H. M. Tsang; O. A. Tyuka; F. Vachon; M. Vidal; S. Viel; G. Visser; M. Wagenpfeil; M. Walent; K. Wamba; Q. Wang; W. Wang; Y. Wang; M. Watts; W. Wei; L. J. Wen; U. Wichoski; S. Wilde; M. Worcester; W. H. Wu; X. Wu; L. Xie; W. Yan; H. Yang; L. Yang; O. Zeldovich; J. Zhao; T. Ziegler
European Physical Journal C: Particles and Fields, Vol 82, Iss 12, Pp 1-21 (2022)
European Physical Journal
European Physical Journal
Academic Journal
Li, Z.; Cen, W. R.; Robinson, A.; Moore, D. C.; Wen, L. J.; Odian, A.; Kharusi, S. Al; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Croix, A. De St.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retière, F.; Richman, M.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Journal of Instrumentation. 14:P09020-P09020
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Mong, S. X. Y.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어