학술논문
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Conference
2022 IEEE International Conference on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE) Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE), 2022 IEEE International Conference on. :388-392 Oct, 2022
Academic Journal
Pellegrino, Raffaello; Paganelli, Roberto; Iorio, Angelo Di; Bandinelli, Stefania; Mussi, Chiara; Sparvieri, Eleonora; Volpato, Stefano; Tanaka, Toshiko; Ferrucci, Luigi
Academic Journal
Pellegrino, Raffaello; Paganelli, Roberto; Iorio, Angelo Di; Bandinelli, Stefania; Moretti, Antimo; Iolascon, Giovanni; Sparvieri, Eleonora; Tarantino, Domiziano; Tanaka, Toshiko; Ferrucci, Luigi
Conference
2014 IEEE 23rd International WETICE Conference WETICE Conference (WETICE), 2014 IEEE 23rd International. :423-428 Jun, 2014
Academic Journal
Lauretani, Fulvio; Bandinelli, Stefania; Bartali, Benedetta; Iorio, Angelo Di; Giacomini, Vittoria; Corsi, Anna Maria; Guralnik, Jack M.; Ferrucci, Luigi
In Neurobiology of Aging 2006 27(8):1145-1154
Academic Journal
Bonanni, Laura; Carrarini, Claudia; Calisi, Dario; De Rosa, Matteo; Iorio, Angelo Di; D'Ardes, Damiano; Gazzina, Stefano; Pilotto, Andrea; Arighi, Andrea; Carandini, Tiziana; Cagnin, Annachiara; Gallucci, Maurizio; Costa, Cinzia; D'Antonio, Fabrizia; Bruno, Giuseppe; Cipollone, Francesco; Babiloni, Claudio; Onofrj, Marco; Padovani, Alessandro
Alzheimer's & Dementia: The Journal of the Alzheimer's Association; Dec2023 Supplement 17, Vol. 19, p1-1, 1p
Academic Journal
Blasio, Andrea Di; Morano, Teresa; Lancia, Federica; Viscioni, Gianluca; Iorio, Angelo Di; Grossi, Simona; Cianchetti, Ettore; Cugusi, Lucia; Gobbo, Stefano; Bergamin, Marco; D’Eugenio, Anna; Masini, Laura; Rinaldi, Massimo; Scognamiglio, Maria Teresa; Vamvakis, Anastasios; Napolitano, Giorgio
Journal of Functional Morphology & Kinesiology; Jun2021, Vol. 6 Issue 2, p1-17, 17p
Conference
2008 Eighth IEEE International Conference on Advanced Learning Technologies Advanced Learning Technologies, 2008. ICALT '08. Eighth IEEE International Conference on. :440-442 Jul, 2008
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[AR] Iorio, Angelo di
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