학술논문
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Bao, R.; Qin, L.; Frougier, J.; Suk, S.; Rabie, M.; Bajpai, U.; Chou, A.; Nechay, B.; Mohamed, M.; Pujari, R.; Weir, T. J; Harmon, K.; Varma, A.; Armstrong-Moore, W.; Cestero, A.; Emans, S.; Hundekar, P.; Joshi, R.; Li, J.; Liu, X.; Lucarini, S.; Radens, C.; Siddiqui, S.; Trombley, H.; Bryant, A.; Hasanuzzaman, M.; Majumdar, A.; Sung, M.; Zhang, J.; Leobandung, E.
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
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[AR] Weir, T. J
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