학술논문
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1~10
Academic Journal
Fregolent, M.; Boito, M.; Marcuzzi, A.; De Santi, C.; Chiocchetta, F.; Treidel, E. Bahat; Wolf, M.; Brunner, F.; Hilt, O.; Würfl, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Academic Journal
Periodical
IEEE Electron Device Letters; 2024, Vol. 45 Issue: 6 p1048-1051, 4p
Conference
2020 Device Research Conference (DRC) Device Research Conference (DRC), 2020. :1-2 Jun, 2020
Academic Journal
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Capriotti, M.; Treidel, E. Bahat; Fleury, C.; Bethge, O.; Ostermaier, C.; Rigato, M.; Lancaster, S. L. C.; Brunner, F.; Detz, H.; Hilt, O.; Wuerfl, J.; Pogany, D.; Strasser, G.
Academic Journal
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[AR] Treidel, E. Bahat
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