학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 44건 | 목록
1~10
Conference
Grover, R.; Acosta, T.; AnDyke, C.; Armagan, E.; Auth, C.; Chugh, S.; Downes, K.; Hattendorf, M.; Jack, N.; Joshi, S.; Kasim, R.; Leatherman, G.; Lee, S.-H.; Lin, C.-Y.; Madhavan, A.; Mao, H.; Lowrie, A.; Martin, G.; McPherson, G.; Nayak, P.; Neale, A.; Nminibapiel, D.; Orr, B.; Palmer, J.; Pelto, C.; Poon, S. S.; Post, I.; Pramanik, T.; Rahman, A.; Ramey, S.; Seifert, N.; Sethi, K.; Schmitz, A.; Wu, H.; Yeoh, A.
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-6 Apr, 2020
Conference
Yeoh, A.; Madhavan, A.; Kybert, N.; Anand, S.; Shin, J.; Asoro, M.; Samarajeewa, S.; Steigerwald, J.; Ganpule, C.; Buehler, M.; Tripathi, A.; Souw, V.; Haran, M.; Nigam, S.; Chikarmane, V.; Yashar, P.; Mule, T.; Wu, Y-H.; Lee, K-S.; Aykol, M.; Marla, K.; Sinha, P.; Kirby, S.; Hiramatsu, H.; Han, W.; Mori, M.; Sharma, M.; Jeedigunta, H.; Sprinkle, M.; Pelto, C.; Tanniru, M.; Leatherman, G.; Fischer, K.; Post, I.; Auth, C.
2018 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) Interconnect Technology Conference (IITC), 2018 IEEE International. :144-147 Jun, 2018
Conference
Griggio, F.; Palmer, J.; Pan, F.; Toledo, N.; Schmitz, A.; Tsameret, I.; Kasim, R.; Leatherman, G.; Hicks, J.; Madhavan, A.; Shin, J.; Steigerwald, J.; Yeoh, A.; Auth, C.
2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018 IEEE International. :6E.3-1-6E.3-5 Mar, 2018
Conference
Auth, C.; Aliyarukunju, A.; Asoro, M.; Bergstrom, D.; Bhagwat, V.; Birdsall, J.; Bisnik, N.; Buehler, M.; Chikarmane, V.; Ding, G.; Fu, Q.; Gomez, H.; Han, W.; Hanken, D.; Haran, M.; Hattendorf, M.; Heussner, R.; Hiramatsu, H.; Ho, B.; Jaloviar, S.; Jin, I.; Joshi, S.; Kirby, S.; Kosaraju, S.; Kothari, H.; Leatherman, G.; Lee, K.; Leib, J.; Madhavan, A.; Marla, K.; Meyer, H.; Mule, T.; Parker, C.; Parthasarathy, S.; Pelto, C.; Pipes, L.; Post, I.; Prince, M.; Rahman, A.; Rajamani, S.; Saha, A.; Santos, J. Dacuna; Sharma, M.; Sharma, V.; Shin, J.; Sinha, P.; Smith, P.; Sprinkle, M.; Amour, A. St.; Staus, C.; Suri, R.; Towner, D.; Tripathi, A.; Tura, A.; Ward, C.; Yeoh, A.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :29.1.1-29.1.4 Dec, 2017
Academic Journal
Namas, R.; Khanna, D.; Tashkin, D.P.; Furst, D.E.; Wilhalme, H.; Tseng, C.-H.; Roth, M.D.; Kafaja, S.; Volkmann, E.; Clements, P.J.; Elashoff, R.; Goldin, J.; Roth, M.; Bulpitt, K.; Chung, W.-L.J.; Viasco, S.; Sterz, M.; Woolcock, L.; Yan, X.; Ho, J.; Vasunilashorn, S.; da Costa, I.; Seibold, J.R.; Riley, D.J.; Amorosa, J.K.; Hsu, V.M.; McCloskey, D.A.; Wilson, J.E.; Varga, J.; Schraufnagel, D.; Wilbur, A.; Lapota, D.; Arami, S.; Cole-Saffold, P.; Simms, R.; Theodore, A.; Clarke, P.; Korn, J.; Tobin, K.; Nuite, M.; Silver, R.; Bolster, M.; Strange, C.; Schabel, S.; Smith, E.; Arnold, J.; Caldwell, K.; Bonner, M.; Wise, R.; Wigley, F.; White, B.; Hummers, L.; Bohlman, M.; Polito, A.; Leatherman, G.; Forbes, E.; Daniel, M.; Martin, D.; Steen, V.; Read, C.; Cooper, C.; Wheaton, S.; Carey, A.; Ortiz, A.; Mayes, M.; Parsley, E.; Oldham, S.; Filemon, T.; Jordan, S.; Perry, M.; Connolly, K.; Golden, J.; Wolters, P.; Webb, R.; Davis, J.; Antolos, C.; Maynetto, C.; Fessler, B.; Olman, M.; Sanders, C.; Heck, L.; Parkhill, T.; Rothfield, N.; Metersky, M.; Cobb, R.; Aberles, M.; Ingenito, F.; Breen, E.; Mayes, M.; Mubarak, K.; Granda, J.L.; Silva, J.; Injic, Z.; Alexander, R.; Springmeyer, S.; Kirkland, S.; Molitor, J.; Hinke, R.; Mondt, A.; Thompson, T.; Rounds, S.; Weinstein, M.; Thompson, B.; Paulus, H.; Levy, S.; Kissin, E.; Cheong, F.Y.; Marlis, G.; Mason-Berry, J.; Saffold, P.; Rodriguez, M.; Guzman, L.; Brook, J.; Ibrahim, G.; Largaespada, K.; Fridley, C.; Zulmastashvili, M.; Manu, A.; Moore, S.; Hummers, L.; Leatherman, G.; Hant, F.N.; Gibson, K.; Morrison, M.; Donnelly, H.; Marlin, C.; Gangar, J.; McCloskey, D.A.; Eller, A.; Leong, D.; Lalosh, M.; Obata, J.; Arami, S.; Franklin, D.; Schiopu, E.; Benedict-Blue, M.; Leone, V.; Shaw, J.; Tan, F.; Perry, M.; Anderson, J.; Saulino, A.; Carey, P.; Esplin, M.; Carlson, P.
In: Arthritis Care and Research . (Arthritis Care and Research, March 2018, 70(3):439-444)
Academic Journal
Bello, R.J.; Cooney, C.M.; Melamed, E.; Follmar, K.; Yenokyan, G.; Leatherman, G.; Shah, A.A.; Wigley, F.M.; Hummers, L.K.; Lifchez, S.D.
In: Arthritis and Rheumatology . (Arthritis and Rheumatology, August 2017, 69(8):1661-1669)
Conference
Yeoh, A.; Chang, M.; Pelto, C.; Tzuen-Luh Huang; Balakrishnan, S.; Leatherman, G.; Agraharam, S.; Guotao Wang; Zhiyong Wang; Chiang, D.; Stover, P.; Brandenburger, P.
56th Electronic Components and Technology Conference 2006 Electronic Components & Technology Electronic Components and Technology Conference, 2006. Proceedings. 56th. :5 pp. 2006
Academic Journal
Wise, R.A.; Talalay, P.; Fahey, J.W.; Holbrook, J.T.; Rayapudi, S.; Sudini, K.R.; Sugar, E.A.; Burke, A.; Thimmulappa, R.; Singh, A.; Biswal, S.; Leatherman, G.; Daniel, M.; Thurman, A.; Criner, G.; Jacobs, M.R.; Marchetti, N.; Kim, V.; Shenoy, K.; Smith, H.; Rosario, M.; Bolla, S.; Mandapati, C.; Sethi, S.; Berenson, C.S.; Eberhardt, E.; Kruzel, R.; Kumar, S.; Noel, S.; Beselman, A.; Amend-Libercci, D.; Ewing, C.; Hart, A.; Lears, A.; Nowakowski, D.; Prusakowski, N.; Shade, D.; Yasin, R.; Brown, E.; Wang, L.; O'Connor, G.; Strange, C.; Wendt, C.; Punturieri, A.; Viviano, L.W.
In: PLoS ONE . (PLoS ONE, November 2016, 11(11))
Academic Journal
Smith, L.J.; Kalhan, R.; Wise, R.A.; Sugar, E.A.; Holbrook, J.T.; Lima, J.J.; Irvin, C.G.; Dozor, A.J.; Hanania, N.; Sockrider, M.; Bertrand, L.; Atik, M.A.; Lopez, B.A.; Reibman, J.; DiMango, E.; Rogers, L.; Carapetyan, K.; Rivera, K.; Bryce-Robinson, N.; Scheuerman, M.; Fiorino, E.; Sundy, J.; Green, D.; Shah, A.; Foss, C.; Ghidorzi, J.; Allen, S.; Mervin-Blake, S.; Pangborn, E.; Robertson, V.S.; Eberlein, N.; Land, M.; Vickery, B.; Wu, E.; Jaggers, D.; Moy, J.; Naureckas, E.; Nevin, M.; Hixon, J.; Brees, A.; Gonsalves, Z.; Zagaja, V.; Kustwin, J.; Xu, B.; Matthews, T.; Robinson, L.; Singh, N.; Busk, M.; Puntenney, P.; Busk, N.; Hutchins, J.; Happel, K.I.; Tejedor, R.S.; Sandi, M.C.; Romaine, C.; Burzynski, C.J.; Antoine, A.; Cruse, J.; Katial, R.; Hoyte, F.; Searing, D.; Larson, T.; Phillips, N.; Currier, H.; Blake, K.; Lang, J.; Mougey, E.; Archer, N.; Seymour, D.; Warde, M.; Cohen, R.; Santiago, M.; Ramdeo, R.; Dreyfus, M.; Dixon, A.E.; Kaminsky, D.A.; Lahiri, T.; Burns, S.M.; Mastronarde, J.; Parsons, J.; Drake, J.; Santiago, J.; Cosmar, D.; Compton, R.A.; Krishnan, S.; Boyer, J.; Banquet, A.; De La Riva-Velasco, E.; Lowenthal, D.; Gjonaj, S.; Kim, Y.C.; Traeger, N.; Welter, J.; Scharbach, M.; Siegel, S.; Gherson, I.; Monchil, L.; Formisano, T.M.; Williams, J.; Castro, M.; Bacharier, L.; Sumino, K.; Tarsi, J.J.; Patterson, B.; Montgomery, T.; Slavin, R.G.; Chassaing, D.K.; Gerald, L.B.; Goodwin, J.L.; Brown, M.A.; Knox, K.S.; Carr, T.F.; Berry, C.E.; Martinez, F.D.; Morgan, W.J.; Daines, C.L.; Daines, M.O.; Grad, R.; Ezmigna, D.; Vasquez, M.M.; Wences, J.A.; Lopez, S.S.; Priefert, J.C.; Varela, M.T.; Weese, R.; Chee, K.; Paco, A.; Wanner, A.; Lockey, R.; Schmid, A.; Campos, M.; King, M.; Mendes, E.S.; Rebolledo, P.D.; Arana, J.; Cadet, L.; McCrery, R.; Croker, S.M.; McCullough, S.; Salzman, G.; Abdeljalil, A.; Pyszczynski, D.; Bhat, A.; Haney, P.; Wasserman, S.; Ramsdell, J.; Soler, X.; Kinninger, K.; Ferguson, P.; Martineau, A.; Ung, S.; Greene, T.; Teague, W.G.; Wavell, K.W.; Wolf, D.; Thompson-Batt, D.; Bailey, W.C.; Anthonisen, N.; Yasin, R.; Amend-Libercci, D.; Adler, A.; Casper, A.S.; Daniel, M.; Hart, A.; Lears, A.; Leatherman, G.; Nowakowski, D.; Prusakowski, N.; Rayapudi, S.; Rea, A.; Saams, J.; Shade, D.; Thurman, A.; Wei, C.; Newcomer, A.; Bime, C.; Brown, E.; Levine, C.; Roettger, S.; Wu, N.; Shen, W.; Wang, L.; Ukken, J.; Lazarus, S.C.; Calhoun, W.J.; Cloutier, M.; Kahrilas, P.; McWilliams, B.; Rogatko, A.; Sorkness, C.; Sicherer, S.; Weinmann, G.; Freemer, M.; Smith, R.; Taggart, V.; Webber, L.; Zheng, G.; Lancet, E.; Edelman, N.H.; Rappaport, S.
In: JAMA - Journal of the American Medical Association . (JAMA - Journal of the American Medical Association, 26 May 2015, 313(20):2033-2043)
Conference
Castro, I.; Ocaña, I.; Elizalde, M. R.; Martínez-Esnaola, J. M.; Pantuso, D.; Leatherman, G.; Xu, G.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Leatherman, G.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어