학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 15건 | 목록
1~20
Report
Pan, Z.; Bianchini, F.; Wu, W. L. K.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderes, E.; Anderson, A. J.; Ansarinejad, B.; Archipley, M.; Aylor, K.; Balkenhol, L.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benabed, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Camphuis, E.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Chichura, P. M.; Cho, H. -M.; Chou, T. -L.; Cliche, J. -F.; Coerver, A.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; Daley, C.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Dibert, K. R.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Doussot, A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Fichman, K.; Foster, A.; Fu, J.; Galli, S.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Ge, F.; Goeckner-Wald, N.; Gualtieri, R.; Guidi, F.; Guns, S.; Gupta, N.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O.; Jonas, M.; Jones, A.; Kéruzoré, F.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Levy, K.; Lowitz, A. E.; Lu, C.; Maniyar, A.; Menanteau, F.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Nakato, Y.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Quan, W.; Raghunathan, S.; Rahimi, M.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Takakura, S.; Tandoi, C.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Trendafilova, C.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.; Zebrowski, J. A.
Physical Review D 108.12 (2023): 122005
Report
Chichura, P. M.; Foster, A.; Patel, C.; Ossa-Jaen, N.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Archipley, M.; Austermann, J. E.; Avva, J. S.; Balkenhol, L.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Beall, J. A.; Benabed, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Chiang, H. C.; Cho, H. -M.; Chou, T-L.; Citron, R.; Cliche, J. -F.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Cukierman, A.; Daley, C. M.; Denison, E. V.; Dibert, K.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Fu, J.; Galli, S.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; George, E. M.; Goeckner-Wald, N.; Gualtieri, R.; Guns, S.; Gupta, N.; Guyser, R.; de Haan, T.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Hrubes, J. D.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Li, D.; Lowitz, A.; Lu, C.; Marrone, D. P.; McMahon, J. J.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Mocanu, L. M.; Montgomery, J.; Moran, C. Corbett; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Nibarger, J. P.; Noble, G.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Patil, S.; Pearson, J.; Phadke, K. A.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Pryke, C.; Quan, W.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Rouble, M.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Sievers, C.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Springmann, A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Tandoi, C.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Veach, T.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
2022 ApJ 936 173
Report
Sobrin, J. A.; Anderson, A. J.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Dutcher, D.; Foster, A.; Goeckner-Wald, N.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Rahlin, A.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderes, E.; Archipley, M.; Austermann, J. E.; Avva, J. S.; Aylor, K.; Balkenhol, L.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benabed, K.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Cho, H. -M.; Chou, T. -L.; Cliche, J. -F.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; Daley, C.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Dibert, K.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Fu, J.; Galli, S.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gualtieri, R.; Guns, S.; Gupta, N.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Lu, C.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Quan, W.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Rouble, M.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B.; Sayre, J. T.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Tandoi, C.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
ApJS 258 42 (2022)
Report
Montgomery, J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderes, E.; Anderson, A. J.; Archipley, M.; Avva, J. S.; Aylor, K.; Balkenhol, L.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benabed, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Cho, H. -M.; Chou, T. -L.; Cliche, J. -F.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; Daley, C.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Dibert, K.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Elleflot, T.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Galli, S.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Goeckner-Wald, N.; Groh, J. C.; Gualtieri, R.; Guns, S.; Gupta, N.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Lu, C.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Quan, W.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Rouble, M.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 8(1) 014001 (8 January 2022)
Report
Balkenhol, L.; Dutcher, D.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderes, E.; Anderson, A. J.; Archipley, M.; Avva, J. S.; Aylor, K.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benabed, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Cho, H. -M.; Chou, T. -L.; Cliche, J. -F.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; Daley, C.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Dibert, K.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Galli, S.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Goeckner-Wald, N.; Gualtieri, R.; Guns, S.; Gupta, N.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Lu, C.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Quan, W.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Rouble, M.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Phys. Rev. D 104, 083509 (2021)
Report
Guns, S.; Foster, A.; Daley, C.; Rahlin, A.; Whitehorn, N.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderes, E.; Anderson, A. J.; Archipley, M.; Avva, J. S.; Aylor, K.; Balkenhol, L.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benabed, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Cho, H. -M.; Chou, T. -L.; Cliche, J. -F.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Dibert, K.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Fu, J.; Galli, S.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Goeckner-Wald, N.; Gualtieri, R.; Gupta, N.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Lu, C.; Marrone, D. P.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Phadke, K. A.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Quan, W.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Rouble, M.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.; Zhang, L.
ApJ 916 98 (2021)
Report
Dutcher, D.; Balkenhol, L.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderes, E.; Anderson, A. J.; Archipley, M.; Avva, J. S.; Aylor, K.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benabed, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Bouchet, F. R.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chen, G.; Cho, H. -M.; Chou, T. -L.; Cliche, J. -F.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; Daley, C.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Dibert, K.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Galli, S.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Goeckner-Wald, N.; Gualtieri, R.; Guns, S.; Gupta, N.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hood, J. C.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Lu, C.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Millea, M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Prabhu, K.; Quan, W.; Raghunathan, S.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Riedel, B.; Rouble, M.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schiappucci, E.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Phys. Rev. D 104, 022003 (2021)
Report
Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Aylor, K.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Bocquet, S.; Bryant, L.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dodelson, S.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Groh, J. C.; Guns, S.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Raghunathan, S.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bender, A. N.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bender, A. N.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Aylor, K.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benson, B. A.; Bleem, L. S.; Bocquet, S.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dodelson, S.; Dutcher, D.; Everett, W.; Foster, A.; Gallicchio, J.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S. T.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Raghunathan, S.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Proc. SPIE 10708, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX, 1070803 (1 August 2018)
Report
Sobrin, J. A.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Foster, A.; Gallichio, J.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S. T.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Holzapfel, W. L.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M.
Proc. SPIE 10708, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX, 107081H (24 August 2018)
Report
Dutcher, D.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Foster, A.; Gallicchio, J.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S. T.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Holzapfel, W. L.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Proc. SPIE Volume 10708, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX; 107081Z (2018)
Report
Nadolski, A.; Kofman, A. M.; Vieira, J. D.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S. T.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Holzapfel, W. L.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Proceedings of SPIE Volume 10708, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX; 1070843 (2018)
Report
Phys. Rev. B 80, 174515 (2009)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Khaire, T. S.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어