학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 7건 | 목록
1~10
Conference
Narasimha, S.; Jagannathan, B.; Ogino, A.; Jaeger, D.; Greene, B.; Sheraw, C.; Zhao, K.; Haran, B.; Kwon, U.; Mahalingam, A. K. M.; Kannan, B.; Morganfeld, B.; Dechene, J.; Radens, C.; Tessier, A.; Hassan, A.; Narisetty, H.; Ahsan, I.; Aminpur, M.; An, C.; Aquilino, M.; Arya, A.; Augur, R.; Baliga, N.; Bhelkar, R.; Biery, G.; Blauberg, A.; Borjemscaia, N.; Bryant, A.; Cao, L.; Chauhan, V.; Chen, M.; Cheng, L.; Choo, J.; Christiansen, C.; Chu, T.; Cohen, B.; Coleman, R.; Conklin, D.; Crown, S.; da Silva, A.; Dechene, D.; Derderian, G.; Deshpande, S.; Dilliway, G.; Donegan, K.; Eller, M.; Fan, Y.; Fang, Q.; Gassaria, A.; Gauthier, R.; Ghosh, S.; Gifford, G.; Gordon, T.; Gribelyuk, M.; Han, G.; Han, J.H.; Han, K.; Hasan, M.; Higman, J.; Holt, J.; Hu, L.; Huang, L.; Huang, C.; Hung, T.; Jin, Y.; Johnson, J.; Johnson, S.; Joshi, V.; Joshi, M.; Justison, P.; Kalaga, S.; Kim, T.; Kim, W.; Krishnan, R.; Krishnan, B.; Anil, K.; Kumar, M.; Lee, J.; Lee, R.; Lemon, J.; Liew, S.L.; Lindo, P.; Lingalugari, M.; Lipinski, M.; Liu, P.; Liu, J.; Lucarini, S.; Ma, W.; Maciejewski, E.; Madisetti, S.; Malinowski, A.; Mehta, J.; Meng, C.; Mitra, S.; Montgomery, C.; Nayfeh, H.; Nigam, T.; Northrop, G.; Onishi, K.; Ordonio, C.; Ozbek, M.; Pal, R.; Parihar, S.; Patterson, O.; Ramanathan, E.; Ramirez, I.; Ranjan, R.; Sarad, J.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schiller, C.; Senapati, B.; Serrau, C.; Shah, N.; Shen, T.; Sheng, H.; Shepard, J.; Shi, Y.; Silvestre, M.C.; Singh, D.; Song, Z.; Sporre, J.; Srinivasan, P.; Sun, Z.; Sutton, A.; Sweeney, R.; Tabakman, K.; Tan, M.; Wang, X.; Woodard, E.; Xu, G.; Xu, D.; Xuan, T.; Yan, Y.; Yang, J.; Yeap, K.B.; Yu, M.; Zainuddin, A.; Zeng, J.; Zhang, K.; Zhao, M.; Zhong, Y.; Carter, R.; Lin, C.-H.; Grunow, S.; Child, C.; Lagus, M.; Fox, R.; Kaste, E.; Gomba, G.; Samavedam, S.; Agnello, P.; Sohn, D. K.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :29.5.1-29.5.4 Dec, 2017
Conference
Lin, C-H.; Greene, B.; Narasimha, S.; Cai, J.; Bryant, A.; Radens, C.; Narayanan, V.; Linder, B.; Ho, H.; Aiyar, A.; Alptekin, E.; An, J-J.; Aquilino, M.; Bao, R.; Basker, V.; Breil, N.; Brodsky, M.; Chang, W.; Clevenger, L.; Chidambarrao, D.; Christiansen, C.; Conklin, D.; DeWan, C.; Dong, H.; Economikos, L.; Engel, B.; Fang, S.; Ferrer, D.; Friedman, A.; Gabor, A.; Guarin, F.; Guan, X.; Hasanuzzaman, M.; Hong, J.; Hoyos, D.; Jagannathan, B.; Jain, S.; Jeng, S-J.; Johnson, J.; Kannan, B.; Ke, Y.; Khan, B.; Kim, B.; Koswatta, S.; Kumar, A.; Kwon, T.; Kwon, U.; Lanzerotti, L.; Lee, H-K; Lee, W-H.; Levesque, A.; Li, W.; Li, Z.; Liu, W.; Mahajan, S.; McStay, K.; Nayfeh, H.; Nicoll, W.; Northrop, G.; Ogino, A.; Pei, C.; Polvino, S.; Ramachandran, R.; Ren, Z.; Robison, R.; Saraf, I.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schepis, D.; Sheraw, C.; Siddiqui, S.; Song, L.; Stein, K.; Tran, C.; Utomo, H.; Vega, R.; Wang, G.; Wang, H.; Wang, W.; Wang, X.; Wehelle-Gamage, D.; Woodard, E.; Xu, Y.; Yang, Y.; Zhan, N.; Zhao, K.; Zhu, C.; Boyd, K.; Engbrecht, E.; Henson, K.; Kaste, E.; Krishnan, S.; Maciejewski, E.; Shang, H.; Zamdmer, N.; Divakaruni, R.; Rice, J.; Stiffler, S.; Agnello, P.
2014 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2014 IEEE International. :3.8.1-3.8.3 Dec, 2014
Conference
Song, L.; Liang, Y.; Onoda, H.; Lai, C. W.; Wallner, T. A.; Pofelski, A.; Gruensfelder, C.; Josse, E.; Okawa, T.; Brown, J.; Williams, R.Q.; Holt, J.; Weijtmans, J.W.; Greene, B.; Utomo, H. K.; Lee, S. C.; Nair, D.; Zhang, Q.; Zhu, C.; Wu, X.; Sherony, M.; Lee, Y. M.; Henson, W. K.; Divakaruni, R.; Kaste, E.
Proceedings of Technical Program of 2012 VLSI Technology, System and Application VLSI Technology, Systems, and Applications (VLSI-TSA), 2012 International Symposium on. :1-2 Apr, 2012
Conference
Hamaguchi, M.; Nair, D.; Jaeger, D.; Nishimura, H.; Li, W.; Na, M-H.; Bernicot, C.; Liang, J.; Stahrenberg, K.; Kim, K.; Eller, M.; Lee, K-C.; Iwamoto, T.; Teh, Y-W.; Mori, S.; Takasu, Y.; Park, JH; Song, L.; Kim, N-S.; Kohler, S.; Kothari, H.; Han, J-P.; Miyake, S.; Meer, H.V.; Arnaud, F.; Barla, K.; Sherony, M.; Donaton, R.; Celik, M.; Miyashita, K.; Narayanan, V.; Wachnik, R.; Chudzik, M.; Sudijono, J.; Ku, J.-H.; Kim, J.D.; Sekine, M.; Johnson, S.; Neumueller, W.; Sampson, R.; Kaste, E.; Divakaruni, R.; Matsuoka, F.
2011 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2011 IEEE International. :25.6.1-25.6.4 Dec, 2011
Academic Journal
Han, J.-P.; Voelker, M.; Stahrenberg, K.; Eller, M.; Zhuang, H.; Kim, K.; Wiedholz, C.; Liang, J.; Ostermayr, M.; Lian, J.; Neumueller, W.; Shimizu, T.; Tsutsui, G.; Miyake, S.; Goto, Y.; Pan, L.-H.; Mocuta, A.; Jaeger, D.; Stein, K.; Nair, D.; Li, W.; Donaton, R.; Na, M.; Sherony, M.; Wachnik, R.; Kaste, E.; Steegen, A.; Bernicot, C.; Arnaud, F.; Kohler, S.; Chanemougame, D.; Celik, M.; Barla, K.; Sampson, R.; Azuma, A.; Miyashita, K.; Hamaguchi, M.; Uchimura, S.; Yang, G.; Sung Kim, N.; Sudijono, J.; Hoo Park, J.; Ku, J.-H.; Van Meer, H.; Johnson, F.S.
In: Japanese Journal of Applied Physics . (Japanese Journal of Applied Physics, April 2011, 50(4 PART 2))
Conference
Narasimha, S.; Jagannathan, B.; Ogino, A.; Jaeger, D.; Greene, B.; Sheraw, C.; Zhao, K.; Haran, B.; Kwon, U.; Mahalingam, A.K.M.; Kannan, B.; Morganfeld, B.; Dechene, J.; Radens, C.; Tessier, A.; Hassan, A.; Narisetty, H.; Ahsan, I.; Aminpur, M.; An, C.; Aquilino, M.; Arya, A.; Augur, R.; Baliga, N.; Bhelkar, R.; Biery, G.; Blauberg, A.; Borjemscaia, N.; Bryant, A.; Cao, L.; Chauhan, V.; Chen, M.; Cheng, L.; Choo, J.; Christiansen, C.; Chu, T.; Cohen, B.; Coleman, R.; Conklin, D.; Crown, S.; Da Silva, A.; Dechene, D.; Derderian, G.; Deshpande, S.; Dilliway, G.; Donegan, K.; Eller, M.; Fan, Y.; Fang, Q.; Gassaria, A.; Gauthier, R.; Ghosh, S.; Gifford, G.; Gordon, T.; Gribelyuk, M.; Han, G.; Han, J.H.; Han, K.; Hasan, M.; Higman, J.; Holt, J.; Hu, L.; Huang, L.; Huang, C.; Hung, T.; Jin, Y.; Johnson, J.; Johnson, S.; Joshi, V.; Joshi, M.; Justison, P.; Kalaga, S.; Kim, T.; Kim, W.; Krishnan, R.; Krishnan, B.; Anil, K.; Kumar, M.; Lee, J.; Lee, R.; Lemon, J.; Liew, S.L.; Lindo, P.; Lingalugari, M.; Lipinski, M.; Liu, P.; Liu, J.; Lucarini, S.; Ma, W.; MacIejewski, E.; Madisetti, S.; Malinowski, A.; Mehta, J.; Meng, C.; Mitra, S.; Montgomery, C.; Nayfeh, H.; Nigam, T.; Northrop, G.; Onishi, K.; Ordonio, C.; Ozbek, M.; Pal, R.; Parihar, S.; Patterson, O.; Ramanathan, E.; Ramirez, I.; Ranjan, R.; Sarad, J.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schiller, C.; Senapati, B.; Serrau, C.; Shah, N.; Shen, T.; Sheng, H.; Shepard, J.; Shi, Y.; Silvestre, M.C.; Singh, D.; Song, Z.; Sporre, J.; Srinivasan, P.; Sun, Z.; Sutton, A.; Sweeney, R.; Tabakman, K.; Tan, M.; Wang, X.; Woodard, E.; Xu, G.; Xu, D.; Xuan, T.; Yan, Y.; Yang, J.; Yeap, K.B.; Yu, M.; Zainuddin, A.; Zeng, J.; Zhang, K.; Zhao, M.; Zhong, Y.; Carter, R.; Lin, C.-H.; Grunow, S.; Child, C.; Lagus, M.; Fox, R.; Kaste, E.; Gomba, G.; Samavedam, S.; Agnello, P.; Sohn, D.K.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , 2017 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2017. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 23 January 2018, :29.5.1-29.5.4)
Conference
Lin, C.-H.; Greene, B.; Narasimha, S.; Cai, J.; Bryant, A.; Radens, C.; Narayanan, V.; Linder, B.; Ho, H.; Aiyar, A.; Alptekin, E.; An, J.-J.; Aquilino, M.; Bao, R.; Basker, V.; Breil, N.; Brodsky, M.; Chang, W.; Clevenger, L.; Chidambarrao, D.; Christiansen, C.; Conklin, D.; DeWan, C.; Dong, H.; Economikos, L.; Engel, B.; Fang, S.; Ferrer, D.; Friedman, A.; Gabor, A.; Guarin, F.; Guan, X.; Hasanuzzaman, M.; Hong, J.; Hoyos, D.; Jagannathan, B.; Jain, S.; Jeng, S.-J.; Johnson, J.; Kannan, B.; Ke, Y.; Khan, B.; Kim, B.; Koswatta, S.; Kumar, A.; Kwon, T.; Kwon, U.; Lanzerotti, L.; Lee, H.-K.; Lee, W.-H.; Levesque, A.; Li, W.; Li, Z.; Liu, W.; Mahajan, S.; McStay, K.; Nayfeh, H.; Nicoll, W.; Northrop, G.; Ogino, A.; Pei, C.; Polvino, S.; Ramachandran, R.; Ren, Z.; Robison, R.; Saraf, I.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schepis, D.; Sheraw, C.; Siddiqui, S.; Song, L.; Stein, K.; Tran, C.; Utomo, H.; Vega, R.; Wang, G.; Wang, H.; Wang, W.; Wang, X.; Wehelle-Gamage, D.; Woodard, E.; Xu, Y.; Yang, Y.; Zhan, N.; Zhao, K.; Zhu, C.; Boyd, K.; Engbrecht, E.; Henson, K.; Kaste, E.; Krishnan, S.; Maciejewski, E.; Shang, H.; Zamdmer, N.; Divakaruni, R.; Rice, J.; Stiffler, S.; Agnello, P.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , 2014 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2014. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 20 February 2015, 2015-February(February):3.8.1-3.8.3)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Kaste, E.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어