학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 39건 | 목록
1~10
Academic Journal
In Microelectronic Engineering 2010 87(11):2119-2123
Academic Journal
In Microelectronic Engineering 2009 86(3):408-413
Academic Journal
Horstmann, M. ; Greenlaw, D.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; Bentum, R. van; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Cheek, J.; Buller, J.; Krishnan, S.; Raab, M.; Kepler, N.
In Materials Science & Engineering B 2004 114:3-8
Conference
Su, L.T.; Pellerin, J.; Huang, S.F.; Khare, M.; Schepis, D.; Rim, K.; Liming, S.; Waite, A.; Sato, T.; Panda, S.; Nii, H.; Lee, W.; Holt, J.; Fried, D.; Chidambarrao, D.; Chen, H.; Kepler, N.; Raab, M.; Greenlaw, D.; Stephan, R.; Hubler, P.; Ruelke, H.; Herzog, O.; Engelmann, H.-J.; Schaller, M.; Salz, H.; Trui, B.; Trentsch, M.; Reichel, C.; Press, P.; Otterbach, R.; Neu, A.; Lenski, M.; Koerner, G.; Klais, J.; Javorka, P.; Hohage, J.; Hempel, K.; Hellmich, A.; Gerhardt, M.; Frohberg, K.; Feudel, T.; Bierstedt, H.; Hontschel, J.; Kammler, T.; Wei, A.; Horstmann, M.
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :233-236 2005
Conference
Horstmann, M.; Greenlaw, D.; Feudel, T.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Cheek, J.; Buller, J.; Krishnan, S.; Raab, M.; Kepler, N.
2004 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology (IEEE Cat. No.04EX866) Integrated circuit design and technology Integrated Circuit Design and Technology, 2004. ICICDT '04. International Conference on. :65-71 2004
Conference
13th Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference. Advancing the Science and Technology of Semiconductor Manufacturing. ASMC 2002 (Cat. No.02CH37259) Advanced semiconductor manufacturing Advanced Semiconductor Manufacturing 2002 IEEE/SEMI Conference and Workshop. :356-361 2002
Conference
Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.; Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :1075-1077 2004
Conference
Aubel, O.; Hohage, J.; Feustel, F.; Hennesthal, C.; Mayer, U.; Preusse, A.; Nopper, M.; Lehr, M. U.; Boemmels, J.; Wehner, S.
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2009 IEEE International. :832-836 Apr, 2009
Conference
Lee, W.-H.; Waite, A.; Nii, H.; Nayfeh, H.M.; McGahay, V.; Nakayama, H.; Fried, D.; Chen, H.; Black, L.; Bolam, R.; Cheng, J.; Chidambarrao, D.; Christiansen, C.; Cullinan-Scholl, M.; Davies, D.R.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Fitzsimmons, J.; Gill, J.; Gribelyuk, M.; Harmon, D.; Holt, J.; Ida, K.; Kiene, M.; Kluth, J.; Labelle, C.; Madan, A.; Malone, K.; McLaughlin, P.V.; Minami, M.; Mocuta, D.; Murphy, R.; Muzzy, C.; Newport, M.; Panda, S.; Peidous, I.; Sakamoto, A.; Sato, T.; Sudo, G.; VanMeer, H.; Yamashita, T.; Zhu, H.; Agnello, P.; Bronner, G.; Freeman, G.; Huang, S.-F.; Ivers, T.; Luning, S.; Miyamoto, K.; Nye, H.; Pellerin, J.; Rim, K.; Schepis, D.; Spooner, T.; Chen, X.; Khare, M.; Horstmann, M.; Wei, A.; Kammler, T.; Hontschel, J.; Bierstedt, H.; Engelmann, H.-J.; Hellmich, A.; Hempel, K.; Koerner, G.; Neu, A.; Otterbach, R.; Reichel, C.; Trentsch, M.; Press, P.; Frohberg, K.; Schaller, M.; Salz, H.; Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Raab, M.; Greenlaw, D.; Kepler, N.
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :4 pp.-59 2005
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Hohage, J.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어