학술논문
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Pavanello, Fabio; Marchand, Cedric; O'Connor, Ian; Orobtchouk, Regis; Mandorlo, Fabien; Letartre, Xavier; Cueff, Sebastien; Vatajelu, Elena Ioana; Di Natale, Giorgio; Cluzel, Benot; Coillet, Aurelien; Charbonnier, Benoit; Noe, Pierre; Kavan, Frantisek; Zoldak, Martin; Szaj, Michal; Bienstman, Peter; Van Vaerenbergh, Thomas; Ruhrmair, Ulrich; Flores, Paulo; e Silva, Luis Guerra; Chaves, Ricardo; Silveira, Luis-Miguel; Ceccato, Mariano; Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Karakostas, Vasileios; Brando, Axel; Cazorla, Francisco J.; Canal, Ramon; Closas, Pau; Gusi-Amigo, Adria; Crovetti, Paolo; Carpegna, Alessio; Carmona, Tzamn Melendez; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
2023 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2023 IEEE. :1-6 May, 2023
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[AR] Cluzel, Benot
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