학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 129건 | 목록
1~20
Academic Journal
In: Future Foods . (Future Foods, June 2025, 11)
Conference
Deslandes, K.; Vachon, F.; Rossignol, T.; Parent, S.; Roy, N.; Pepin, C.; Lepage, O.; Fabris, L.; Hausladen, P. A.; Retiere, F.; Pratte, J.-F.; Charlebois, S. A.
2024 IEEE Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD) Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD), 2024 IEEE. :1-2 Oct, 2024
Academic Journal
Stiegler, T.; Sangiorgio, S.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; Kharusi, S. Al; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bolotnikov, A.; Breur, P.A.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G.F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; De St. Croix, A.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; Deslandes, K.; DeVoe, R.; Di Vacri, M.L.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Edaltafar, F.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Hoppe, E.W.; Hößl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K.G.; Lenardo, B.G.; Leonard, D.S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lv, P.; MacLellan, R.; Massacret, N.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C.R.; Newby, R.J.; Ni, K.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rasiwala, H.; Rescia, S.; Retière, F.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Skarpaas, K., VIII; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Sun, X.L.; Tarka, M.; Thibado, S.; Tidball, A.; Todd, J.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J.-L.; Wagenpfeil, M.; Wager, T.; Walent, M.; Wang, Q.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wichoski, U.; Worcester, M.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 June 2021 1000
Academic Journal
Njoya, O.; Tsang, T.; Tarka, M.; Fairbank, W.; Kumar, K.S.; Rao, T.; Wager, T.; Kharusi, S. Al; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Brodsky, J.P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G.F.; Cao, L.; Cen, W.R.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S.J.; De St. Croix, A.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Di Vacri, M.L.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Heffner, M.; Hoppe, E.W.; Hößl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K.G.; Lenardo, B.G.; Leonard, D.S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y.H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C.R.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retière, F.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Skarpaas, K., VIII; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X.L.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J.-L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wichoski, U.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y.-R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 August 2020 972
Conference
Giampaolo, R. A.; Theberge-Dupuis, G.; Scarpellini, R.; Carrier, S.; Giroux, G.; Prentice, S.; Chenard, J.; Rossignol, T.; Vachon, F.; Charlebois, S.; Roy, N.; Pratte, J.-F.
2024 IEEE Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD) Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD), 2024 IEEE. :1-1 Oct, 2024
Academic Journal
Parent, S.; Vachon, F.; Gauthier, V.; Lamoureux, S.; Paquette, A.; Deschamps, J.; Rossignol, T.; Roy, N.; Arsenault, P.; Dautet, H.; Charlebois, S.A.; Pratte, J.
IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 12:127-137 2024
Academic Journal
Gallina, G.; Giampa, P.; Retière, F.; Kroeger, J.; Zhang, G.; Ward, M.; Margetak, P.; Li, G.; Tsang, T.; Doria, L.; Al Kharusi, S.; Alfaris, M.; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Blatchford, J.; Brodsky, J.P.; Brown, E.; Brunner, T.; Cao, G.F.; Cao, L.; Cen, W.R.; Chambers, C.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S.J.; De St. Croix, A.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Heffner, M.; Hoppe, E.W.; Hößl, J.; House, A.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Larson, A.; Lenardo, B.G.; Leonard, D.S.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y.H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Skarpaas, K., VIII; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X.L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J.-L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wichoski, U.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y.-R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 October 2019 940:371-379
Academic Journal
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 September 2024, 19(9))
Academic Journal
In: Fermentation . (Fermentation, June 2024, 10(6))
Report
Gallina, G.; Guan, Y.; Retiere, F.; Cao, G.; Bolotnikov, A.; Kotov, I.; Rescia, S.; Soma, A. K.; Tsang, T.; Darroch, L.; Brunner, T.; Bolster, J.; Cohen, J. R.; Franco, T. Pinto; Gillis, W. C.; Smalley, H. Peltz; Thibado, S.; Pocar, A.; Bhat, A.; Jamil, A.; Moore, D. C.; Adhikari, G.; Kharusi, S. Al; Angelico, E.; Arnquist, I. J.; Arsenault, P.; Badhrees, I.; Bane, J.; Belov, V.; Bernard, E. P.; Bhatta, T.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Caden, E.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chernyak, D.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Collister, R.; Cvitan, M.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Deslandes, K.; DeVoe, R.; di Vacri, M. L.; Ding, Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Eckert, B.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, W.; Farine, J.; Fu, Y. S.; Gallacher, D.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Gingras, C.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hardy, C. A.; Hedges, S.; Heffner, M.; Hein, E.; Holt, J.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hunt, W.; Iverson, A.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Lessard, G.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lindsay, R.; MacLellan, R.; Mahtab, M.; Majidi, S.; Malbrunot, C.; Margetak, P.; Martel-Dion, P.; Martin, L.; Masbou, J.; Massacret, N.; McMichael, K.; Mong, B.; Murray, K.; Nattress, J.; Natzke, C. R.; Ngwadla, X. E.; Ondze, J. C. Nzobadila; Odian, A.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Overman, C. T.; Parent, S.; Perna, A.; Piepke, A.; Pletskova, N.; Pratte, J. F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Ramonnye, G. J.; Rao, T.; Rasiwala, H.; Raymond, K.; Rebeiro, B. M.; Richardson, G.; Ringuette, J.; Riot, V.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Rudolph, L.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Shang, X.; Spadoni, F.; Stekhanov, V.; Sun, X. L.; Tidball, A.; Totev, T.; Triambak, S.; Tsang, R. H. M.; Tyuka, O. A.; Vachon, F.; Vidal, M.; Viel, S.; Visser, G.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wamba, K.; Wang, Q.; Wang, W.; Wang, Y.; Watts, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wilde, S.; Worcester, M.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xie, L.; Yan, W.; Yang, H.; Yang, L.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Ziegler, T.
Academic Journal
Lemaire, W.; Benhouria, M.; Koua, K.; Besrour, M.; Gauthier, L.; Martin-Hardy, G.; Rossignol, T.; Roy, S.; Fontaine, R.
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 56(7):2158-2170 Jul, 2021
Academic Journal
Lv, P.; Cao, G.F.; Wen, L.J.; Kharusi, S.A.; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Breur, P.A.; Brodsky, J.P.; Brown, E.; Brunner, T.; Mamahit, S.B.; Caden, E.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; St. Croix, A.D.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Deslandes, K.; DeVoe, R.; Vacri, M.L.D.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Doria, L.; Dragone, A.; Echevers, J.; Edaltafar, F.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Heffner, M.; Hoppe, E.W.; Hobl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Koffas, T.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K.G.; Lenardo, B.G.; Leonard, D.S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; MacLellan, R.; Massacret, N.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C.R.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retiere, F.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Skarpaas, K.; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X.L.; Tarka, M.; Todd, J.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J.; Wagenpfeil, M.; Wager, T.; Walent, M.; Wang, Q.; Watkins, J.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(12):2501-2510 Dec, 2020
Academic Journal
In: Microbiology (United Kingdom) . (Microbiology (United Kingdom), 2024, 170(6))
Report
nEXO Collaboration; Adhikari, G.; Kharusi, S. Al; Angelico, E.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Bane, J.; Belov, V.; Bernard, E. P.; Bhatta, T.; Bolotnikov, A.; Breur, P. A.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chernyak, D.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Collister, R.; Czyz, S. A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolgolenko, A.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fu, Y. S.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Gingras, W. Gillis C.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hardy, C. A.; Harouaka, K.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; House, A.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kotov, I.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lindsay, R.; MacLellan, R.; Mahtab, M.; Martel-Dion, P.; Masbou, J.; Massacret, N.; McElroy, T.; McMichael, K.; Peregrina, M. Medina; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Nattress, J.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ni, K.; Nolet, F.; Nusair, O.; Ondze, J. C. Nzobadila; Odgers, K.; Odian, A.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Overman, C. T.; Parent, S.; Perna, A.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J-F.; Priel, N.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Ramonnye, G. J.; Rao, T.; Rasiwala, H.; Rescia, S.; Retière, F.; Ringuette, J.; Riot, V.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Shang, X.; Soma, A. K.; Spadoni, F.; Stekhanov, V.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Thibado, S.; Tidball, A.; Todd, J.; Totev, T.; Triambak, S.; Tsang, R. H. M.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Vogel, P.; Vuilleumier, J-L.; Wagenpfeil, M.; Wager, T.; Walent, M.; Wamba, K.; Wang, Q.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wilde, S.; Worcester, M.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yan, W.; Yang, H.; Yang, L.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Ziegler, T.
J. Phys. G: Nucl. Part. Phys. 49, 015104 (2022)
Report
Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Schneider, J.; Fieguth, A.; Murra, M.; Schulte, D.; Althueser, L.; Huhmann, C.; Weinheimer, C.; Michel, T.; Anton, G.; Adhikari, G.; Kharusi, S. Al; Angelico, E.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Bane, J.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bolotnikov, A.; Breur, P. A.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G. F.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chernyak, D.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Craycraft, A.; Daniels, T.; Darroch, L.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Croix, A. de St; Deslandes, K.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dolinski, M. J.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Gingras, C.; Goeldi, D.; Gorham, A.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Hardy, C. A.; Harouaka, K.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lindsay, R.; MacLellan, R.; Martel-Dion, P.; Massacret, N.; McElroy, T.; Peregrina, M. Medina; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Nattress, J.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Nolet, F.; Nusair, O.; Ondze, J. C. Nzobadila; Odgers, K.; Odian, A.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Raguzin, E.; Ramonnye, G. J.; Rasiwala, H.; Rescia, S.; Retière, F.; Richard, C.; Richman, M.; Ringuette, J.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Soma, A. K.; Spadoni, F.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Tarka, M.; Thibado, S.; Tidball, A.; Todd, J.; Totev, T.; Triambak, S.; Tsang, R.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Walent, M.; Wichoski, U.; Worcester, M.; Wu, S. X.; Xia, Q.; Yan, W.; Yang, L.; Zeldovich, O.
Conference
Lewis, H.; Raymond, K.; Retière, F.; de St. Croix, A.; Gallina, G.; McCarthy, D.; Vachon, F.; Rossignol, T.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Charlebois, S.A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Physics and Simulation of Optoelectronic Devices XXXIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2025, 13360)
Report
Nakarmi, P.; Ostrovskiy, I.; Soma, A. K.; Retiere, F.; Kharusi, S. Al; Alfaris, M.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Blatchford, J.; Breur, P. A.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Mamahit, S. Byrne; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Croix, A. De St.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Doria, L.; Dragone, A.; Echevers, J.; Edaltafar, F.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößle, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lv, P.; MacLellan, R.; Massacret, N.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, l J. L.; Ortega, G. S.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Richman, M.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; St-Hilaire, G.; Stekhanov, r V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Wager, T.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
Report
Li, Z.; Cen, W. R.; Robinson, A.; Moore, D. C.; Wen, L. J.; Odian, A.; Kharusi, S. Al; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G. F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S. J.; Croix, A. De St.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; DeVoe, R.; Di Vacri, M. L.; Dilling, J.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Licciardi, C.; Lin, Y. H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C. T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J. -F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retière, F.; Richman, M.; Rossignol, T.; Rowson, P. C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A. K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X. L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T. I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J. -L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wu, S. X.; Wu, W. H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y. -R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.
JINST 14 (2019) no.09, P09020
Academic Journal
Nemer, G.; Rabiller Blandin, P.; Vorobiev, E.; Guénin, E.; Koubaa, M.; Louka, N.; Maroun, R.G.; Rossignol, T.; Nicaud, J.-M.
In: Molecules . (Molecules, June 2023, 28(11))
Academic Journal
Carrier, S.; Labrecque-Dias, M.; Gendron, P.; Nolet, F.; Roy, N.; Rossignol, T.; Vachon, F.; Parent, S.; Charlebois, S.; Pratte, J.-F.; Tannous, R.; Jennewein, T.
In: Sensors . (Sensors, April 2023, 23(7))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Rossignol, T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어