학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 2,905건 | 목록
1~20
Academic Journal
Sánchez García, E.; Ackermann, N.; Armbruster, S.; Bonet, H.; Buck, C.; Fülber, K.; Hakenmüller, J.; Hempfling, J.; Heusser, G.; Hohmann, E.; Lindner, M.; Maneschg, W.; Ni, K.; Rank, M.; Rink, T.; Stalder, I.; Strecker, H.; Wink, R.; Woenckhaus, J.
Academic Journal
Xiao, Y.; Deng, S.; Jiang, Z.; Qin, Y.; Zhao, Z.; Zhang, R.; Howe, J.; Lee, Y.; Duan, J.; Joshi, R.; Kampfe, T.; Luo, T.; Hou, T.; Gong, X.; Narayanan, V.; Ni, K.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 72(6):3327-3334 Jun, 2025
Academic Journal
Qin, Y.; Chakraborty, S.; Zhao, Z.; Ma, S.; Jung, M.; Kim, K.; Lim, S.; Seo, K.; Kim, W.; Ha, D.; Gong, X.; Narayanan, V.; Kulkarni, J.P.; Ni, K.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 72(5):2708-2715 May, 2025
Academic Journal
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 44(5):1869-1873 May, 2025
Academic Journal
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 44(5):1760-1773 May, 2025
Academic Journal
Yin, X.; Huang, Q.; Errahmouni Barkam, H.; Muller, F.; Deng, S.; Vardar, A.; De, S.; Jiang, Z.; Imani, M.; Schlichtmann, U.; Sharon Hu, X.; Zhuo, C.; Kampfe, T.; Ni, K.
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 44(5):1856-1868 May, 2025
Academic Journal
Zhang, D.; Feng, Y.; Zheng, Z.; Sun, C.; Kong, Q.; Chen, Y.; Wang, X.; Kang, Y.; Han, K.; Liu, G.; Zhou, Z.; Zhang, Z.; Liang, G.; Ni, K.; Wu, J.; Chen, J.; Gong, X.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 72(4):1788-1794 Apr, 2025
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Martin, D. Antón; Armbruster, S. R.; Arneodo, F.; Baudis, L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Boese, K.; Brown, A.; Bruno, G.; Budnik, R.; Cai, C.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Chávez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; Curceanu, C.; D'Andrea, V.; Garcia, L. C. Daniel; Decowski, M. P.; Deisting, A.; Di Donato, C.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Eitel, K.; Morabit, S. el; Elykov, A.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flehmke, T.; Flierman, M.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Gao, F.; Ghosh, S.; Giacomobono, R.; Girard, F.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guida, M.; Gyorgy, P.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Kaminaga, Y.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kharbanda, P.; Kobayashi, M.; Koke, D.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Liang, Z.; Lin, Y. -T.; Lindemann, S.; Liu, K.; Liu, M.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Lucchetti, G. M.; Luce, T.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manti, S.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Mastroianni, S.; Melchiorre, A.; Merz, J.; Messina, M.; Michael, A.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Pan, Y.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Piscicchia, K.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Principe, L.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rajado, M.; Ravindran, A.; Razeto, A.; Redard-Jacot, L.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shi, J.; Silva, M.; Simgen, H.; Stevens, A.; Szyszka, C.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tan, P. -L.; Thers, D.; Trinchero, G.; Tunnell, C. D.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Vecchi, S.; Vetter, S.; Solar, F. I. Villazon; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.
Report
nEXO Collaboration; Anker, A.; Breur, P. A.; Mong, B.; Acharya, P.; Amy, A.; Angelico, E.; Arnquist, I. J.; Atencio, A.; Bane, J.; Belov, V.; Bernard, E. P.; Bhatta, T.; Bolotnikov, A.; Breslin, J.; Brodsky, J. P.; Bron, S.; Brown, E.; Brunner, T.; Burnell, B.; Caden, E.; Cao, L. Q.; Cao, G. F.; Cesmecioglu, D.; Chernyak, D.; Chiu, M.; Collister, R.; Daniels, T.; Darroch, L.; DeVoe, R.; di Vacri, M. L.; Ding, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Dragone, A.; Eckert, B.; Elbeltagi, M.; Emara, A.; Fairbank, W.; Fatemighomi, N.; Foust, B.; Fu, Y. S.; Gallacher, D.; Gallice, N.; Giacomini, G.; Gillis, W.; Gorham, A.; Gornea, R.; Gratta, G.; Guan, Y. D.; Hardy, C. A.; Hedges, S.; Heffner, M.; Hein, E.; Holt, J. D.; Iverson, A.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Keblbeck, D.; Kotov, I.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Larson, A.; Latif, M. B.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Lennarz, A.; Leonard, D. S.; Leung, K.; Lewis, H.; Li, G.; Li, X.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lindsay, R.; MacLellan, R.; Majidi, S.; Malbrunot, C.; Marquis, M.; Masbou, J.; Medina-Peregrina, M.; Mngonyama, S.; Moore, D. C.; Ngwadla, X. E.; Ni, K.; Nolan, A.; Nowicki, S. C.; Ondze, J. C. Nzobadila; Odian, A.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Overman, C. T.; Pagani, L.; Smalley, H. Peltz; Perna, A.; Piepke, A.; Pocar, A.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rai, R.; Rasiwala, H.; Ray, D.; Rescia, S.; Retiére, F.; Richardson, G.; Rocco, N.; Ross, R.; Rowson, P. C.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Sekula, S.; Shetty, T.; Si, L.; Spadoni, F.; Stekhanov, V.; Sun, X. L.; Thibado, S.; Totev, T.; Triambak, S.; Tsang, R. H. M.; Tyuka, O. A.; van Bruggen, E.; Vidal, M.; Viel, S.; Walent, M.; Wang, H.; Wang, Q. D.; Wang, Y. G.; Watts, M.; Wehrfritz, M.; Wei, W.; Wen, L. J.; Wichoski, U.; Wilde, S.; Worcester, M.; Wu, X. M.; Xu, H.; Yang, H. B.; Yang, L.; Yu, M.; Zeldovich, O.; Zhao, J.
Academic Journal
Tsang, R.H.M.; Piepke, A.; Al Kharusi, S.; Angelico, E.; Arnquist, I.J.; Atencio, A.; Badhrees, I.; Bane, J.; Belov, V.; Bernard, E.P.; Bhat, A.; Bhatta, T.; Bolotnikov, A.; Breur, P.A.; Brodsky, J.P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G.F.; Cao, L.Q.; Cesmecioglu, D.; Chambers, C.; Chambers, E.; Chana, B.; Charlebois, S.A.; Chernyak, D.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Cohen, J.R.; Collister, R.; Cvitan, M.; Dalmasson, J.; Darroch, L.; Deslandes, K.; DeVoe, R.; di Vacri, M.L.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Echevers, J.; Eckert, B.; Elbeltagi, M.; Elmansali, R.; Fabris, L.; Fairbank, W.; Farine, J.; Fu, Y.S.; Gallacher, D.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Gillis, W.; Gingras, C.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Guan, Y.D.; Hardy, C.A.; Hedges, S.; Heffner, M.; Hein, E.; Holt, J.; Hoppe, E.W.; House, A.; Hunt, W.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Kotov, I.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Larson, A.; Leach, K.G.; Lenardo, B.G.; Leonard, D.S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lindsay, R.; MacLellan, R.; Mahtab, M.; Majidi, S.; Malbrunot, C.; Martel-Dion, P.; Masbou, J.; Massacret, N.; McMichael, K.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Nattress, J.; Natzke, C.R.; Ngwadla, X.E.; Ni, K.; Nolan, A.; Nowicki, S.C.; Nzobadila Ondze, J.C.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Peltz-Smalley, H.; Perna, A.; Pinto Franco, T.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rasiwala, H.; Ray, D.; Rebeiro, B.M.; Rescia, S.; Retière, F.; Richardson, G.; Ringuette, J.; Riot, V.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Rudolph, L.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schwartz, S.; Soderstrom, J.; Soma, A.K.; Spadoni, F.; Stekhanov, V.; Sun, X.L.; Teimoori Barakoohi, E.; Thibado, S.; Tidball, A.; Totev, T.; Triambak, S.; Tsang, T.; Tyuka, O.A.; Underwood, R.; van Bruggen, E.; Veeraraghavan, V.; Vidal, M.; Viel, S.; Walent, M.; Wamba, K.; Wang, Q.D.; Wang, W.; Wang, Y.G.; Watts, M.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wichoski, U.; Wilde, S.; Worcester, M.; Wu, S.; Wu, X.M.; Yang, H.; Yang, L.; Yvaine, M.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Ziegler, T.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A October 2023 1055
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Martin, D. Antón; Armbruster, S. R.; Arneodo, F.; Baudis, L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Boese, K.; Brown, A.; Bruno, G.; Budnik, R.; Cai, C.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Chávez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; D'Andrea, V.; Garcia, L. C. Daniel; Decowski, M. P.; Deisting, A.; Di Donato, C.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Eitel, K.; Morabit, S. el; Elykov, A.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flehmke, T.; Flierman, M.; Fuchs, D.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Gao, F.; Ghosh, S.; Giacomobono, R.; Girard, F.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guida, M.; Gyorgy, P.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Kaminaga, Y.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kharbanda, P.; Kobayashi, M.; Koke, D.; Kooshkjalali, K.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Liang, Z.; Lin, Y. -T.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Liu, M.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Lucchetti, G. M.; Luce, T.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Mastroianni, S.; Melchiorre, A.; Merz, J.; Messina, M.; Michael, A.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Pan, Y.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Principe, L.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rajado, M.; Ravindran, A.; Razeto, A.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shi, J.; Silva, M.; Simgen, H.; Stevens, A.; Szyszka, C.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tan, P. -L.; Thers, D.; Trinchero, G.; Tunnell, C. D.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Vecchi, S.; Vetter, S.; Solar, F. I. Villazon; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, J.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhao, Y.; Zhong, M.
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Martin, D. Antón; Arneodo, F.; Baudis, L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Boese, K.; Brown, A.; Bruno, G.; Budnik, R.; Cai, C.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Chávez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; D'Andrea, V.; Garcia, L. C. Daniel; Decowski, M. P.; Deisting, A.; Di Donato, C.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Eitel, K.; Morabit, S. el; Elykov, A.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flehmke, T.; Flierman, M.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Ghosh, S.; Giacomobono, R.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guida, M.; Gyorgy, P.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Kaminaga, Y.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kharbanda, P.; Kobayashi, M.; Koke, D.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Liang, Z.; Lin, Y. -T.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Liu, M.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Luce, T.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Melchiorre, A.; Merz, J.; Messina, M.; Michael, A.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Pan, Y.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Principe, L.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rajado, M.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shi, J.; Silva, M.; Simgen, H.; Szyszka, C.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tan, P. -L.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C. D.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Vecchi, S.; Vetter, S.; Solar, F. I. Villazon; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Ni, K.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어